一种误码测试方法、装置，存储介质及电子装置与流程

1.本发明涉及通信领域，具体而言，涉及一种光电器件的误码测试方法、装置，存储介质及电子装置。


背景技术：

2.光电器件评估测试中，误码仪或者任意波形发生器作为标准信号源是作为激励源的必选项。在器件级系统集成后，在光模块级别要做业务层级的系统传输性能分析，要用到业务表作为一致性测试中业务分析的评判依据。业务表在802.3协议以太网业务和itu-t帧结构分析中，误码测试是核心的一项测试，这是系统集成后性能验证的最终目的。
3.随着50g 4电平幅度调制(4pulse amplitude modulation，简称为pam4)、12.5g pam4和56gpam4等业务类型被市场选择，进入实际应用阶段，链路纠前误码大于1.0e-8是常态化场景，kr4(reed-solomon codes，rs(528,514)，即里所码(528,514))和kp4(reed-solomon codes，rs(544,514)，即里所码(544,514))等前向纠错码(forward error correction，简称为fec)的纠错能力分析是业务表的主要功能。
4.业务表中对业务纠错能力的分析基础是fec纠错算法，一般以误码率来量化fec纠错能力，误码率指的是接收的错误bit数/接收的总bit数的比值。实际应用中，误码率分布分析配合误码率绝对值分析才是链路误码性能的完整描述。
5.业务表的误码分析的核心就是在完整帧结构下，借助fec实际纠错算法判定实际业务在链路上的传输性能，即纠错能力。但验证光电器件特性时需同时使用误码仪和业务表进行测试，以验证链路的fec纠错能力，使得仪表资源投入大，处理复杂，测试周期长。


技术实现要素：

6.本发明实施例提供了一种在误码仪中模拟实现业务处理功能的方法及装置，以至少解决相关技术中验证光电器件特性时需同时使用误码仪和业务表进行测试，使得仪表资源投入大，处理复杂，测试周期长的问题。
7.根据本发明的一个实施例，提供了一种误码测试方法，包括：
8.根据所述光电器件工作的业务类型，生成模拟码流，其中，所述模拟码流中的有效载荷中的数据用伪随机二进制序列(pseudo-random binary sequence，简称为prbs)码流填充，所述模拟码流中其他位置用所述业务类型对应的特征比特位填充；
9.对所述模拟码流进行误码检测获得误码信息。
10.根据本发明的另一个实施例，提供了一种误码测试装置，包括：
11.码流生成模块，用于根据所述光电器件工作的业务类型，生成模拟码流，其中，所述模拟码流中的有效载荷中的数据用prbs码流填充，所述模拟码流中其他位置用所述业务类型对应的特征比特位填充，也包括码流测试模块，用于检测所述模拟码流的误码信息。
12.本发明的实施例还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质包括存储的误码检测程序，其中，上述误码检测程序运行时执行上述任一项所述的方法。
13.本发明的实施例还提供一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，存储器中存储有误码检测计算机程序，处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法中的步骤。
14.通过本发明，由于在可编辑码流过程中，应用prbs bit间插的方法模拟实际业务，利用fec原理，直接检测误码分布，而不需要fec编解码的方法，误码仪不限于仪表仪器，对于通过核心器件搭建的离散系统本发明同样适用，解决了验证光电器件特性时需同时使用误码仪和业务表进行测试，使得仪表资源投入大，处理复杂，测试周期长，提高了误码检测的效率，减小了检测成本。
附图说明
15.此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
16.图1是根据本发明实施例的误码检测方法的流程图；
17.图2是根据本发明实施例一的误码检测方法的流程图；
18.图3是根据本发明实施例的模拟码流结构图；
19.图4是根据本发明实施例的50ge业务帧结构示意图；
20.图5是根据本发明实施例的误码检测装置的结构示意图；
21.图6是根据本发明实施例的电子装置的硬件结构框图。
具体实施方式
22.下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
23.需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
24.实施例1
25.本申请实施例一所提供的方法实施例可以在移动终端、计算机终端或者类似的运算装置中执行。
26.在本实施例中提供了一种应用于误码检测器件的方法，用于误码检测器件，误码检测器件可以是误码仪。图1是根据本发明实施例的误码检测方法的流程图，如图1所示，该流程包括如下步骤：
27.步骤s101，根据所述光电器件工作的业务类型，生成模拟码流，其中，模拟码流中的有效载荷中的数据用prbs码流填充，模拟码流中其他位置用所述业务类型对应的特征比特位填充；
28.具体的，本步骤包括根据待测试光电器件的带宽参数设置误码仪码流速率。根据光电器件的带宽特性，选择合适的伪随机二进制序列(pseudo-random binary sequence，简称为prbs)码流速率对应，保证业务链路可以正常工作，将能够保证业务链路正常工作的prbs码流速率设置误码仪码流速率，此为使用误码仪模拟实际业务的第一步。
29.模拟码流如图3所示，在row1中，从左向右发数据码流，其中第2～64位是确定的bit位，不能更改。将有效载荷(payload)部分数据用prbs码流填充。
30.prbs码流序列是(0，1)之间的伪随机二进制序列。其基本生成与原理如下：
31.function[bits]＝(numbits)——是要产生的比特数；bits是二进制序列
[0032]
bits＝randn(1,numbits)<0.5；
[0033]
prbs码的用途在高速设计中为了测试高速串行通道传输的误码率，通常通过发送prbs码来进行测试。
[0034]
串行总线的物理层测试通常分为发射机测试和接收机测试，又称为tx测试和rx测试。发射机测试通常包括眼图、抖动、信号波形、幅度、上升下降时间等测试项目，接收机测试通常包括误码率、抖动容限、接收机灵敏度等测试项目。对于眼图测试、误码率和抖动容限测试，最常用的测试码是prbs，主要有prbs7、prbs15、prbs23和prbs31。
[0035]
光电器件工作的业务类型包括以下业务类型的一种或多种：50g pam4、12.5g pam4和56gpam4。
[0036]
以50g pam4类型为例，ieee802.3对50ge业务帧结构的定义为例，帧结构各部分分解如图4所示。
[0037]
50ge业务帧结构包括帧头等结构，其中帧头占7个字节、起始帧分界符占1个字节、单个/群组地址位、全局/局部执行位、目标地址共占6个字节，源地址占6个字节，长度/类型指示位占2个字节，数据/逻辑链路控制协议结构占46～1500个字节、帧校验序列(fcs，frame check sequence)占4个字节。
[0038]
所应用业务帧结构根据协议做固定bit间插，模拟真实业务的帧长度，如图4的净荷填充结构。
[0039]
步骤102，检测所述模拟码流的误码信息。
[0040]
具体的，码型设计完毕后，虽然这种模拟业务无fec处理功能，但误码仪可以所编辑的帧结构做传输后的bit级误码特性分析，得到模拟码流的误码信息。
[0041]
将待测光电器件连接到物理业务链路中，将业务链路打通，此时业务链路的误码特性与dut直接相关，这样可以对dut在特定业务链路中对特定业务的性能做出评估；
[0042]
误码信息包括误码bit位信息、误码发生数量信息、误码位置信息等。
[0043]
得到误码bit位信息后，分析统计的误码分布，确认误码在整个数据流中的分布，包括误码发生数量和误码产生的位置。每个bit的误码都可以看到。对这些误码bit做分析，容易准确得知每个码字(codeword)的误码数。这些误码数，就可以完整的展示误码分布。
[0044]
根据误码信息，可以确认误码产生是随机错误码还是突发错误码。
[0045]
优选的，如图2所示，该方法还包括以下步骤：
[0046]
s103根据所述误码信息修正所述光电器件所在链路参数信息后，检测所述模拟码流误码信息。
[0047]
具体的，以kp4fec为例，每16个连续bit误码即等效于不可纠错，这种块状误码仅用误码率不可准确描述，需做硬件调试消除块状误码。通过修正链路参数，优化误码率，以kp4为例，当每个码字的误码小于15个bit，即可以实现链路传输纠后无误码。而且这种误码分布到bit级的特点，可以为误码仪对链路损伤的评价拉通到实际业务层级，扩展了误码仪的业务流分析功能。已误码分布为核心的分析方法也是器件和系统集成级别性能分析的关键，扩展的误码仪功能会直接在器件验证和集成组件验证提供业务流级的验证。这和fec纠错机制是一致的。
[0048]
通过上述步骤，在可编辑码流过程中，应用prbs bit间插的方法模拟实际业务，利用fec原理，直接检测误码分布，而不需要fec编解码的方法，误码仪不限于仪表仪器，对于通过核心器件搭建的离散系统本发明同样适用，解决了验证光电器件特性时需同时使用误码仪和业务表进行测试，使得仪表资源投入大，处理复杂，测试周期长，提高了误码检测的效率，减小了检测成本。
[0049]
可选地，上述步骤的执行主体可以为误码检测装置，包括误码仪等，但不限于此。
[0050]
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
[0051]
实施例2
[0052]
在本实施例中还提供了一种误码检测装置装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
[0053]
图5是根据本发明实施例的误码检测装置装置的结构框图，如图5所示，该装置包括码流生成模块，用于根据所述光电器件工作的业务类型，生成模拟码流，其中，所述模拟码流中的有效载荷中的数据用prbs码流填充，所述模拟码流中其他位置用所述业务类型对应的特征比特位填充；
[0054]
码流测试模块，用于检测所述模拟码流的误码信息。
[0055]
该装置除包括图5所示的所有模块外，还包括速率设置模块，用于根据所述光电器件的带宽参数设置所述模拟码流的码流速率，保证业务链路可以正常工作。
[0056]
优选的，该装置还包括误码分析模块，用于根据误码信息确认确认误码类型。
[0057]
优选的，该装置还包括修正模块，用于根据误码信息修正所述光电器件所在链路参数信息后，检测所述模拟码流误码信息。
[0058]
当所述误码信息不满足设定条件时，重复修正链路参数信息步骤，继续检测模拟码流的误码信息，直至误码信息满足设定条件。
[0059]
需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，对于后者，可以通过以下方式实现，但不限于此：上述模块均位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。
[0060]
本发明的实施例还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质包括存储的误码检测程序，其中，上述误码检测程序运行时执行上述任一项所述的方法。
[0061]
可选地，在本实施例中，上述存储介质可以被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：
[0062]
可选地，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：u盘、只读存储器(read-only memory，简称为rom)、随机存取存储器(random access memory，简称为ram)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0063]
本发明的实施例还提供一种电子装置，包括存储器和处理器，，其特征在于，所述所述存储器中存储有误码检测计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法中的步骤。本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。
[0064]
图6是本发明实施例的一种误码测试方法的电子装置的硬件结构框图。如图6所示，误码测试电子装置10可以包括一个或多个(图中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器mcu或可编程逻辑器件fpga等的处理装置)、用于存储数据的存储器104。本领域普通技术人员可以理解，图6所示的结构仅为示意，其并不对上述电子装置的结构造成限定。例如，误码测试电子装置10还可包括比图6中所示更多或者更少的组件，或者具有与图6所示不同的配置。
[0065]
存储器104可用于存储应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的误码方法对应的程序指令/模块，处理器102通过运行存储在存储器104内的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至误码测试电子装置10。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
[0066]
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
[0067]
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。