一种用于大功率基站功放的测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试领域，具体涉及一种用于大功率基站功放的测试装置。


背景技术：

2.在射频大功率基站功放功放开发前期，通常需要使用一种手动测试装置进行小批量筛片验证，验证测试结果对功放产品的性能评估和后续设计迭代提供重要依据，其测试稳定性和可靠性对设计公司有着不言而喻的重要性。此外，业内一般采用弹簧卡扣治具来固定芯片，然而芯片在固定过程中发生横向移动，导致反复测试一致性低。
3.因此急需一种测试装置，可以解决芯片在测试时由于芯片在固定过程中发生横向移动导致反复测试一致性低的问题。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是提供一种用于大功率基站功放的测试装置。
5.本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置，包括测试机构(1)和侧推机构(2)；所述侧推机构(2)与所述测试机构(1)一侧相连接。所述测试机构(1)包括底座(11)、承载块(12)和设有与测试芯片(4)相匹配的托架；所述底座(11)顶部开设一与承载块(12)相匹配的承载凹槽(111)；所述承载凹槽(111)底部开设第一方形孔(112)；所述承载块(12)卡合在所述底座(11)顶部的承载凹槽(111)内；所述承载块(12)顶部开设第二方形孔(121)；所述第二方形孔(121)的一侧设有两个并列的狭长凹槽(122)，所述狭长凹槽(122)沿所述第二方形孔(121)向所述承载块(12)的边沿延伸；所述第二方形孔(121)与所述第一方形孔(112)相连通；所述托架底部设有一支撑柱；所述托架和支撑柱为一体结构；所述支撑柱底部穿过所述第二方形孔(121)与侧推机构(2)相连接；所述底座(11)的侧边开设有一个圆孔(113)；所述圆孔(113)与所述第一方形孔(112)连通。所述侧推机构(2)包括第一活动块(21)、第一连杆(22)、设有执行端和固定端的第一肘夹(23)、l形固定板(24)和回弹组件(25)；所述第一活动块(21)顶部开设一凹槽(211)；所述凹槽(211)与所述支撑柱底部卡接；所述第一活动块(21)设置在所述第二方形孔(121)内；所述第一连杆(22)贯穿所述圆孔(113)；所述第一连杆(22)一端固定在所述第一活动块(21)下端；所述第一连杆(22)远离所述第一活动块(21)的一端固定在所述第一肘夹(23)的执行端；所述第一肘夹(23)的固定端固定在所述l形固定板(24)一端，所述l形固定板(24)的另一端固定在所述底座(11)上；所述回弹组件(25)一端固定在所述承载块(12)底部；所述回弹组件(25)另一端与所述第一活动块(21)远离所述第一连杆(22)的一侧相固定。本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置，还包括手测结构(3)；所述手测结构(3)滑动设置在所述测试机构(1)的顶部；所述手测结构(3)包括设有与测试芯片(4)相配合的压接部(39)的按压组件(31)；所述按压组件(31)包括设有手柄的按压力矩组件(311)和第二连杆(312)；所述第二连杆(312)的一端固定在所述压接部(39)的顶部；所述第二连杆(312)的另一端活动连接所述手柄的上端；所述按压力矩组件(311)底部贯穿所述第二连杆(312)。所述手测结构(3)还包括高度微调组
件(32)；所述高度微调组件(32)包括旋转手盘(321)、第一支撑板(323)、第一支撑杆(325)、第二支撑杆(324)、螺纹杆(326)和第二活动块(327)；所述第一支撑板(323)为中间开设有一圆孔(113)的方形板；所述第二活动块(327)纵向方向开设有第一圆柱孔、第二圆柱孔和第三圆柱孔；所述第一支撑杆(325)贯穿所述第一圆柱孔；所述第二支撑杆(324)贯穿所述第二圆柱孔；所述第一支撑杆(325)和所述第二支撑杆(324)一端固定在所述第一支撑板(323)一侧且靠近两端位置；所述第一支撑杆(325)和所述第二支撑杆(324)远离所述第一支撑板(323)的一端固定在所述测试机构(1)顶部；所述螺纹杆(326)一端固定在所述第三圆柱孔内；所述螺纹杆(326)远离所述第二活动块(327)的一端贯穿所述第一支撑板(323)并与所述旋转手盘(321)固定连接。所述高度微调组件(32)还包括带锁舌按钮的锁定机构(322)；所述锁定机构(322)中间开设一与所述螺纹杆(326)相配合的螺纹孔；所述锁定机构(322)固定在所述第一支撑板(323)远离所述第二活动块(327)的一侧；所述螺纹杆(326)贯穿所述锁定机构(322)。所述手测结构(3)还包括横截面为t形的第一固定块(36)、第三支撑杆(35)、第四支撑杆(33)和限位杆(34)；所述第一固定块(36)一侧固定连接在所述第二活动块(327)一侧；所述第一固定块(36)远离所述第二活动块(327)的一侧开有第四圆柱孔、第五圆柱孔和第六圆柱孔；所述第三支撑杆(35)贯穿所述第四圆柱孔；所述限位杆(34)贯穿所述第五圆柱孔且所述限位杆(34)顶部设有限位装置；所述第四支撑杆(33)贯穿所述第六圆柱孔；所述第三支撑杆(35)和所述第四支撑杆(33)一端固定在所述测试机构(1)顶部；所述限位杆(34)远离限位装置的一端固定在所述测试机构(1)顶部。所述手测结构(3)还包括第一支撑臂(38)和第二固定块(37)；所述第一支撑臂(38)和所述第二固定块(37)为一体式结构；所述第一支撑臂(38)一侧与所述按压组件(31)相固定；所述第一支撑臂(38)远离所述按压组件(31)一端固定在所述第二固定块(37)一侧；所述第二固定块(37)远离所述第一支撑臂(38)一侧固定在所述第二活动块(327)远离所述第一固定块(36)一侧。所述底座(11)还包括复数个条形凹槽(114)；所述条形凹槽(114)间隔分布在所述底座(11)的底部。
6.本设计带来的有益效果：
7.1.使用一组按压式机构来替换传统方案中的弹簧卡扣，可反复执行下压和抬起动作，利用手柄力矩，提高了操作的便捷程度；非常适合实验室中的批量手动筛片；
8.2.通过微调组件，可以自适应多种厚度的待测芯片，提高了该治具的通用性和稳定性；
9.3.利用子母件的形式，快速适应芯片厂商众多产品，缩短了制造周期，并降低了成本；
10.4.通过增加内部传动侧推机构(2)，改善测试的稳定性与一致性。
附图说明
11.图1为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的侧推机构(2)和测试机构(1)的主视图；
12.图2为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的主视图；
13.图3为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的手测结构(3)的主视图；
14.图4为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的侧推机构(2)和底座
(11)的俯视图；
15.图5为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的侧推机构(2)和底座(11)的侧面示意图；
16.图6为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的底座(11)的侧面示意图；
17.图7为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的大功率基站功放的俯视图；
18.图8为本实用新型所述的用于大功率基站功放的测试装置的大功率基站功放的剖面示意图。
具体实施方式
19.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
20.本实施例提供一种用于大功率基站功放的测试装置，包括测试机构1和侧推机构2；所述侧推机构2与所述测试机构1一侧相连接。本领域技术人员可以理解，测试时，将芯片安装在测试机构1的顶部，通过侧推机构2将芯片推向一侧使芯片无法横向位移，从而保证测试的一致性。
21.进一步的，所述测试机构1包括底座11和承载块12-；所述底座11顶部开设一与承载块12相匹配的承载凹槽111；所述承载凹槽111底部开设第一方形孔112；所述承载块12卡合在所述底座11顶部的承载凹槽111内。本领域技术人员可以理解，所述承载块12和底座11为子母件设计，针对于不同形态的待测件，只需更换所述承载块12即可，节省了加工成本和时间。
22.进一步的，所述承载块12顶部开设第二方形孔121；所述第二方形孔121的一侧设有两个并列的狭长凹槽122；所述狭长凹槽122沿所述第二方形孔121向所述承载块12的边沿延伸；所述第二方形孔121与所述第一方形孔112相连通。本领域技术人员可以理解，所述第二方形孔121与所述第一方形孔112相连通，可以方便侧推机构2的活动块在所述第二方形孔121与所述第一方形孔112内侧向运动。
23.进一步的，所述测试机构1还包括设有与测试芯片4相匹配的托架图中未示出；所述托架底部设有一支撑柱；所述托架和支撑柱为一体结构；所述支撑柱底部穿过所述第二方形孔121与侧推机构2相连接。本领域技术人员可以理解，将测试芯片4放入托架顶部，通过侧推机构2的运动带动托架的侧向移动，将芯片固定在第二方形孔121一侧，从而固定住芯片，即可实现芯片测试的一致性。
24.进一步的，所述底座11的侧边开设有一个圆孔113；所述圆孔113与所述第一方形孔112连通。本领域技术人员可以理解，所述圆孔113用于侧推机构2使用。
25.进一步的，所述侧推机构2包括第一活动块21、第一连杆22、设有执行端和固定端的第一肘夹23、l形固定板24和回弹组件25；所述第一活动块21顶部开设一凹槽211；所述凹
槽211与所述支撑柱底部卡接；所述第一活动块21设置在所述第二方形孔121内；所述第一连杆22贯穿所述圆孔113；所述第一连杆22一端固定在所述第一活动块21下端；所述第一连杆22远离所述第一活动块21的一端固定在所述第一肘夹23的执行端；所述第一肘夹23的固定端固定在所述l形固定板24一端，所述l形固定板24的另一端固定在所述底座11上；所述回弹组件25一端固定在所述承载凹槽111底部开孔的内壁上；所述回弹组件25另一端与所述第一活动块21远离所述第一连杆22的一侧相固定。本领域技术人员可以理解，通过扳动第一肘夹23带动连杆的水平运动，从而带动第一活动块21的水平运动，将芯片侧推到一侧，从而防止芯片的水平位移，这样可以降低高频场景下工装为规避芯片公差带来的寄生参数，提高测试稳定性；所述第一肘夹23为本领域现有技术，在此不在赘述；所述回弹组件25一方面起到支撑第一活动块21的作用，另一方面能使所述第一活动块21能自动的恢复至初始状态。
26.进一步的，本实施例提供一种用于大功率基站功放的测试装置,还包括手测结构3；所述手测结构3滑动设置在所述测试机构1的顶部。
27.进一步的，所述手测结构3包括设有与测试芯片4相配合的压接部39的按压组件31；所述按压组件31包括设有手柄的按压力矩组件311和第二连杆312；所述第二连杆312的一端固定在所述压接部39的顶部；所述第二连杆312的另一端活动连接所述手柄的上端；所述按压力矩组件311底部贯穿所述第二连杆312。本领域技术人员可以理解，所述按压力矩组件311通过手柄的下压和抬升，使连杆上下运动从而带动压接部39的上下运动，从而实现压接部39与测试芯片4的压接；通过手测结构3使用的按压式组件替换传统方案中的弹簧卡扣，可反复执行下压和抬起动作，简化了测试过程中手动操作步骤，同时借助于长手柄的力矩优势，对比原始弹簧治具，筛片人员操作更便捷，芯片压接效果更佳；所述按压力矩组件311采用现有技术中常见的按压力矩组件，其结构这里不再进行赘述。
28.进一步的，所述手测结构3还包括高度微调组件32；所述高度微调组件32包括旋转手盘321、第一支撑板323、第一支撑杆325、第二支撑杆324、螺纹杆326和第二活动块327；所述第一支撑板323为中间开设有一圆孔的方形板；所述第二活动块327纵向方向开设有第一圆柱孔、第二圆柱孔和第三圆柱孔；所述第一支撑杆325贯穿所述第一圆柱孔；所述第二支撑杆324贯穿所述第二圆柱孔；所述第一支撑杆325和所述第二支撑杆324一端固定在所述第一支撑板323一侧且靠近两端位置；所述第一支撑杆325和所述第二支撑杆324远离所述第一支撑板323的一端固定在所述测试机构1顶部；所述螺纹杆326一端固定在所述第三圆柱孔内；所述螺纹杆326远离所述第二活动块327的一端贯穿所述第一支撑板323并与所述旋转手盘321固定连接。本领域技术人员可以理解，通过手盘的顺/逆时针方向旋转带动螺纹杆326上下移动带第二动活动块的上下运动，即能实现高度微调组件32的上下微调移动，此设计能自适应测量多种厚度的待测芯片，提高了该治具的通用性和稳定性。
29.进一步的，所述高度微调组件32还包括带锁舌按钮的锁定机构322；所述锁定机构322中间开设一与所述螺纹杆326相配合的螺纹孔；所述锁定机构322固定在所述第一支撑板323远离所述第二活动块327的一侧；所述螺纹杆326贯穿所述锁定机构322。本领域技术人员可以理解，当高度微调组件32达到测量芯片所需位置时，通过按压锁舌按钮将螺纹杆326固定在锁定机构322的螺纹孔中，方便测试人员后续的长时间测量。
30.进一步的，所述手测结构3还包括横截面为t形的第一固定块36、第三支撑杆35、第
四支撑杆33和限位杆34；所述第一固定块36一侧固定在所述第二活动块327一侧；所述第一固定块36远离所述第二活动块327的一侧开有第四圆柱孔、第五圆柱孔和第六圆柱孔；所述第三支撑杆35贯穿所述第四圆柱孔；所述限位杆34贯穿所述第五圆柱孔且所述限位杆34顶部设有限位装置；所述第四支撑杆33贯穿所述第六圆柱孔；所述第三支撑杆35和所述第四支撑杆33一端固定在所述测试机构1顶部；所述限位杆34远离限位装置的一端固定在所述测试机构1顶部。本领域技术人员可以理解，设置支撑杆能更好的起到固定导向的作用，设置限位杆34可以防止操作人员在转动微调组件过程，微调距离过大，导致芯片压接不贴合影响测试的准确性。
31.进一步的，所述手测结构3还包括第一支撑臂38和第二固定块37；所述第一支撑臂38和所述第二固定块37为一体式结构；所述第一支撑臂38一侧与所述按压组件31相固定；所述第一支撑臂38远离所述按压组件31一端固定在所述第二固定块37一侧；所述第二固定块37远离所述第一支撑臂38一侧固定在所述第二活动块327远离所述第一固定块36一侧。本领域技术人员可以理解，设置第一支撑臂38和第二固定块37是为了支撑固定按压组件31和高度微调组件32，高度微调组件32的上下微调能带动按压组件31的上下微调，从而实现不同厚度芯片的测试。
32.进一步，所述底座11还包括复数个条形凹槽114；所述条形凹槽114间隔分布在所述底座11的底部。本领域技术人员可以理解，所述底座11设计为复数个条形凹槽114，是为了增大散热面积，提高散热效率。
33.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。