一种马达测试方法及系统与流程

1.本发明涉及摄像头模组技术领域，特别涉及一种马达测试方法及系统。


背景技术：

2.vcm马达，即音圈马达，其主要原理是利用一个永久磁场，通过改变马达内线圈电流的大小来控制弹片或动子的位置，原用于扬声器产生振动发声，现用于推动镜头移动产生自动对焦的成像模组。vcm马达是摄像头模组中的重要组成部分，它不仅决定了摄像头模组的自动对焦能力，同时也是判断一个摄像头模组性能优异的关键部件。
3.因此，在音圈马达的生产过程中，对音圈马达进行性能测试是非常重要的，可以有效防止不合格产品流入市场，确保产品质量。现有的音圈马达性能测试由于拥有多个测试环节，且各测试环节分散，通常是由人工将音圈马达依次安装在各环节的测试位进行测试。因此，各音圈马达在完成当前测试后，通常需要等待人工的移转，导致其无法立即进入下一环节的测试，降低了测试效率；且因需要人工实时观察各音圈马达的测试进程，导致生产过程中的人工成本较高；除此之外，多次的人工安装与拆卸容易对音圈马达造成损坏，导致产品的质量优劣不一。


技术实现要素：

4.本发明提供了一种马达测试方法及系统，能够提升测试效率，降低人工成本，防止测试过程中多次的安装、拆卸、移转对待测试组件造成损坏。
5.本发明提供的基础方案一：
6.一种马达测试方法，包括以下步骤：
7.s100，控制模组运动至镭射头下方的测试位，调整模组的位置使镭射头发出的镭射打到模组的镜头花瓣上；获取镭射读数器的数值，并记录镭射读数器的数值在预设镭射读数范围内时，模组对应的位置为磁滞测试位；
8.s200，控制模组运动至增距镜中心正下方预设对焦距离范围处，并记录模组的位置为对焦测试位；
9.s300，搭建光源组件，所述光源组件用于提供测试光；
10.s400，将待测试组件放入测试治具的测试位中；
11.s500，控制测试治具运动至磁滞测试位，对待测试组件进行马达磁滞测试和稳定时间测试，并生成磁滞测试结果和稳定测试结果；
12.s600，控制测试治具运动至对焦测试位，对待测试组件进行自动对焦测试，并生成对焦测试结果；
13.s700，根据磁滞测试结果、稳定测试结果和对焦测试结果，生成异常分析结果。
14.进一步，所述光源组件为光源板；
15.s300包括以下步骤：
16.s301，搭建光源板，并调整光源板的色温和照度；根据模组的光学参数生成辅助图
表，并将辅助图表设置光源板上。
17.进一步，所述测试治具设置在机台上，通过机台的运动带动测试治具的运动；所述机台根据控制设备的指令进行运动；
18.s300还包括以下步骤：
19.s302，设置机台与控制设备间的通讯指令。
20.进一步，所述机台与控制设备间通过接收/回复指令的方式进行通讯。
21.进一步，所述待测试组件由驱动电路供电；
22.s500包括以下步骤：
23.s501，控制测试治具运动至磁滞测试位；
24.s502，获取待测试组件的行程编码范围，根据待测试组件的行程编码范围，生成测试电流值；所述控制设备根据测试电流值，控制驱动电路供给电流至待测试组件，驱动待测试组件进行作动；获取镭射返回待测试组件的来回行程移动量，并生成线性曲线，所述磁滞测试结果包括线性曲线。
25.进一步，所述待测试组件设有预设阻尼；
26.所述稳定测试结果包括稳定时间测试结果和震荡周期测试结果；
27.s500还包括以下步骤：
28.s503，获取待测试震荡曲线的行程编码范围；在预设阻尼生效的情况下，分析在待测试震荡曲线的行程编码范围内，待测试组件由动态到稳定状态所需的时间，并生成稳定时间测试结果；
29.s504，在预设阻尼生效情况下，分析在待测试震荡曲线的行程编码范围内，待测试组件的震荡周期，并生成震荡周期测试结果。
30.本发明提供的基础方案二：
31.一种马达测试系统，使用了上述马达测试方法。
32.本发明的有益效果：
33.1、首先，利用模组对待测试组件在各测试环节中需要到达的位置进行模拟，调整模组的位置使模组所在的位置分别满足待测试组件进行磁滞测试和对焦测试的要求，根据调试的结果生成磁滞测试位和对焦测试位，由此，在后续的测试中，可以直接根据预先生成的磁滞测试位和对焦测试位，自动控制待测试组件移动至相应的位置进行测试，生成磁滞测试结果、稳定测试结果和对焦测试结果，再结合上述测试结果生成异常分析结果。相对于人工移转而言，本方案中预设了各位置数据，从而可以直接控制测试组件移动至相应的测试位，其效率更高、人工成本更低，且无需进行多次安装与拆卸，降低了测试过程中对待测试组件的损坏，同时，减少了需要使用到的测试工站及设备数量。
34.2、搭建光源组件，采用光源板作为光源组件，并调整光源板的色温和照度；根据模组的光学参数生成辅助图表，并将辅助图表设置光源板上。满足自动对焦测试的环境，有利于进行后续的自动对焦测试。
35.3、通过控制设备控制机台带动测试治具运动，且机台与控制设备间通过接收/回复指令的方式进行通讯。由此，可以在待测试组件完成当前节点的测试后，机台及时向控制设备发送反馈信号，控制设备再发送一个指令到机台，控制其运动至下一测试节点的测试位。
36.4、传统的测试方案中只能进行单一的磁滞/af对焦/振荡周期中的一种进行测试，测试效率低，人工成本损耗大，且多次测试对测试组件损耗大，增加模组外观不良风险。本方案，提供一种整合以上模组单一功能测试的方案，并加以设备、程序、运控三合一一体结合，能够提升测试效率，降低人工成本，防止测试过程中多次的安装、拆卸、移转对待测试组件造成损坏。
附图说明
37.图1为本发明实施例一种马达测试方法的流程框图。
38.图2为本发明实施例一种马达测试方法中线性曲线的示意图。
39.图3为本发明实施例一种马达测试方法中震荡周期的测试示意图。
具体实施方式
40.下面通过具体实施方式进一步详细说明：
41.实施例1：
42.一种马达测试方法，如图1所示，包括以下步骤：
43.s100，控制模组运动至镭射头下方的测试位，调整模组的位置使镭射头发出的镭射打到模组的镜头花瓣(花瓣状的镜头罩)上；获取镭射读数器的数值，并记录镭射读数器的数值在预设镭射读数范围内时，模组对应的位置为磁滞测试位；本实施例中，采用型号为lk_g300的镭射读数器进行数值检测，当镭射读数器显示绿色数值时，记录模组对应的位置为磁滞测试位。
44.s200，控制模组运动至增距镜中心正下方预设对焦距离范围处，并记录模组的位置为对焦测试位；本实施例中，所述预设对焦距离范围为1.5cm-2cm。本实施例中，只要镭射读数器的数值在预设镭射读数范围内、模组在增距镜中心正下方预设对焦距离范围处，即可记录模组的位置，也即仅需记录满足条件的一处位置作为相应的测试位。
45.由此，利用了模组对待测试组件在各测试环节中需要到达的位置进行了模拟，在后续的测试中，可以直接根据预先生成的磁滞测试位和对焦测试位，自动控制待测试组件移动至相应的位置进行测试。
46.s300，搭建光源组件，所述光源组件用于提供测试光；本实施例中，所述光源组件为光源板；s300包括以下步骤：
47.s301，搭建光源板，并调整光源板的色温和照度；根据模组的光学参数生成辅助图表，并将辅助图表设置光源板上。具体的，搭建以对焦测试位为中心，竖直向上、竖直向下、任一水平方向，共三个方向的无穷远/微距(对焦模式)光源板，并调整好光源板的色温和照度到相应的阈值。根据模组的光学参数计算对应的测试距离，在光源板上设置对应视场角下(所述视场角与对焦模式一一对应)对应测试距离下的线宽大小，并生成辅助图表，张贴在三个方向的光源板上。例如：某客户有一个500万像素项目，客户要求对焦距离无穷远为5米，使用增距镜rl2090模拟得出产线光源板到增距镜上表面距离是28.9cm(rl2090)，通过空间震荡频率1/4频换算出需使用0.4mm线宽chart图，对应需贴上竖直向上、竖直向下、正对镜头的水平向右三个方向的光源板环境中。从而满足自动对焦测试的环境，有利于进行后续的自动对焦测试。
48.s302，设置机台与控制设备间的通讯指令，使控制设备能控制机台运动到一个目标位置完成对应的测试。本实施例中，所述机台根据控制设备的指令进行运动，且所述机台与控制设备间通过接收/回复指令的方式进行通讯，具体的，装置启动后，首先由控制设备发出指令，令机台运动至磁滞测试位，机台到达磁滞测试位后，反馈一个信号到控制设备，然后由控制设备控制磁滞测试位的测试装置对待测试组件进行测试，测试完成后，测试装置再反馈一个信号到控制设备，也即机台与控制设备间始终通过接收/回复指令的方式进行通讯，以下流程均按照该方法进行。
49.s400，将待测试组件放入测试治具的测试位中，所述待测试组件由驱动电路供电；所述测试治具设置在机台上，通过机台的运动带动测试治具的运动。本实施例中，所述待测试组件为音圈马达。
50.s500，控制测试治具运动至磁滞测试位，对待测试组件进行马达磁滞测试和稳定时间测试，并生成磁滞测试结果和稳定测试结果，具体的，所述稳定测试结果包括稳定时间测试结果和震荡周期测试结果；s500包括以下步骤：
51.s501，控制测试治具运动至磁滞测试位。
52.s502，获取待测试组件的行程编码范围，根据待测试组件的行程编码范围，生成测试电流值；所述控制设备根据测试电流值，控制驱动电路供给电流至待测试组件，驱动待测试组件进行作动；获取镭射返回待测试组件的来回行程移动量，并生成线性曲线，所述磁滞测试结果包括线性曲线。如图2所示，其测试vcm性能曲线(线性曲线)三个姿势下自动测试相对互相平行、单方向上行程跟下行程基本重合，vcm曲线结果性能达标。
53.s503，获取待测试震荡曲线的行程编码范围；所述待测试组件设有预设阻尼(所述预设阻尼可以施加一个反方向的力，产生一个抑制效果，使得音圈马达能够快速趋于稳定)，在预设阻尼生效的情况下，分析在待测试震荡曲线的行程编码范围内，待测试组件由动态到稳定状态所需的时间，并生成稳定时间测试结果。s504，在预设阻尼生效情况下，分析在待测试震荡曲线的行程编码范围内，待测试组件的震荡周期，并生成震荡周期测试结果。如图3所示，本实施例中，所述稳定时间测试结果在0.3ms内数据曲线后面接近趋于一根直线，经过反向抑制后稳定时间周期短，周期后期趋于一根直线，震荡周期达到模组正常水平：
54.s600，控制测试治具运动至对焦测试位，对待测试组件进行自动对焦测试，并生成对焦测试结果，具体的，进行图表环境下，以对焦测试位为中心，竖直向上、竖直向下、任一水平方向，共三个方向的自动对焦测试；在进行自动对焦测试前，需要提前架设测试环节，包括张贴表图、核对测试距离，以及透镜等。本实施例中，所述对焦测试结果为，远焦环境下竖直向上方向减去水平向右方向得出的姿势差约等于水平向右方向减去竖直向下方向的姿势差dac值，蓝色近焦姿势差也是处于一个约等于状态，固测试三姿态code数据正常，模组性能达标。如表1所示：
55.表1自动对焦测试数据
[0056][0057]
同一方向的马达磁滞测试、稳定时间测试和自动对焦测试后，机台旋转预设角度到达预先调好的位置进行其他方向的各项测试，例如：原位置为测试竖直向上方向，下一测试方向为任一水平方向，将机台旋转九十度，则到达水平位置，直至所有方向的测试完成，即运送待测试组件至待料位。
[0058]
除此之外，本实施例中在依次进行各方向的测试时，为增加产出、减少机台来回移动的时间。在完成第一个方向的马达磁滞测试、稳定时间测试和自动对焦测试后，按照逆序进行下一个放下的测试，以减少机台不必要的来回移动，提升测试效率。
[0059]
s700，根据磁滞测试结果、稳定测试结果和对焦测试结果，生成异常分析结果。本实施例中，s700包括以下步骤：
[0060]
s701，通过测试程序在控制机台竖直向上方向时先测试vcm性能曲线(线性曲线)，判断非线性区域曲线斜率和方差管控直线一致性，以及相同code上行与下行值的最大差异确认数据是否达标。
[0061]
s702，在测试依据所测试出来的震荡周期，来抑制马达震动，以达到令马达快速稳定的效果，计算直到振幅高度收敛到
±
3μm以内的时间。
[0062]
s703，在马达直接模式中测试出马达的震荡曲线，计算两个波峰的时间间隔得出震荡周期。
[0063]
s704，在移动掉镭射头，让摄像头对着向上光源板(贴好的chart图)环境下，依据程序搜寻模组的最佳清晰点，并记录下来，
[0064]
以上s701-s704完成一个方向的所有性能测试后，运控在旋转到向右姿势再进行s701-s704同样完成一轮性能测试，
[0065]
最后再旋转到向下方向在按照s701-s704逻辑最后测试完所有性能，通过(af upward code)
–
(af forward code)约等于(af forward code)-(down)判定posture diff数据是否达标来检验该颗模组最终马达性能是否通过。
[0066]
综上，采用本方案，实现自动化一体的一次性取放料完成，实现检验模组马达性能、震荡周期、code姿势差一次就测试完成功能，判定马达是否通过检测。使用次方法由之前一个小时只能测试5颗料出结果提升到一个小时能出60颗料结果，大大提升测试效率，降低人工成本。机台实现一次安装可同时测试三个环境的效果，防止测试过程中多次的安装、拆卸、移转对待测试组件造成损坏。
[0067]
一种马达测试系统，使用了上述马达测试方法。
[0068]
以上的仅是本发明的实施例，方案中公知的具体结构及特性等常识在此未作过多描述，所属领域普通技术人员知晓申请日或者优先权日之前发明所属技术领域所有的普通技术知识，能够获知该领域中所有的现有技术，并且具有应用该日期之前常规实验手段的能力，所属领域普通技术人员可以在本技术给出的启示下，结合自身能力完善并实施本方
案，一些典型的公知结构或者公知方法不应当成为所属领域普通技术人员实施本技术的障碍。应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本发明的保护范围，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。本技术要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准，说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。