射频测试方法、装置、电子装置及存储介质与流程

本发明属于射频测试技术领域，尤其涉及一种射频测试方法、装置、电子装置及存储介质。

背景技术：

低功率广域网络(low-powerwide-areanetwork，lpwan)技术是新型的无线通信技术，是可以用低比特率进行长距离通讯的无线网络技术。随着物联网的发展，对无线传输的速率、功耗以及覆盖范围的要求也逐渐提高，lpwan技术是一项可同时满足覆盖范围和低功耗需求的技术，它能以极小的功耗提供超长距离的覆盖范围，而且数据传输速率仅略微下滑。伴随着物联网的发展，lpwan技术也将得到更多的应用。

然而，目前支持lpwan技术的设备，同一批产品存在输出功率偏差较大的问题，导致产品一致性较差。

技术实现要素：

本申请提供一种射频测试方法、装置、电子装置及存储介质，用于解决目前lpwan设备同一批出厂的产品存在输出功率偏差较大的技术问题。

本申请第一方面提供一种射频测试方法，用于对支持lpwan技术的设备进行射频测试，方法包括：

接收所述设备发射的校准射频信号，所述校准射频信号为所述设备根据接收到的射频校准指令发出的射频信号；

计算接收到的校准射频信号的射频功率值，并通过将所述射频功率值与预设功率阈值范围进行比较确定校准结果；

当所述射频功率值超出预设功率阈值范围时，确定所述校准结果为校准不合格，向所述设备发送修正指令，所述修正指令控制所述设备修正配置信息并重新发送校准射频信号以进行再次校准直至校准结果合格；

当所述射频功率值处于预设功率阈值范围时，确定所述校准结果为校准合格，对所述设备进行射频发射及接收测试。

本申请第二方面提供一种射频测试装置，用于对支持lpwan技术的设备进行射频测试，装置包括：

接收模块，用于接收所述设备发射的校准射频信号，所述校准射频信号为所述设备根据接收到的射频校准指令发出的射频信号；

计算模块，用于计算接收到的校准射频信号的射频功率值，并通过将所述射频功率值与预设功率阈值范围进行比较；

发送模块，用于当所述射频功率值超出预设功率阈值范围时，确定所述校准结果为校准不合格并向所述设备发送修正指令，所述修正指令控制所述设备修正配置信息并重新发送校准射频信号；

测试模块，用于当所述射频功率值处于预设功率阈值范围时，确定所述校准结果为校准合格并则对所述设备进行射频发射及接收测试。

本申请第三方面提供一种电子装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上可以被所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现第一方面提供的射频测试方法中的步骤。

本申请第四方面提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现第一方面提供的射频测试方法中的步骤。

从上述本申请实施例可知，本申请提供的射频测试方法，用于对支持lpwan技术的设备进行射频测试，方法包括：接收设备发射的校准射频信号，该校准射频信号为设备根据接收到的射频校准指令发出的射频信号；计算接收到的校准射频信号的射频功率值，并利用射频功率值确定校准结果；若校准结果为校准不合格，则向设备发送修正指令，该修正指令控制设备修正配置信息并重新发送校准射频信号以进行再次校准直至校准结果合格；若校准结果合格，则对设备进行射频发射及接收测试。该测试方法在对支持lpwan技术的设备进行射频发射及接收测试之前先对设备进行射频校准测试，若设备发射的射频的射频功率值在预设的范围内(即偏差在允许范围内)，则继续进行射频的发送及接收测试，若设备发射的射频的射频功率值在预设范围之外(即偏差超出允许范围)则控制设备修正设备的配置信息以使得设备发射的射频的射频功率值调整至预设范围内。如此，则可以避免同一批生产出的lpwan产品发射的射频功率偏差较大，使得同批次产品符合出厂产品的一致性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种射频测试系统的拓扑图；

图2为本申请实施例提供的射频测试方法的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的射频测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的射频测试装置的又一结构示意图；

图5为一种电子装置的结构示意图。

具体实施方式

为使得本申请的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

图1示出了一般具有射频发射及接收功能的设备的出厂前射频测试的系统10的拓扑图，如图1所示，该测试系统10包括：综合测试仪101、电脑主机102以及待测设备103(可以是多台，图中仅示出1台)。

综合测试仪101可以在电脑主机102的控制下载入并发射特定波形的射频信号，也可以接收待测设备103发射的射频信号并对接收到的射频信号的相关指标进行检测。

电脑主机102用于与测试人员的人机交互，可以在测试人员的操作下控制待测设备103进入射频测试模式，电脑主机102也可以向综合测试仪101发送控制指令以控制综合测试仪发射特定频率的射频信号至待测设备103以对待测设备103进行射频接收测试。电脑主机102还可以向待测设备103发射控制指令以控制待测设备103向综合测试仪发射射频信号以对待测设备进行射频发射测试。

待测设备103为具有射频发射及接收功能的设备，可以在电脑主机102的控制下进行射频的发射及接收，以实现对自身的射频发射及接收测试。

上述设备之间可以通过数据线(如通用接口总线(general-purposeinterfacebus，gpib)转usb数据线或双绞线、rfcable线等)进行连接，也可以通过无线网络进行通信。

可以理解，图1所示的系统拓扑仅为示意，其并不对测试系统10的结构造成限定，测试系统10还可以包括比图1所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。例如一般在测试过程中，待测设备103应置于屏蔽箱中以避免信号干扰。综合测试仪101可以由频谱仪、信号发射器以及功分器进行代替。另外，综合测试仪101与电脑主机102也可以由兼具两者功能的射频测试仪进行代替。

为了解决目前lpwan设备存在的同一批出厂的产品存在的输出功率偏差较大，导致产品一致性差的问题，本申请实施例提供了一种射频测试方法，用于对支持lpwan技术的设备进行射频测试，该方法可用于上述射频测试仪中，如图2所示，为本申请实施例提供的射频测试方法的流程示意图，方法包括如下步骤：

步骤201，接收设备发射的校准射频信号，校准射频信号为设备根据接收到的射频校准指令发出的射频信号。

在本申请实施例中，在对设备的射频发射及接收性能进行检测之前，首先对设备发射的射频功率进行校准。射频测试仪向待测设备发送射频校准指令，该射频校准指令包含了控制待测设备发射射频信号的频率等基础信息。待测设备接收到射频测试仪发送的射频校准指令后，根据射频校准指令载入相关配置信息，并发射校准射频信号。待测设备发射校准射频信号后，射频测试仪对该校准射频信号进行接收。

步骤202，计算接收到的校准射频信号的射频功率值，并通过将射频功率值与预设功率阈值范围进行比较确定校准结果。

在本申请实施例中，射频测试仪接收到待测设备发射的校准射频信号后，根据接收到的校准射频信号计算该校准射频信号的射频功率值，并将该射频功率值存储于射频测试仪的存储器中。此时处理器读取存储于存储器中的校准目标功率值以及标准误差允许值，根据目标功率值以及标准误差允许值确定符合要求的功率阈值范围，即上述预设功率阈值范围。将计算得到的射频功率值与预设功率阈值范围进行比较，根据比较结果确定校准结果。

进一步地，利用射频功率值确定校准结果，包括：

若射频功率值处于预设阈值范围内，则确定校准结果为校准合格；

若射频功率值不处于预设阈值范围内，则确定校准结果为校准不合格。

具体的，射频测试仪可以将校准信息存储于射频校准记录表中，如表1所示，为本申请提供的射频校准记录表：

表1：射频校准记录表

由表1可知，表1记载了射频测试仪对待测设备进行射频校准时控制待测设备发射射频信号的频率、射频测试仪接收的目标功率、校准误差允许以及实际计算得到的射频功率值。根据目标功率以及校准误差允许可以确定射频功率值应该处于的范围。若射频功率值处于这个范围内，则确定校准结果合格，反之这确定不合格。例如频率为903mhz时，射频功率的预设范围即为19～21dbm，当实际计算得到的射频功率值为19.5dbm时，则确定射频校准的校准结果为校准合格。另外，由表1可知，本校准方案除了可以对待测设备发射的射频信号的射频功率进行校准外，还可以对待测设备发射的射频信号的其他指标进行校准。

步骤203，若校准结果为校准不合格，则向设备发送修正指令，该修正指令控制设备修正配置信息并重新发送校准射频信号以进行再次校准直至校准结果合格。

在本申请实施例中，当步骤202中确定的校准结果为校准不合格时，射频测试仪向待测设备发送修正指令，控制待测设备调整配置信息。具体的，可以根据计算得到的射频功率值与目标功率值的差异进行调整，若计算得到的射频功率值大于目标功率值且误差超出了允许的范围，则调整配置信息以降低计算得到的射频功率值以使得其余目标功率值的误差处于允许范围之内。修正指令除了控制待测设备调整配置信息外，还控制待测设备在调整配置信息后重新发射校准射频信号。射频测试仪则返回步骤201，再次对待测设备发射的校准射频信号进行校准测试。具体的，待测设备的配置信息为待测设备的射频配置信息，具体包括不同频率和目标功率对应的待测设备的寄存器地址以及寄存器地址的值。

步骤204，若校准结果为校准合格，则对设备进行射频发射及接收测试。

在本申请实施例中，当步骤202中确认的校准结果为校准合格时，则说明待测设备发射的射频信号的射频功率值满足要求，则继续对该待测设备进行射频发射及射频接收的性能测试。

根据以上描述可知，本申请实施例提供的射频测试方法，用于对支持lpwan技术的设备进行射频测试，方法包括：接收设备发射的校准射频信号，该校准射频信号为设备根据接收到的射频校准指令发出的射频信号；计算接收到的校准射频信号的射频功率值，并利用射频功率值确定校准结果；若校准结果为校准不合格，则向设备发送修正指令，该修正指令控制设备修正配置信息并重新发送校准射频信号以进行再次校准直至校准结果合格；若校准结果合格，则对设备进行射频发射及接收测试。该测试方法在对支持lpwan技术的设备进行射频发射及接收测试之前先对设备进行射频校准测试，若设备发射的射频的射频功率值符合要求(即偏差在允许范围内)，则继续进行射频的发送及接收测试，若设备发射的射频的射频功率值不符合要求(即偏差超出允许范围)则控制设备修正设备的配置信息以使得设备发射的射频的射频功率值调整至预设范围内。如此，则可以保证同一批生产出的lpwan产品发射的射频功率偏差在一定的范围内，符合出厂产品的一致性。

进一步地，对设备进行射频发射及接收测试，包括：

向设备发送射频发射测试指令；

接收设备根据射频发射测试指令发出的第一射频信号；

根据接收到的第一射频信号确定设备的射频发射测试是否合格；以及，

向设备发射第二射频信号；

接收设备返回的射频接收数据；

根据射频接收数据确定设备的射频接收测试是否合格。

在本申请实施例中，对设备进行射频发射及接收测试为分别对待测设备进行射频发射性能的测试以及对待测设备进行射频接收性能的测试。

在对待测设备进行射频发射性能的测试时，射频测试仪向待测设备发送进行射频发射性能测试的指令，待测设备根据该指令发射第一射频信号。可以理解的是，在对待测设备进行射频校准的过程中，有可能会对待测设备的配置信息进行调整。若在校准过程中待测设备的配置信息发生调整，则此次待测设备发射的第一射频信号便是根据调整后的配置信息发出的。射频测试仪接收到待测设备发出的第一射频信号后，根据第一射频信号确定设备的射频发射测试是否合格。具体地，射频测试仪对该第一射频信号的射频指标进行计算，射频指标包括频率谱密度、射频功率值、中心频率等。若以上射频指标均满足预设的条件，则确定待测设备的射频发射性能测试合格，否则则确定待测设备的射频发射性能测试不合格。对于射频发射性能测试合格的待测设备，可以进入下一步射频接收性能测试，而对于射频发射性能测试不合格的待测设备，则进入维修车间进行维修。

若待测设备的射频发射性能测试合格，则继续对待测设备的射频接收性能进行测试。此时射频测试仪向设备发射第二射频信号，待测设备在接收到射频测试仪发射的第二射频信号后，根据接收到的第二射频信号计算射频接收数据，该射频接收数据包括各类接收指标。然后待测设备将计算出的射频接收数据发送给射频测试仪，射频测试仪再根据待测设备返回的射频接收数据确定设备的射频接收测试是否合格。若待测设备的射频接收测试也合格，则确定该待测设备测试合格以进行下一步工序；若待测设备的射频接收测试不合格，则将该待测设备送往维修车间进行维修。

由上述描述可知，本申请实施例提供的射频测试方法，应用于对支持lpwan技术的设备进行射频测试，该方法分别对设备的射频发射功率进行校准并对设备的射频发射及吸收性能进行测试，而且该测试方法仅需要一台射频测试仪即可完成，无需分别进行测试，节省了设备出厂前的测试工序，节约了人工。而且，该测试方法在一个工位即可完成，无需多次插拔设备，避免了设备的插拔损耗以及由此产生的外观不良损失。

进一步地，接收设备返回的射频接收数据，包括：

接收设备返回的平均接收信号强度(receivedsignalstrengthindication，rssi)值以及平均信号噪声比(signalnoiseratio，snr)值，该平均rssi值和平均snr值为设备在接收第二射频信号时计算得到，

则根据射频接收数据确定设备的射频接收测试是否合格，包括：

根据平均rssi值以及平均snr值确定设备的射频接收测试是否合格。

在本申请实施例中，采用平均rssi值以及平均snr值作为接收指标，根据平均rssi值以及平均snr值确定射频接收性能的测试结果。

具体地，根据平均rssi值以及平均snr值确定设备的射频接收测试是否合格，包括：

若平均rssi值与平均snr值之和处于预设范围内，则确定设备的射频接收测试合格；

若平均rssi值与平均snr值之和不处于预设范围内，则确定设备的射频接收测试不合格。

表2：射频接收指标记录表

如表2所示，表2为射频接收指标记录表。可以理解的是，仪表功率＝rssi+snr+线损。线损为测试系统拓扑的连接线线损以及待测设备中的rf走线线损。在本申请实施例中，在制定标准仪表功率值时，考虑了线损的补偿(即在仪表功率值中提前减去了线损值)，从而更方便根据表中数据直接得出射频接收测试的结果。例如当射频频率为903mhz时，当计算得到的平均rssi值+平均snr值＜-70dbm，则确定平均rssi值与平均snr值之和处于预设范围内，即可确定待测设备的射频接收测试结果为测试合格。否则则确定待测设备的射频接收测试的测试结果为测试不合格。

根据上述描述可知，本申请实施例提供的射频测试方法，在进行设备的射频接收功能测试时，将平均rssi以及平均snr作为接收指标，仅需判断平均rssi值与平均snr值之和是否处于预设范围即可判断设备的射频接收功能是否正常。相对于传统的射频接收功能测试时采用灵敏度探底的测试方法，需要多次降低仪表功率，同时测试误包率的方法。本申请提供的方法可以更高效地判断设备的射频接收功能是否正常，可以有效提高设备的射频测试效率。

进一步地，根据接收到的第一射频信号确定设备的射频发射测试是否合格，包括：

获取接收到的第一射频信号的发射功率、频谱密度以及频率，根据发射功率、频谱密度以及频率确定设备的射频发射测试是否合格。

在本申请实施例中，射频测试仪在接收到待测设备根据射频发射测试指令发出的第一射频信号后，对接收到的射频信号进行分析并提取射频信号的发射功率、频谱密度以及频率。并将提取出的发射功率、频谱密度以及频率与预设的发射功率阈值范围、频谱密度阈值范围以及频率阈值范围进行比较。一般情况下频率阈值范围由中心频率预计允许的频率偏移值进行确定。仅当发射功率处于预设的发射功率阈值范围，频谱密度处于预设的频谱密度阈值范围且频率处于预设的频率阈值范围时，确认待测设备的射频发射测试结果合格。当发射功率、频谱密度以及频率中任意一项不处于其对应的预设的阈值范围内时，确认该待测设备的射频发射测试结果不合格。

进一步地，确定校准结果为校准合格并对设备进行射频发射及接收测试之后，还包括：

将校准结果以及射频发射及接收测试结果发送至设备，并控制设备将校准结果与射频发射及接收测试结果存储于设备的存储器中。

在本申请实施例中，在对待测设备进行射频发射及接收测试后，将待测设备校准结果以及射频发射及接收结果存储于待测设备的存储器中。如此在待测设备进入维修模式时，可以调出校准及射频测试的结果以便可以更方便追踪设备问题，提高维修效率。

本申请第二方面提供了一种射频测试装置，用于对支持lpwan技术的设备进行射频测试，如图3所示，为该装置的结构示意图，该装置包括如下模块：

接收模块301，用于接收设备发射的校准射频信号，校准射频信号为设备根据接收到的射频校准指令发出的射频信号。

计算模块302，用于计算接收到的校准射频信号的射频功率值，并通过将射频功率值与预设功率阈值范围进行比较。

发送模块303，用于当射频功率值超出预设功率阈值范围时，确定校准结果为校准不合格并向设备发送修正指令，修正指令控制设备修正配置信息并重新发送校准射频信号。

测试模块304，用于当射频功率值处于预设功率阈值范围时，确定校准结果为校准合格并对设备进行射频发射及接收测试。

可以理解的是，本申请实施例提供的射频测试装置的各个模块的功能与图2实施例提供的射频测试方法的各步骤的内容相同，此处不再予以赘述。本申请提供的射频测试装置，包括：接收模块，用于接收设备发射的校准射频信号，校准射频信号为设备根据接收到的射频校准指令发出的射频信号。校准结果确定模块，用于计算接收到的校准射频信号的射频功率值，并利用射频功率值确定校准结果。发送模块，用于若校准结果为校准不合格，则向设备发送修正指令，修正指令控制设备修正配置信息并重新发送校准射频信号以进行再次校准直至校准结果合格。测试模块，用于若校准结果为校准合格，则对设备进行射频发射及接收测试。该装置在对设备进行射频测试前先对待测设备进行射频校准，从而可以确保同一批生产出的lpwan产品发射的射频功率偏差在一定的范围内，保证同批次出厂产品的一致性。

进一步地，如图4所示，为本申请实施例提供的射频测试装置的又一结构示意图，测试模块304包括：

射频发射测试模块401，用于对设备进行射频发射性能测试；以及，

射频接收测试模块402，用于对设备进行射频接收性能测试，射频接收测试模块402利用设备返回的平均rssi值以及平均snr值确定设备的射频接收性能是否合格。

在本申请实施例中，测试模块包括射频发射模块以及射频接收模块，射频发射模块利用平均rssi值以及平均snr值确定设备的射频接收性能是否合格。具体的，使用rssi值以及snr值对设备的射频接收性能进行判定的具体功能及步骤已经在前述实施例中予以详细描述，此处不再予以赘述。本申请实施例提供的射频测试装置，可以提高射频测试的效率。

进一步地，上述装置还包括：

存储模块403，用于存储校准结果及测试结果。

在本年申请实施例中，射频测试装置还包括存储模块，该存储模块用于存储校准结果以及测试结果。当然，存储模块也可以用于存储校准及测试过程中的测试指标数据。

本申请第三方面提供了一种电子装置，该电子装置可用于实现前述实施例中的射频测试方法。如图5所示，该电子装置主要包括：

存储器501、处理器502、总线503及存储在存储器501上并可在处理器502上运行的计算机程序，存储器501和处理器502通过总线503连接。处理器502执行该计算机程序时，实现前述实施例中的射频测试方法。其中，处理器的数量可以是一个或多个。

存储器501可以是高速随机存取记忆体(ram，randomaccessmemory)存储器，也可为非不稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。存储器501用于存储可执行程序代码，处理器502与存储器501耦合。

本申请第四方面提供了一种存储介质，该存储介质可以是存储器。该存储介质上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面提供的射频测试方法中的各个步骤。进一步的，该计算机可读存储介质还可以是u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、ram、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的可读存储介质包括：u盘、移动硬盘、rom、ram、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本申请所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上为对本申请所提供的射频测试方法、装置、电子装置及存储介质的描述，对于本领域的技术人员，依据本申请实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。