天线调谐方法、装置、电子设备和可读存储介质与流程

本技术实施例涉及计算机技术，尤其涉及一种天线调谐方法、装置、电子设备和可读存储介质。

背景技术：

1、电子设备中可以包括至少一个射频线路，当射频链路中包括用于检测天线参数的器件时，电子设备可以基于器件检测到的天线参数，对射频线路对应的天线进行调谐，以提高天线的信号强度，进而提高电子设备的通信质量。

2、目前在电子设备的一些射频链路中，不包含有用于检测天线参数的器件，电子设备无法获取该射频链路的天线参数，因此也无法对射频链路对应的天线进行调谐。

技术实现思路

1、本技术实施例提供一种天线调谐方法、装置、电子设备和可读存储介质，能够实现对未包含有天线参数检测器件的射频链路对应的天线的调谐。

2、第一方面，本技术实施例提供一种天线调谐方法，执行该天线调谐方法的执行主体可以为电子设备，或电子设备中的处理器、芯片或者射频前端调制解调器modem，下述以电子设备为例进行说明。电子设备中包括：第一射频链路和第二射频链路，所述第一射频链路包括用于检测天线参数的器件，所述第二射频链路包括可调谐器件。在一种实施例中，所述第二射频链路中不包括用于检测天线参数的器件。或者，在一种实施例中，所述第二射频链路中包括用于检测天线参数的器件。

3、在该方法中，电子设备可以通过所述第一射频链路中用于检测天线参数的器件，获取所述第一射频链路的第一天线参数信息，且根据所述第一天线参数信息，并通过所述第二射频链路中的所述可调谐器件，调谐所述第二射频链路对应的天线。

4、本技术实施例中，电子设备可以根据包含有检测器的射频链路的第一天线参数信息，实现对未包含有检测器的射频链路对应的天线的调谐，进而提高天线的通信质量。

5、在一种可能的实现方式中，电子设备可以根据所述第一天线参数信息，产生控制信号，以根据所述控制信号，通过所述可调谐器件调谐所述第二射频链路对应的天线。示例性的，电子设备中可以存储有第一天线参数变化量和控制信号的信号映射关系，电子设备可以根据第一天线参数变化量，在该信号映射关系中获取第一天线参数变化量映射的控制信息。应理解，控制信号用于调谐第二射频链路中的可调谐器件。

6、在一种可能的实现方式中，电子设备可以根据所述第一天线参数信息，获取所述第二射频链路的第二天线参数信息，以根据所述第二天线参数信息，通过所述可调谐器件调谐所述第二射频链路对应的天线。其中，电子设备可以根据所述第一天线参数信息和映射关系获取所述第二天线参数信息，所述映射关系为，所述第一射频链路的天线参数信息和所述第二射频链路的天线参数信息的映射关系。应理解，映射关系可以为预置在电子设备中的，映射关系的获取过程可以参照第二方面的相关描述。

7、在一种实施例中，电子设备可以先判断所述映射关系中是否包含所述第一天线参数信息。若所述映射关系中是否包含所述第一天线参数信息，则电子设备可以根据所述第一天线参数信息和映射关系获取所述第二天线参数信息。

8、本技术实施例中，电子设备可以基于预置在电子设备中的映射关系，以及包含有检测器的射频链路的第一天线参数信息，确定未包含有检测器的射频链路的第二天线信息，进而基于第二天线参数信息实现对未包含有检测器的射频链路对应的天线的调谐，可以提高天线的通信质量，且调谐精度高。

9、在一种可能的实现方式中，第一天线参数信息可以包括：第一天线参数，和/或，第一天线参数变化量。

10、其中，本技术实施例中的所述第一天线参数包括：所述第一射频链路对应的天线的谐振位置的频点，和/或所述频点在史密斯圆图的位置，和/或所述天线的输入阻抗，和/或所述天线的反射系数的幅值和相位；所述第一天线参数变化量包括：频偏、和/或圆图偏移距离、和/或阻抗变化量，其中，所述圆图偏移距离为矢量距离。

11、其中，所述频偏包括频点的偏移量，或者，所述频偏包括：频点的偏移量以及频点处反射系数的幅值的变化量。

12、在一种可能的实现方式中，所述第一射频链路对应第一天线，所述第二射频链路对应第二天线；所述映射关系为：所述第一天线的天线参数信息和所述第二天线的天线参数信息的映射关系。

13、在一种可能的实现方式中，所述第一射频链路和所述第二射频链路对应同一天线，所述第一射频链路工作在第一频段，所述第二射频链路工作在第二频段，所述第一频段和所述第二频段不同或者相同；所述映射关系为：所述第一频段的天线参数信息和第二频段的天线参数信息的映射关系。

14、在一种可能的实现方式中，映射关系还可以为：所述第一射频链路的天线参数信息、所述第二射频链路的天线参数信息，以及所述电子设备的状态的映射关系，所述电子设备的状态包括：存在对象接触所述电子设备的状态，以及不存在对象接触所述电子设备的状态。

15、在该种实现方式中，电子设备可以基于第一射频链路的天线参数信，确定电子设备的状态，获取电子设备的状态后可以适用于其他多种场景中。其中，电子设备可以根据所述第一天线参数信息、所述第二天线参数信息，以及所述映射关系，获取所述电子设备的状态。

16、其中，接触电子设备的所述对象包括人体和非人体，所述非人体包括壳套。

17、相应的，当接触电子设备的所述对象为壳套时，所述电子设备的状态包括：壳套状态。当所述壳套为金属壳套或磁吸壳套时，为金属壳套或磁吸壳套会对电子设备的天线性能造成影响，如降低天线的通信质量，在该种实现方式中，电子设备响应于所述电子设备的状态为所述壳套状态，输出提示信息，所述提示信息指示接触所述电子设备的壳套影响所述电子设备中的天线的通信质量，进而用户可以采取取下壳套或者换用其他壳套的方式以降低壳套对天线性能的影响。

18、当第一射频链路和第二射频链路中均包含有用于检测天线参数的器件时，可以基于检测器检测到的该射频链路的天线参数，以及另一射频链路的天线参数变化量映射至该射频链路的天线参数的变化量，对该射频链路对应的天线进行调谐。

19、其中，电子设备可以通过所述第二射频链路中用于检测天线参数的器件，获取所述第二射频链路的第三天线参数信息，以根据所述第二天线参数信息和所述第三天线参数信息，调谐所述第二射频链路对应的天线。

20、该实现方式中，因为电子设备结合了多方面的因素，即检测器检测到的该射频链路的天线参数，以及另一射频链路的天线参数变化量映射至该射频链路的天线参数的变化量，可以提高天线调谐的精度。

21、第二方面，本技术实施例提供一种天线调谐方法，该天线调谐方法讲述获取如上第一方面应用的映射关系的过程，具体包括：获取映射关系，所述映射关系为：电子设备中的第一射频链路的天线参数信息和所述电子设备中的第二射频链路的天线参数信息的映射关系；将所述映射关系预置在所述电子设备中。

22、在一种可能的实现方式中，所述第一射频链路的天线参数信息为第一天线参数信息，所述第一天线参数信息包括：第一天线参数，和/或，第一天线参数变化量。

23、在一种可能的实现方式中，所述第一天线参数信息包括：第一天线参数，所述获取映射关系，包括：获取处于不同状态下的所述电子设备的所述第一射频链路的第n1测试天线参数，以及所述第二射频链路的第n2测试天线参数，所述不同状态为存在不同对象接触所述电子设备；将所述第n1测试天线参数、所述第n2测试天线参数，以及接触所述电子设备的对象对应存储，得到所述映射关系，所述第一天线参数包括各状态下所述电子设备的所述第一射频链路的所述第n1测试天线参数。

24、在一种可能的实现方式中，所述第一天线参数信息包括：第一天线参数变化量，所述获取处于不同状态下的所述电子设备的所述第一射频链路的第n1测试天线参数，以及所述第二射频链路的第n2测试天线参数之前，还包括：获取处于第一状态下的所述电子设备的所述第一射频链路的第一测试天线参数，以及所述第二射频链路的第二测试天线参数，所述第一状态为不存在对象接触所述电子设备；获取所述第一测试天线参数和所述第n1测试天线参数的差值，得到第一天线参数变化量；获取所述第二测试天线参数和所述第n2测试天线参数的差值，得到第二天线参数变化量；将所述第一天线参数变化量、所述第二天线参数变化量，以及接触所述电子设备的对象对应存储，得到所述映射关系。

25、在一种可能的实现方式中，所述对象包括人体或非人体，所述非人体包括壳套。

26、第三方面，本技术实施例提供一种天线调谐装置，该天线调谐装置可以为电子设备，或电子设备中的处理器、芯片或者modem。该天线调谐装置可以包括：

27、检测模块，用于获取第一射频链路的第一天线参数信息。

28、调谐模块，根据所述第一天线参数信息，并通过第二射频链路中的可调谐器件，对所述第二射频链路对应的天线进行调谐。

29、在一种可能的实现方式中，调谐模块，具体用于根据所述第一天线参数信息，产生控制信号；根据所述控制信号，通过所述可调谐器件调谐所述第二射频链路对应的天线。

30、在一种可能的实现方式中，调谐模块，具体用于根据所述第一天线参数信息，获取所述第二射频链路的第二天线参数信息；根据所述第二天线参数信息，通过所述可调谐器件调谐所述第二射频链路对应的天线。

31、在一种可能的实现方式中，调谐模块，具体用于根据所述第一天线参数信息和映射关系获取所述第二天线参数信息，其中，所述映射关系为，所述第一射频链路的天线参数信息和所述第二射频链路的天线参数信息的映射关系。

32、在一种可能的实现方式中，所述第一天线参数信息包括：第一天线参数，和/或，第一天线参数变化量。

33、在一种可能的实现方式中，所述第一天线参数包括：所述第一射频链路对应的天线的谐振位置的频点，和/或所述频点在史密斯圆图的位置，和/或所述天线的输入阻抗，和/或所述天线的反射系数的幅值和相位；所述第一天线参数变化量包括：频偏、和/或圆图偏移距离、和/或阻抗变化量，其中，所述圆图偏移距离为矢量距离；所述频偏包括频点的偏移量，或者，所述频偏包括：频点的偏移量以及频点处反射系数的幅值的变化量。

34、在一种可能的实现方式中，所述第一射频链路对应第一天线，所述第二射频链路对应第二天线；所述映射关系为：所述第一天线的天线参数信息和所述第二天线的天线参数信息的映射关系。

35、在一种可能的实现方式中，所述第一射频链路和所述第二射频链路对应同一天线，所述第一射频链路工作在第一频段，所述第二射频链路工作在第二频段，所述第一频段和所述第二频段不同或者相同；所述映射关系为：所述第一频段的天线参数信息和第二频段的天线参数信息的映射关系。

36、在一种可能的实现方式中，所述映射关系为：所述第一射频链路的天线参数信息、所述第二射频链路的天线参数信息，以及所述电子设备的状态的映射关系，所述电子设备的状态包括：存在对象接触所述电子设备的状态，以及不存在对象接触所述电子设备的状态。

37、调谐模块，用于根据所述第一天线参数信息、所述第二天线参数信息，以及所述映射关系，获取所述电子设备的状态。

38、在一种可能的实现方式中，所述对象包括人体和非人体，所述非人体包括壳套。

39、在一种可能的实现方式中，所述电子设备的状态包括：壳套状态。

40、调谐模块，用于响应于所述电子设备的状态为所述壳套状态，输出提示信息，所述提示信息指示接触所述电子设备的壳套影响所述电子设备中的天线的通信质量，其中，所述壳套为金属壳套或磁吸壳套。

41、在一种可能的实现方式中，调谐模块，还用于判断所述映射关系中是否包含所述第一天线参数信息。

42、在一种可能的实现方式中，所述第二射频链路中不包括用于检测天线参数的器件。

43、在一种可能的实现方式中，所述第二射频链路中包括用于检测天线参数的器件。

44、在一种可能的实现方式中，调谐模块，还用于通过所述第二射频链路中用于检测天线参数的器件，获取所述第二射频链路的第三天线参数信息；根据所述第二天线参数信息和所述第三天线参数信息，调谐所述第二射频链路对应的天线。

45、第四方面，本技术实施例提供一种天线调谐装置，该天线调谐装置可以为电子设备、测试设备，或电子设备中的芯片或者测试设备中的芯片。该天线调谐装置可以包括：

46、处理模块，用于获取映射关系，所述映射关系为：电子设备中的第一射频链路的天线参数信息和所述电子设备中的第二射频链路的天线参数信息的映射关系；

47、存储模块，用于将所述映射关系预置在所述电子设备中。

48、在一种可能的实现方式中，所述第一射频链路的天线参数信息为第一天线参数信息，所述第一天线参数信息包括：第一天线参数，和/或，第一天线参数变化量。

49、在一种可能的实现方式中，所述第一天线参数信息包括：第一天线参数。

50、处理模块，具体用于获取处于不同状态下的所述电子设备的所述第一射频链路的第n1测试天线参数，以及所述第二射频链路的第n2测试天线参数，所述不同状态为存在不同对象接触所述电子设备；将所述第n1测试天线参数、所述第n2测试天线参数，以及接触所述电子设备的对象对应存储，得到所述映射关系，所述第一天线参数包括各状态下所述电子设备的所述第一射频链路的所述第n1测试天线参数。

51、在一种可能的实现方式中，所述第一天线参数信息包括：第一天线参数变化量。

52、处理模块，还用于获取处于第一状态下的所述电子设备的所述第一射频链路的第一测试天线参数，以及所述第二射频链路的第二测试天线参数，所述第一状态为不存在对象接触所述电子设备；获取所述第一测试天线参数和所述第n1测试天线参数的差值，得到第一天线参数变化量；获取所述第二测试天线参数和所述第n2测试天线参数的差值，得到第二天线参数变化量；将所述第一天线参数变化量、所述第二天线参数变化量，以及接触所述电子设备的对象对应存储，得到所述映射关系。

53、在一种可能的实现方式中，所述对象包括人体或非人体，所述非人体包括壳套。

54、第五方面，本技术实施例提供一种电子设备，该电子设备可以包括：处理器、存储器。存储器用于存储计算机可执行程序代码，程序代码包括指令；当处理器执行指令时，指令使所述电子设备执行如第一方面、第二方面中的方法。

55、第六方面，本技术实施例提供一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面、第二方面中的方法。

56、第七方面，本技术实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面、第二方面中的方法。

57、上述第二方面至第七方面的各可能的实现方式，其有益效果可以参见上述第一方面所带来的有益效果，在此不加赘述。