照相机模块的制作方法

文档序号:20869334发布日期:2020-05-22 22:11阅读:171来源:国知局
照相机模块的制作方法

本实用新型涉及一种照相机模块。



背景技术:

近年,存在许多搭载具有ccd、cmos等固体摄像元件的手机照相机的移动电话等终端,在应用于手机照相机的光学系统中,要求能够瞬间进行高精度的位置检测的位置检测机构。为了对应像这样的要求,已知下面一种位置检测装置:在与磁体的移动方向平行的方向上排列配置两个磁传感器,由此检测磁体的位置(例如参照专利文献1)。

另外,已知以下一种技术:通过将磁体、线圈以及磁传感器接近配置,共用位置检测用磁体和致动器用磁体,基于磁体和磁传感器的位置检测结果,使用线圈来使磁体的位置移动(例如参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本实用新型注册第3189365号

专利文献2:日本特开2010-15107号公报



技术实现要素:

实用新型要解决的问题

然而,例如在专利文献2示出的线圈和磁传感器的配置中,存在磁传感器检测出由电流流过线圈而产生的磁场的情况。由于流过线圈的电流而产生的磁场有时在检测磁体的位置的位置检测装置中成为噪声,导致磁传感器无法检测出磁体的正确位置。

因此,本实用新型是鉴于像这样的情形而完成的,其目的在于提供一种磁传感器能够以高检测精度来检测磁体的位置的照相机模块。

用于解决问题的方案

为了达到所述目的,本实用新型的一个方式涉及一种照相机模块,其特征在于,具备:透镜;磁体,其安装于具有所述透镜的移动体,至少在一个方向极化;线圈,其与所述磁体相对地配置,能够使所述磁体沿所述一个方向移动;以及磁传感器,其具有两个磁电转换元件,在与所述一个方向交叉的朝向上具有所述磁电转换元件的磁敏轴。

在上述的照相机模块中,也可以是,还具备位置检测输出部,该位置检测输出部与所述磁传感器连接,检测并输出表示所述磁体的位置的位置检测信号。

在上述的照相机模块中,也可以是,所述磁传感器配置为磁敏轴与所述一个方向垂直。

在上述的照相机模块中,也可以是,所述磁传感器配置于所述磁体的下部区域。

在上述的照相机模块中,也可以是,所述照相机模块还具备驱动部,该驱动部向线圈输出驱动信号来使所述线圈产生磁场,由此使安装有所述磁体的移动体沿所述一个方向移动。

在上述的照相机模块中,也可以是,所述照相机模块还具备对所述磁传感器输出的磁场检测信号进行ad变换的ad变换部。

在上述的照相机模块中,也可以是,所述磁传感器具有第一磁电转换元件和第二磁电转换元件作为所述两个磁电转换元件,所述位置检测输出部具备:第一放大部,其与所述第一磁电转换元件相连接;第二放大部,其与所述第二磁电转换元件相连接;以及检测输出部,其与所述第一放大部和所述第二放大部连接,检测并输出所述位置检测信号。

实用新型的效果

根据本实用新型的一个方式,能够以高检测精度来检测磁体的位置。

附图说明

图1a和图1b是示意性地示出本实用新型的第一实施方式所涉及的照相机模块的一个结构例的外观立体图和俯视图。

图2是表示本实用新型的第一实施方式所涉及的照相机模块的磁体、线圈以及磁传感器的配置的截面示意图。

图3a是表示磁体距基准位置的距离与向两个磁传感器施加的磁通的关系的曲线图,图3b是表示磁体距基准位置的距离与向两个磁传感器施加的磁通的和磁通、差磁通的关系的曲线图。

图4是用于说明本实用新型的第一实施方式所涉及的照相机模块的电路框图。

图5是用于更详细地说明本实用新型的第一实施方式所涉及的照相机模块的电路框图。

图6a和图6b是示意性地示出本实用新型的第二实施方式所涉及的照相机模块的一个结构例的外观立体图。

图7是表示本实用新型的第二实施方式所涉及的照相机模块的磁体、线圈以及磁传感器的配置的截面示意图。

图8是用于说明本实用新型的其它实施方式所涉及的照相机模块的电路框图。

图9是用于说明本实用新型的其它实施方式所涉及的照相机模块的电路框图。

图10是用于说明本实用新型的其它实施方式所涉及的照相机模块的电路框图。

附图标记说明

4:壳体;21:透镜架;22:透镜;41:架安装部;80:电源;100:照相机模块;110:设备;120:驱动器;130:位置检测部;140:控制部;150:驱动部;sx、sy:磁传感器;hex1、hex2:磁电转换元件;mx、my:磁体;cx、cy:线圈。

具体实施方式

在下面的详细说明中,记载了很多特定的具体结构,来提供对本实用新型的实施方式的透彻的理解。然而,显而易见的是不限定于像这样的特定的具体结构而能够实施其它实施方式。另外,下面的实施方式不是用于限定权利要求书所涉及的实用新型,包括在实施方式中说明的特征性结构的所有组合。

另外,以下说明中的“左右”、“上下”的方向仅是便于说明而进行的定义,并不限定本实用新型的技术思想。因此,显而易见的是例如如果将纸面旋转90度则“左右”与“上下”被交换地读取,如果将纸面旋转180度则“左”变为“右”、“右”变为“左”。

下面,参照附图来说明本实用新型的第一实施方式。在下面的附图的记载中,对相同部分附加相同的附图标记。但是,附图是示意性地的,厚度与平面尺寸的关系、各层厚度的比率等与现实情况不同。

1.第一实施方式

使用图1a至图5对本实用新型的第一实施方式所涉及的照相机模块进行说明。本实施方式的照相机模块100被设置于附带照相功能的电子设备。本实施方式中的附带照相功能的电子设备例如为智能手机等移动电话设备、数字照相机以及数字电影摄像机等。

[照相机模块的结构]

图1a是表示附带照相功能的电子设备所具备的照相机模块100的概要结构的立体图。在图1a中,为了容易理解,省略了安装有磁传感器sx、sy的壳体4的图示。在后文中详细说明磁传感器sx、sy、壳体4。另外,为了便于说明,在图1a中图示了与照相机模块100对应的xyz正交坐标系。

如图1a所示,照相机模块100具有:透镜架21,其是薄板长方形状的移动体;以及透镜22,其安装在形成于透镜架21的中央的贯通孔。另外,照相机模块100在透镜22的下部具有与电路基板电连接的cmos图像传感器等摄像元件(未图示)。

如图1b所示,透镜架21设置于附带照相功能的电子设备所具备的壳体4的架安装部41。透镜架21以相对于壳体4可移动的方式设置于架安装部41。

照相机模块100具有磁体m,其设置于透镜架21周围的至少一部分。磁体m由磁体mx和my构成。磁体mx、磁体my安装于透镜架21的侧面。磁体my配置于透镜架21的与配置有磁体mx的侧面正交的侧面。

如图1a所示,在透镜架21的基准位置(设计值)处,xyz正交坐标系的z轴方向对应于透镜22的光轴方向。另外,在透镜架21的基准位置处,xy坐标平面对应于与透镜22的光轴方向正交的平面。在本实施方式中,作为线圈cx使磁体mx移动的方向即第一方向,对应于与透镜22的光轴垂直的方向(在本实施方式中x轴方向)。另外,作为线圈cy使磁体my移动的方向即第二方向,对应于与透镜22的光轴方向和第一方向(x轴方向)垂直的y轴方向。

即,x轴方向对应于线圈cx和磁体mx排列的方向。换言之,x轴方向对应于磁体my的长边延伸的方向。从磁体mx侧(透镜22侧)朝向线圈cx侧的方向为x轴的正方向。并且,y轴方向对应于线圈cy和磁体my排列的方向。换言之,y轴方向对应于磁体mx的长边延伸的方向。从磁体my侧(透镜22侧)朝向线圈cy侧的方向为y轴的正方向。

[照相机模块的动作]

在本实施方式的照相机模块100中,通过检测安装于透镜架21的磁体mx和磁体my的位置来确定透镜22的位置。通过设置于磁体mx的侧面的磁传感器sx检测磁体mx的位置。通过设置于磁体my的侧面的磁传感器sy检测磁体my的位置。磁体mx的“侧面”表示磁体mx的外侧附近的位置,具体而言,表示相对于磁体mx位于y轴的正方向和负方向或z轴的正方向和负方向的位置。另外,还包括在x轴的正方向或负方向与磁体mx偏离的情况。在后文中对磁体mx和磁体my的详细配置位置和位置检测方法进行说明。

在本实施方式的照相机模块100中,通过对与磁体mx(my)接近配置的线圈cx(cy)分别施加驱动电流,使磁体mx(my)移动。例如通过对线圈cx施加驱动电流,使线圈cx周围产生磁场,能够根据磁场的朝向来使磁体mx向x轴的正方向或负方向移动。同样地,通过对线圈cy施加驱动电流,能够使磁体my向y轴的正方向或负方向移动。

下面,对照相机模块100的各部进行详细说明。

(磁传感器)

磁传感器sx为将x轴方向作为探测方向来探测磁体mx在x轴方向上的位置的传感器。另外,磁传感器sy为将y轴方向作为探测方向来探测磁体my在y轴方向上的位置的传感器。

如在图1a中示意性地所示那样,磁传感器sx和磁传感器sy安装于壳体4的底面。磁传感器sx(第一磁传感器的一例)与磁体mx相对配置。磁体mx沿x轴方向移动引起磁场的变化,由此磁传感器sx的输出电压发生变化。磁传感器sy(第二磁传感器的一例)与磁体my相对配置。磁体my沿y轴方向移动引起磁场的变化,由此磁传感器sy的输出电压发生变化。

如图2所示,磁传感器sx具有沿x轴方向(第一方向的一例)配置的两个磁电转换元件hex1、hex2。在磁传感器sx中,磁电转换元件hex2相对于磁电转换元件hex1配置在x轴方向的正方向。磁电转换元件hex1、hex2配置为在与磁体mx的极化方向交叉的朝向上具有磁敏轴。例如磁传感器sx配置为磁敏轴与x轴方向(通过线圈cx能够使磁体mx移动的方向)垂直。在本实施方式中,作为以在与磁体mx的极化方向交叉的朝向上具有磁电转换元件hex1、hex2的磁敏轴的方式配置磁传感器sx的例子,在第一实施方式中,为磁传感器sx被配置于磁体mx的下部区域(相对于磁体mx位于z轴方向的负方向的位置)的结构。

磁电转换元件hex1、hex2配置为在磁体mx沿x轴方向移动时,磁电转换元件hex1输出的磁场检测信号x1的变化量的符号与磁电转换元件hex2输出的磁场检测信号x2的变化量的符号为相同符号。

磁电转换元件hex1、hex2检测磁电转换元件hex1、hex2的配置位置处的磁通中的对于磁敏轴来说为水平的成分。因此,如上所述,通过配置磁传感器sx,在线圈cx周围产生的磁通难以被磁传感器sx检测到。

同样地,磁传感器sy具有沿y轴方向(第二方向的一例)配置的两个磁电转换元件hey1、hey2(未图示)。在磁传感器sy中,磁电转换元件hey2相对于磁电转换元件hey1配置在y轴方向的正方向。磁电转换元件hey1、hey2配置为在与磁体my的极化方向交叉的朝向上具有磁敏轴。例如磁传感器sy配置为磁敏轴与y轴方向(通过线圈cy能够使磁体my移动的方向)垂直。在本实施方式中,作为以在与磁体my的极化方向交叉的朝向上具有磁电转换元件hey1、hey2的磁敏轴的方式配置磁传感器sy的例子,在第一实施方式中,为磁传感器sy配置于磁体my的下部区域的结构。如上所述,通过配置磁传感器sy,在线圈cy周围产生的磁通难以被磁传感器sy检测到。

磁电转换元件hey1、hey2被配置成在磁体my沿y轴方向移动时,磁电转换元件hey1输出的磁场检测信号y1的变化量的符号与磁电转换元件hey2输出的磁场检测信号y2的变化量的符号为相同符号。

图3a是表示磁体mx的位置(磁体mx距基准位置的距离)与从磁电转换元件hex1、hex2输出的输出信号的关系的曲线图。在图3a中,在磁体mx距基准位置的距离为正的情况下,磁体mx位于比基准位置更靠x轴方向的正方向的位置。

在此,在图3a中,用虚线表示磁电转换元件hex1输出的磁场检测信号x1,用点线表示磁电转换元件hex2输出的磁场检测信号x2。在图3b中,用点线表示磁场检测信号x1与磁场检测信号x2的和信号(x1+x2),用虚线表示磁场检测信号x1与磁场检测信号x2的差信号(x1-x2)。如图3b所示,差信号(x1-x2)与磁体mx的位置无关而大致固定。另一方面,如图3b所示,和信号(x1+x2)与磁体mx的位置相应地变化。因此,通过将磁电转换元件hex1、hex2设为本实施方式的配置,能够基于和信号(x1+x2)相对于差信号(x1-x2)之比(即(x1+x2)/(x1-x2)),得到表示磁体mx的位置的位置检测信号。

此外,也能够基于相当于上述的和信号相对于差信号之比的信号来得到位置检测信号。例如也能够使用磁场检测信号x1相对于磁场检测信号x2的比信号(x1/x2),基于{(x1/x2)+1}/{(x1/x2)-1}得到表示磁体mx的位置的位置检测信号。

另外,也可以将磁体my、磁传感器sy(磁电转换元件hey1、hey2)、线圈cy设为与图2中的磁体mx、磁传感器sx(磁电转换元件hex1、hex2)、线圈cx相同的配置。在该情况下,磁电转换元件hey1的输出y1、磁电转换元件hey2的输出y2的差信号(y1-y2)与磁体my的位置无关而大致固定。另一方面,和信号(y1+y2)与磁体my的位置相应地变化。因此,通过将磁电转换元件hey1、hey2设为本实施方式的配置,基于和信号(y1+y2)相对于差信号(y1-y2)之比(即(y1+y2)/(y1-y2)),能够得到表示磁体my的位置的位置检测信号。

此外,还能够基于相当于上述的和信号相对于差信号之比的信号来得到位置检测信号。例如也能够使用磁场检测信号y1相对于磁场检测信号y2的比信号(y1/y2),基于{(y1/y2)+1}/{(y1/y2)-1}得到表示磁体my的位置的位置检测信号。

对于磁体my的位置(磁体my距基准位置的距离)与从磁电转换元件hey1、hey2输出的输出信号的关系,也得到与图3a示出的曲线图相同的关系。

磁传感器sx、sy例如能够使用将霍尔元件用作磁电转换元件hex1、hex2、hey1、hey2的霍尔传感器。另外,磁传感器sx、sy例如也可以是将磁阻效应元件(mr元件)用作磁电转换元件hex1、hex2、hey1、hey2的磁阻(mr)传感器等。

(磁体)

磁体mx、磁体my具有薄板长方体形状,形成为相互大致相等的大小。磁体mx、my为具有一个n极和一个s极的在一个方向极化的二极永久磁体。磁体mx形成为n极和s极在x轴方向(一个方向的一例)上极化。磁体my形成为n极和s极在y轴方向(一个方向的一例)上极化。磁体mx、磁体my安装于透镜架21周围的至少一部分。磁体mx通过线圈cx驱动而沿x轴方向(即极化方向)移动,透镜22与磁体mx的移动相对应地沿x轴方向移动。另外,磁体mx通过磁体my沿y轴方向移动而沿y轴方向移动。磁体my通过线圈cy驱动而沿y轴方向(即极化方向)移动,透镜22与磁体my的移动相对应地沿y轴方向动。另外,磁体my通过磁体mx沿x轴方向移动而沿x轴方向移动。

图2是表示在图1a中由ii-ii线示出的截面的截面图。如图2所示,磁体mx为n极和s极在与磁传感器sx内两个磁电转换元件hex1、hex2排列配置的方向平行的方向上分布的二极磁体。另外,磁体my的n极和s极在与磁传感器sy内两个磁电转换元件hey1、hey2排列配置的方向平行的方向上分布。即,在图1a和图1b中,磁体mx形成为使s极分布于透镜架21侧并使n极分布于线圈cx侧。另外,磁体my配置为使s极分布于透镜架21侧并使n极分布于线圈cy侧。

如图2所示,磁体mx配置为与磁传感器sx所具有的两个磁电转换元件hex1、hex2分别以不同的磁极相对。即,如图2所示,磁传感器sx配置为与磁体mx的s极和n极两者相对。另外,磁体my配置为与磁传感器sy所具有的两个磁电转换元件hey1、hey2分别以不同的磁极相对。即,如图2所示,磁传感器sy配置为与磁体my的s极和n极两者相对。

(线圈)

线圈cx通过被供给电流来产生磁场,使磁体mx沿x轴方向移动。线圈cx与在线圈cx周围产生的磁通的朝向相应地使磁体mx向x轴方向的正方向或负方向移动。线圈cy通过被供给电流来产生磁场,使磁体my沿y轴方向移动。线圈cy与在线圈cy周围产生的磁通的方向相应地使磁体my向y轴方向的正方向或负方向移动。即,线圈cy能够使磁体my沿与磁体mx的移动方向不同的方向移动。

线圈cx被设置为与磁体mx相对配置。对线圈cx供给基于磁传感器sx检测出的检测信号(表示磁体mx在x轴方向上的位置的信号)的电流。即,基于磁体mx在x轴方向上的位置,对线圈cx供给用于使磁体mx向x轴方向的目标位置移动的电流。

线圈cy被设置为与磁体my相对配置。对线圈cy供给基于磁传感器sy检测出的检测信号(表示磁体my在y轴方向上的位置的信号)的电流。即,基于磁体my在y轴方向上的位置,对线圈cy供给用于使磁体my向y轴方向的目标位置移动的电流。

由此,线圈cx基于由磁传感器sx检测出的磁体mx在x轴方向上的位置来使磁体mx沿x轴方向移动。另外,线圈cy基于由磁传感器sy检测出的磁体my的位置来使磁体my沿y轴方向移动。

(设备)

图4是表示具有磁传感器sx和使透镜22向目标位置移动的驱动器120的设备110的一个结构例的框图。设备110是以磁传感器sx和构成驱动器120的各部(位置检测部(也即位置检测输出部)130、控制部140以及驱动部150)中的至少一个一体化来形成的。设备110例如也可以是将磁传感器sx和驱动器120嵌入到一个基板内或基板上的单片ic、在一基板上连接有磁传感器sx和驱动器120的混合ic。另外,设备110例如也可以是磁传感器sx与驱动器120一体化在一个封装内。作为设备110的一例,例如可举出霍尔ic、磁阻(mr)ic。

下面,参照图4对驱动器120的动作进行说明。驱动器120基于由磁传感器sx检测出的磁体mx在x轴方向上的位置来控制线圈cx。驱动器120通过控制线圈cx使磁体mx移动,来使透镜22向x轴方向上的目标位置移动。此外,为了使驱动器120的控制容易理解,在图4中记载了除了包括驱动器120的设备110以外的透镜22、磁体mx以及线圈cx。

驱动器120具有:位置检测部130,其检测磁体mx在x轴方向上的位置;驱动部150,其驱动线圈cx;以及控制部140,其控制驱动部150。

下面,对驱动器120的各部进行详细说明。此外,省略对磁传感器sy的说明。

(位置检测部)

位置检测部130基于从磁传感器sx的两个磁电转换元件hex1、hex2分别输出的磁场检测信号x1、x2来检测磁体mx在x轴方向上的位置。基于磁电转换元件hex1、hex2分别输出的两个磁场检测信号x1、x2的和信号、差信号以及比信号中的至少一个来检测磁体mx在x轴方向上的位置。

如图5所示,位置检测部130具有运算部132和检测部(也即检测输出部)138。另外,如图5所示,磁电转换元件hex1、hex2与电源80相连接,被施加驱动电流或驱动电压。位置检测部130也可以具有对磁场检测信号x1、x2进行ad变换的ad变换部(未图示)。ad变换部例如设置于运算部132内。

运算部132具有加法器136a和减法器136b。运算部132向加法器136a输入两个磁电转换元件hex1、hex2分别输出的两个磁场检测信号x1、x2,并向检测部138输出磁场检测信号x1、x2的和信号(x1+x2)。另外,运算部132向减法器136b输入磁场检测信号x1、x2,并向检测部138输出磁场检测信号x1、x2的差信号(x1-x2)。

检测部138例如将和信号(x1+x2)相对于差信号(x1-x2)之比{(x1+x2)/(x1-x2)}作为位置检测信号sp(spx)向控制部140输出。如上所述,差信号(x1-x2)为与磁体mx的位置无关而大致固定的值(参照图3b)。因此,由(x1+x2)/(x1-x2)示出的位置检测信号spx为与磁体mx的位置(磁体mx相对于基准位置的相对位置)相应地变化的信号。

(控制部)

控制部140输出用于控制驱动部150的控制信号sc(scx)。控制部140基于从位置检测部130输入的表示磁体mx在x轴方向上的位置的位置检测信号sp(spx)和表示磁体mx(透镜22)在x轴方向上的目标位置的目标位置信号stp(stpx)来输出控制信号sc(scx)。控制部140根据目标位置信号stp与位置检测信号sp的差,计算磁体mx到x轴方向上的目标位置为止的移动量。控制部140向驱动部150输出与该移动量相对应的控制信号sc。另外,控制部140也可以使用pid控制(propotional-integral-derivativecontroler:比例积分微分控制器)来向驱动部150输出控制信号sc。

(驱动部)

驱动部150基于从控制部140输入的控制信号sc(scx),向线圈cx输出驱动信号sd(sdx)。驱动信号sd(sdx)为用于使驱动电流向线圈cx流动的信号。驱动部150根据驱动信号sd(sdx)使规定的驱动电流流过线圈cx来在线圈cx周围产生磁场,使磁体mx沿x轴方向移动规定量。由此,驱动部150将安装有相互分离地配置的磁体mx、my的透镜22(透镜架21)沿x轴方向移动。

以上,对基于磁传感器sx的检测结果来驱动线圈cx的驱动器120进行了说明,但是对于基于由磁传感器sy检测出的磁体my的位置来驱动线圈cy的驱动器(未图示),也同样地进行动作。

[变形例]

(1)本实施方式示出的照相机模块100对具有通过线圈cx驱动而沿x轴方向移动的磁体mx和通过线圈cy驱动而沿y轴方向移动的磁体my的情况进行了说明,但是并不限定于此。例如通过对未图示的磁传感器sz(对通过线圈cz驱动而沿z轴方向移动的磁体mz的位置进行检测的磁传感器)也进行同样的配置,也能够使z轴方向的磁体mz的位置检测精度提高。

2.第二实施方式

在本实施方式示出的照相机模块200中,如图6a、图6b或图7所示,磁传感器sx、sy也可以分别配置于磁体mx的侧方区域(相对于磁体mx位于y轴方向的负方向的位置)和磁体my的侧方区域(相对于磁体my位于x轴方向的正方向的位置)。图7是表示在图6a中通过vii-vii线表示的横截面的截面图。

第二实施方式的照相机模块200除了磁体mx、my的位置以外,能够与第一实施方式的照相机模块100同样地构成。

[实施方式的效果]

以上实施方式所涉及的照相机模块具有以下的效果。

(1)在照相机模块100中,磁传感器sy的磁电转换元件hey1、hey2配置为在与磁体my的极化方向交叉的朝向上具有磁敏轴。因此,在照相机模块100中,磁传感器sy难以检测到由电流流过线圈cy而产生的磁场,从而能够以高检测精度来检测磁体的位置。对于磁传感器sx,也与磁传感器sy同样地,难以检测由电流流过线圈cx而产生的磁场,从而能够以高检测精度来检测磁体的位置。

(2)在照相机模块200中,在将磁传感器配置于线圈的侧方的情况下,与将磁传感器配置于线圈的下部区域的情况相比,能够使照相机模块200的厚度变薄。

3.其它实施方式

下面,参照附图对本实用新型的其它实施方式进行说明。

在第一实施方式和第二实施方式中,在位置检测部130中,将磁场检测信号x1、x2的和信号(x1+x2)与差信号(x1-x2)之比作为位置检测信号sp而进行了输出,但是作为代替,在位置检测部130中也可以进行如下面那样的运算。

(其它实施方式的第一例)

图8是表示其它实施方式的第一例的框图。图8示出的位置检测部230与图5示出的位置检测部130的不同点在于,其具有运算部232来代替运算部132,具有检测部238来代替检测部138。位置检测部230能够应用于第一实施方式的照相机模块100。

位置检测部230具有运算部232和检测部238。

运算部232具有:放大部234a,其与磁电转换元件hex1相连接;以及放大部234b,其与磁电转换元件hex2相连接。在放大部234a、234b中,以使利用减法器236b计算出的放大部234a的输出信号和放大部234b的输出信号的差信号(x1-x2)固定的方式来运算系数(放大率)。运算部232将利用加法器236a运算出的以放大率α控制的放大部234a的输出信号αx1与放大部234b的输出信号αx2的和信号α(x1+x2)输出到检测部238。

检测部238基于运算部232的输出(和信号α(x1+x2))来检测磁体mx的位置。另外,检测部238将磁体mx的位置检测信号spx作为位置检测信号spx向控制部140输出。位置检测信号spx例如表示磁体mx在x轴方向上的从基准位置起的相对位置。

(其它实施方式的第二例)

图9是表示其它实施方式的第二例的框图。图9示出的位置检测部330与图5示出的位置检测部130的不同点在于,具有运算部332来代替运算部132,具有检测部338来代替检测部138。位置检测部330能够应用于第一实施方式的照相机模块100。

位置检测部330具有运算部332和检测部338。

运算部332将利用减法器336b计算出的来自磁电转换元件hex1的输出x1与来自磁电转换元件hex2的输出x2的差信号(x1-x2)输入到放大率运算部335。在放大率运算部335中,运算使差信号(x1-x2)固定的系数(放大率)。在放大部334中,进行使从放大率运算部335输入的放大率β与由加法器336a运算出的来自磁电转换元件hex1的输出x1与来自磁电转换元件hex2的输出x2的和信号(x1+x2)相乘的运算。运算部332将放大率β与和信号(x1+x2)的积β(x1+x2)作为运算结果向检测部338输出。

检测部338基于运算部332的输出来检测磁体mx的位置。另外,检测部338将磁体mx的位置检测信号spx向控制部140输出。位置检测信号spx例如表示磁体mx在x轴方向上的从基准位置起的相对位置。

(其它实施方式的第三例)

图10是表示其它实施方式的第三例的框图。图10示出的位置检测部430与图5示出的位置检测部130的不同点在于,具有运算部432来代替运算部132,具有检测部438来代替检测部138。位置检测部430能够应用于第一实施方式的照相机模块100。

位置检测部430具有运算部432和检测部438。

运算部432以使利用减法器436b计算出的来自磁电转换元件hex1的输出x1与来自磁电转换元件hex2的输出x2的差信号(x1-x2)固定的方式运算磁传感器的输出值。运算部432根据运算结果来控制电源80,以使差信号(x1-x2)固定的方式驱动磁传感器sx。

位置检测部430也可以以使磁传感器sx的差信号(x1-x2)固定的方式控制向磁传感器sx的输入值。在该情况下,检测部438也可以具有对输入值被控制的磁传感器sx的驱动电压或驱动电流进行控制的磁传感器驱动控制部(未图示)。由磁传感器驱动控制部控制电源80,由此控制磁传感器的驱动电压或驱动电流。

检测部438基于加法器436a根据来自校正后的磁传感器sx的输出值x1、x2运算出的和信号(x1+x2),来检测磁体mx的位置。另外,检测部438将磁体mx的位置检测信号spx向控制部140输出。位置检测信号spx例如表示磁体mx在x轴方向上的从基准位置起的相对位置。

以上,对其它实施方式的第一至第三例中的位置检测部的结构分别进行了说明,但是在各例中,不言而喻的是也可以使用来自磁电转换元件sy的输出y1、y2和来自磁电转换元件sz的输出z1、z2来进行相同的处理。

以上,说明了本实用新型的实施方式,但是所述实施方式是例示了用于具体化本实用新型的技术思想的装置、方法,本实用新型的技术思想并不特定结构部件的材质、形状、构造、配置等。本实用新型的技术思想在权利要求书所记载的权利要求规定的技术范围内能够施加各种变更。

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