通讯模块测试装置的制作方法

本发明属于通信领域，尤其涉及一种通讯模块测试装置。

背景技术：

现有的通讯模块测试方案是将被测试的通讯模块连接到不同功能的测试装置上，通常一个测试装置上只有一种外设连接，因此，对于同一种功能接口只能和一种外设固定连接，无法和其它外设连接，若要与不同的外设连接，只能更换测试装置。这种功能单一、与外设连接固定的测试装置，无法满足测试时快速切换不同外设的需要。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中现有的模块测试装置只能允许功能接口和一种外设固定连接而无法满足测试时快速切换不同外设的需要的缺陷，提供一种通讯模块测试装置。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的：

一种通讯模块测试装置，包括：

开关电路，用于与通讯模块的功能接口连接并将所述功能接口转换为至少两路输出，每路输出分别对应不同的功能模块或接口；

与所述开关电路的切换控制端连接的控制开关，用于向所述切换控制端输出控制信号，所述控制信号用于控制所述开关电路从所述至少两路输出中选择一路输出与对应的功能模块或接口连接；

电源输入接口，用于接入电源；

与所述电源输入接口及所述功能模块或接口连接的电压转换电路，用于将所述电源转换为所述通讯模块或所述功能模块所需的电压后为所述通讯模块或所述功能模块供电。

较佳地，所述控制开关包括拨动开关。

较佳地，同一个控制开关连接两个或两个以上开关电路的切换控制端，所述控制开关用于向连接的所有开关电路的切换控制端同步输出所述控制信号。

较佳地，两个或两个以上控制开关连接同一个开关电路的切换控制端，所有控制开关输出的控制信号组成组合控制信号，所述组合控制信号用于控制共同连接的开关电路从所述至少两路输出中选择一路输出与对应的功能模块或接口连接。

较佳地，所述功能接口包括sdio(安全数字输入输出卡)接口，所述开关电路包括第一开关电路，所述第一开关电路用于与所述sdio接口连接并将所述sdio接口转换为两路输出，每路输出分别对应sd(安全数字)卡功能测试模块和emmc(mmc协会所订立的、主要是针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格)功能测试模块。

较佳地，所述功能接口包括usb2.0接口和usb3.0接口；

所述开关电路包括第二开关电路和第三开关电路；

所述第二开关电路用于与所述usb2.0接口连接并将所述usb2.0接口转换为两路输出，每路输出分别对应pc(个人计算机)端接口和ap(无线接入点)处理器端接口；

所述第三开关电路用于与所述usb3.0接口连接并将所述usb3.0接口转换为两路输出，每路输出分别对应pc端接口和ap处理器端接口；

同一个控制开关连接所述第二开关电路的切换控制端和所述第三开关电路的切换控制端。

较佳地，所述功能接口包括pcie(一种高速串行计算机扩展总线标准)接口；

所述开关电路包括第四开关电路；

所述第四开关电路用于与pcie接口连接并将所述pcie接口转换为三路输出，每路输出分别对应ap处理器端接口、wifi接口和pc端接口；

两个控制开关连接所述第四开关电路的切换控制端，所述两个控制开关输出的控制信号组成两位的二进制组合控制信号。

较佳地，所述通讯模块测试装置还包括：毫米波天线模块，用于从所述通讯模块接入射频天线控制信号；

与所述毫米波天线模块相邻设置的毫米波电源；

与所述毫米波电源相邻设置的散热装置。

较佳地，所述开关电路、所述控制开关、所述电源输入接口和所述电压转换电路设置于evb(评估板)上，所述evb上还焊接有贴片螺柱，通过所述贴片螺柱固定evb以及与所述evb连接的通讯模块。

较佳地，所述通讯模块上设有第一射频座，所述evb上还有第二射频座，所述第一射频座与所述第二射频座通过射频同轴线连接。

在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本发明各较佳实例。

本发明的积极进步效果在于：本发明通过开关电路和控制开关的配合，实现功能接口与不同功能模块或接口的自由切换，满足不同的测试需求。

附图说明

图1为本发明实施例1的一种通讯模块测试装置的示意框图；

图2为本发明实施例1功能接口为sdio接口时通讯模块测试装置的部分示意框图；

图3为本发明实施例1功能接口为usb2.0接口和usb3.0接口时通讯模块测试装置的部分示意框图；

图4为本发明实施例1功能接口为pcie接口时通讯模块测试装置的部分示意框图。

具体实施方式

下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。

实施例1

本实施例提供一种通讯模块测试装置。如图1所示，通讯模块测试装置包括：开关电路11、控制开关12、电源输入接口13和电压转换电路14。

开关电路11用于与通讯模块的功能接口01连接并将功能接口01转换为至少两路输出，每路输出分别对应不同的功能模块或接口15。控制开关12与开关电路11的切换控制端连接，控制开关12用于向切换控制端输出控制信号，控制信号用于控制开关电路11从所述至少两路输出中选择一路输出与对应的功能模块或接口15连接。电源输入接口13用于接入电源。电压转换电路14与电源输入接口13及功能模块或接口15连接，电压转换电路14用于将电源转换为通讯模块01或功能模块15所需的电压后为通讯模块01或功能模块15供电。

本实施例中，通讯模块可以为5g通讯模块，功能接口可能是通讯模块的任一或多种功能接口，整个通讯模块测试装置包括的开关电路11、控制开关12都可以不止一个，通过控制开关12对开关电路11的控制实现功能接口01与不同功能模块或接口15之间的切换。一个控制开关11可控制一个开关电路12，用以实现一个功能接口01与不同功能模块或接口15的切换连接；一个控制开关11还可同步控制多个开关电路12，用以同步实现多个功能接口01与对应功能模块或接口15的切换连接；多个控制开关12还可共同控制一个开关电路11，用以实现一个功能接口01与多个功能模块或接口15的切换连接。本文所述的连接均包括电导通。

针对一个控制开关12控制一个开关电路11的情况，一个控制开关12连接一个开关电路11的切换控制端，该控制开关12向连接的该个开关电路11输出控制信号：

如图2所示，以功能接口为sdio接口011为例，与sdio接口011连接的开关电路为第一开关电路111，与第一开关电路111的切换控制端连接的控制开关为第一控制开关121(图中省略了电源输入接口13和电压转换电路14)。第一开关电路111用于将sdio接口011转换为两路输出，每路输出分别对应sd卡功能测试模块151和emmc功能测试模块152。sd卡功能测试模块151包括测试sd卡功能的相关电路，emmc功能测试模块152包括测试emmc功能的相关电路，模块内的具体电路可采用现有技术实现，在此不做说明。第一控制开关121向第一开关电路111的切换控制端输出第一控制信号。以第一控制开关121为第一拨动开关为例，测试人员可根据测试需求拨动第一拨动开关，第一拨动开关根据拨动位置输出高电平或低电平。假设：高电平代表sd卡功能测试模块151而低电平代表emmc功能测试模块152，那么：在第一控制信号为高电平时第一开关电路111将sdio接口011的一路输出与sd卡功能测试模块151连接；在第一控制信号为低电平时第一开关电路111将sdio接口011的另一路输出与emmc功能测试模块152连接。

上述情况较为适用于功能接口对应的功能模块或接口数量较少的情况，通过一个拨动开关实现两种切换电路。

针对一个控制开关12控制两个或两个以上开关电路11的情况，同一个控制开关12连接两个或两个以上开关电路11的切换控制端，该控制开关12向连接的所有开关电路11的切换控制端同步输出控制信号：

如图3所示，以要切换的两个功能接口为usb2.0接口012和usb3.0接口013为例，与usb2.0接口012连接的开关电路为第二开关电路112，第二开关电路112可以使用ts3usb221芯片实现，与usb3.0接口013连接的开关电路为第三开关电路113，第三开关电路113可以使用hd3ss32芯片实现，与第二开关电路112的切换控制端和第三开关电路113的切换控制端均连接的第二控制开关122。第二开关电路112用于将usb2.0接口012转换为两路输出，每路输出分别对应pc端接口153和ap处理器端接口154。所述第三开关电路113用于将usb3.0接口013转换为两路输出，每路输出分别对应pc端接口153和ap处理器端接口154。第二控制开关122同步向第二开关电路112的切换控制端和第三开关电路113的切换控制端输出第二控制信号。以第二控制开关122为第二拨动开关为例，测试人员可根据测试需求拨动第二拨动开关，第二拨动开关根据拨动位置输出高电平或低电平。假设：高电平代表pc端接口153而低电平代表ap处理器端接口154，那么：在第二控制信号为高电平时，第二开关电路112将usb2.0接口012的一路输出与pc端接口153连接，第三开关电路113将usb3.0接口013的一路输出与pc端接口153连接；在第二控制信号为低电平时，第二开关电路112将usb2.0接口012的另一路输出与ap处理器端154接口连接，第三开关电路113将usb3.0接口013的另一路输出与ap处理器端154接口连接。

上述情况较为适用于功能接口种类较多且不同功能接口在测试时有一定相关性的情况，通过一个拨动开关实现多个功能接口，每个功能接口的两种切换电路，有利于简化装置的整体结构，降低硬件成本。

针对多个控制开关12共同控制一个开关电路11的情况，两个或两个以上控制开关12连接同一个开关电路11的切换控制端，所有控制开关12输出的控制信号组成组合控制信号，组合控制信号用于控制共同连接的开关电路11从至少两路输出中选择一路输出与对应的功能模块或接口15连接：

如图4所示，以功能接口为pcie接口014为例，与pcie接口014连接的开关电路为第四开关电路114，第四开关电路114可以使用pi3pc1e3413芯片实现，与第四开关电路114的切换控制端连接的控制开关为两个，分别为第三控制开关123和第四控制开关124。第四开关电路114用于将pcie接口014转换为三路输出，每路输出分别对应ap处理器端接口154、wifi接口155和pc端接口153。第三控制开关123的第三控制信号和第四控制开关124输出的第四控制信号组成两位的二进制组合控制信号。以第三控制开关123为第三拨动开关、第四控制开关124为第四拨动开关为例，测试人员可根据测试需求拨动第三拨动开关和第四拨动开关，第三拨动开关和第四拨动开关根据拨动位置输出高电平或低电平。假设：第三控制信号为低电平且第四控制信号为高电平代表ap处理器端接口154，第三控制信号为高电平且第四控制信号为低电平代表pc端接口153，第三控制信号为高电平且第四控制信号为高电平代表wifi接口155，那么：在第三控制信号为低电平且第四控制信号为高电平时，第四开关电路114将pcie接口014的第一路输出与ap处理器端接口154连接；在第三控制信号为高电平且第四控制信号为低电平时，第四开关电路114将pcie接口014的第二路输出与pc端接口153连接；在第三控制信号为高电平且第四控制信号为高电平时，第四开关电路114将pcie接口014的第三路输出与wifi接口155连接。

上述情况较为适用于功能接口对应的功能模块或接口数量较多的情况，通过多个拨动开关实现两种以上切换电路。

本实施例中，为了丰富测试功能，通讯模块测试装置还可以包括：毫米波天线模块，用于从通讯模块接入射频天线控制信号；与毫米波天线模块相邻设置的毫米波电源；与毫米波电源相邻设置的散热装置。

本实施例中，为了方便移动和使用，开关电路11、控制开关12、电源输入接口13和电压转换电路14设置于evb上，考虑到现有的测试装置只在测试时将通讯模块01与evb上的各部分连接而没有将其与evb固定，容易造成连接松动，从而影响测试结果，本实施例在evb上还焊接有贴片螺柱，通过贴片螺柱固定evb以及与evb连接的通讯模块01，一方面能够完全固定evb和通讯模块01，另一方面还能有效防止通讯模块01翘曲。

本实施例中，所述通讯模块上设有第一射频座，所述evb上还有第二射频座，第一射频座与第二射频座通过射频同轴线连接。通过射频同轴线的连接可以让射频阻抗匹配良好，第一射频座和第二射频座的数量均可为多个，通过不同射频座之间的连接，方便测试不同位置的射频性能。例如不同功能的天线，主天线，分集天线，gps天线可以连接到不同的射频座上，方便调试，减少射频座数量。

本实施例中，电源输入接口可使用12v电源供电，然后经过电压转换电路转换成上述的功能模块所需要的电压值，通讯模块需要使用5v和3.8v电源，ap处理器需要使用4.2v，wifi、emmc、sd卡需要使用3.3v和1.8v电源。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。