测试连接器的制作方法

1.本实用新型涉及电连接器技术领域，特别是涉及一种测试连接器。


背景技术：

2.随着通讯信息技术的迅速发展，手机已经成为人们日常生活中不可或缺的一部分。对于手机制造厂商来说，如何大批量准确检测和生产成为其亟需解决的关键技术问题。针对目前用于手机测试中的同轴连接器座，为测试其性能，均有对应的测试连接器与其对配测试。但通常测试连接器的测试头外壳与同轴连接器座的外壳的接触区域直接裸露在外，会造成射频信号流失，在测试过程中容易造成失真，影响测试结果。
3.因此，亟需一种测试连接器，可减少射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高测试结果的准确度。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种测试连接器，具有优异的接触稳定性，且可减少射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高测试结果的准确度。
5.为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：
6.一种测试连接器，包括金属上壳、金属下壳、套管、中心针、第一绝缘子、第二绝缘子与弹簧，其中：
7.所述金属下壳套设在所述金属上壳的下侧，所述弹簧套设在所述金属上壳的外侧且与所述金属下壳的上侧面抵接；
8.所述金属下壳的下侧设有爪状结构，所述套管套设在所述金属下壳的下侧，且所述爪状结构位于所述套管内；
9.所述中心针贯穿设置于所述金属上壳与所述金属下壳内部，所述中心针通过所述第一绝缘子与所述金属上壳绝缘相接，所述中心针通过所述第二绝缘子与所述金属下壳绝缘相接。
10.优选地，所述金属下壳包括从上至下依次设置的筒状结构、台阶结构与爪状结构，所述套筒套设在所述台阶结构的外侧，所述爪状结构位于所述套筒内部。
11.优选地，所述爪状结构包括竖直段与敞口段，所述竖直段与所述台阶结构相接，所述敞口段的外径随与所述台阶结构的距离增大而增大。
12.优选地，所述爪状结构的内侧还设置有凸台，所述凸台设置于所述竖直段与所述敞口段相接处。
13.优选地，所述爪状结构中爪的数量为2个、3个、4个、5个或6个。
14.优选地，还包括固定法兰，所述固定法兰套设在所述金属上壳的上侧。
15.优选地，还包括设置在所述金属上壳与所述固定法兰之间的第三绝缘子，所述第三绝缘子套设在所述金属上壳的外侧，所述绝缘子的下侧面与所述弹簧抵接。
16.优选地，所述中心针包括固定探针、内置弹簧与活动探针，所述固定探针的上侧通
过所述第一绝缘子固定在所述金属上壳的内部，所述固定探针的下侧为下端开口的凹槽结构，所述内置弹簧位于所述凹槽结构内，所述内置弹簧的下端与所述活动探针连接。
17.本实用新型的有益效果在于：通过在金属下壳的底部设置爪状结构，可以有效提高测试连接器与待测连接器的接触稳定性，增强接地效果，与此同时，并在金属下壳的底部套设套筒，避免射频信号的泄露，对于信号传输具有优异的屏蔽效果，减少了射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高了测试连接器的测试准确度，同时还具有保护爪状结构的作用，增强测试连接器的可靠性以及提高测试连接器的使用寿命。
附图说明
18.图1为本实用新型实施例中测试连接器的结构示意图；
19.图2为本实用新型实施例中测试连接器的剖面示意图；
20.图3为本实用新型实施例中测试连接器的结构爆炸示意图；
21.图4为本实用新型实施例中金属下壳的结构示意图；
22.图5为本实用新型实施例中金属下壳的剖面示意图。
23.附图标记：10、金属上壳；20、金属下壳；21、筒状结构；22、台阶结构；23、爪状结构；231、竖直段；232、敞口段；233、凸台；30、套筒；40、中心针；50、第一绝缘子；60、第二绝缘子；70、弹簧；80、第三绝缘子；90、固定法兰。
具体实施方式
24.为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。
25.本技术实施例通过提供一种测试连接器，解决现有技术中测试连接器与同轴连接器座的外壳的接触区域直接裸露在外，会造成射频信号流失，在测试过程中容易造成失真的技术问题。需要说明的是，在本技术中，金属上壳相对于金属下壳所在的方向为上、上侧、上部、上端或者顶、顶部，与之相反的方向为下、下侧、下部、下端或者底、底部。
26.如图1至图5所示，为本技术实施例：
27.一种测试连接器，包括金属上壳10、金属下壳20、套管30、中心针40、第一绝缘子50、第二绝缘子60与弹簧70。其中，金属下壳20套设在金属上壳10的下侧，弹簧70套设在金属上壳10的外侧，且与金属下壳20的上侧面抵接。金属下壳20的下侧设有爪状结构23，套管30套设在爪状结构23的外侧，即套管30套设在金属下壳20的下侧，爪状结构23位于套管30的内部，防止射频信号从爪状结构23处泄露造成信号失真，同时还可以防止爪状结构23过度变形影响测试连接器的使用稳定性能，进而有利于提高测试连接器的使用寿命。一般而言，金属上壳10与金属下壳20为同轴设置的圆筒型结构，中心针40贯穿设置于金属上壳10与金属下壳20的内部。中心针40的上侧通过第一绝缘子50与金属上壳10绝缘相接，其下侧通过第二绝缘子60与金属下壳20绝缘相接，与此同时，通过设置第一绝缘子50与第二绝缘子60可以防止中心针40在测试过程中发生晃动，在提高中心针40结构强度的同时，还有利
于保证测试的准确度。
28.为解决现有技术中测试连接器与同轴连接器座的外壳的接触区域直接裸露在外，会造成射频信号流失，在测试过程中容易造成失真的技术问题，本技术通过在金属下壳的底部设置爪状结构，可以有效提高测试连接器与待测连接器的接触稳定性，增强接地效果，与此同时，并在金属下壳的底部套设套筒，避免射频信号的泄露，对于信号传输具有优异的屏蔽效果，减少了射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高了测试连接器的测试准确度，同时还具有保护爪状结构的作用，增强测试连接器的可靠性以及提高测试连接器的使用寿命。
29.优选地，如图4与图5所示，金属下壳20包括从上至下依次设置的筒状结构21、台阶结构22与爪状结构23。套筒30套设在台阶结构22的外侧，爪状结构23位于套筒30的内部。更为具体地，台阶结构22的最大外径不大于筒状结构21的外径，且台阶结构22的最大外径大于爪状结构23的最大外径，这样可以确保爪状结构23位于套筒30内部具有一定的弹性空间，进而有利于改善测试连接器与待测连接器的接触性能与接地效果。
30.优选地，爪状结构23包括竖直段231与敞口段232，竖直段231与台阶结构22相接，敞口段232的外径随与台阶结构22的距离增大而增大。敞口段232在测试连接器测试过程中具有导引作用，增大测试连接器与待测连接器外壳的接触面积，进而有利于保障其接触稳定性与接地效果。更为具体地，爪状结构23的内侧还设有凸台233，凸台233设置于竖直段231与敞口段232相接处。敞口段232在测试过程中导引待测连接器与凸台233接触，可进一步增大测试连接器与待测连接器的接触面积，同时还有助于防止因反复测试堆积尘螨等异物造成的接触不稳定的现象，进一步提高测试连接器与待测连接器的接触稳定性，极大地提高了其接地效果。
31.爪状结构23中爪的数量可以是两个或多个。优选地，爪状结构23中爪的数量为2个、3个、4个、5个或6个。示例性的，如图4所示，爪状结构23由6个沿圆周方向均匀分布的爪构成。在一些具体实施方式中，爪的数量还可以是7个或8个，此处不再一一赘述。
32.优选地，测试连接器还包括固定法兰90，固定法兰90套设在金属上壳10的上侧，用于将金属上壳10固定在测试夹具工装(图中未示出)上。一般而言，固定法兰90上设有多个安装孔。更为具体地，测试连接器还包括设置在金属上壳10与固定法兰90之间的第三绝缘子80，第三绝缘子80套设在金属上壳10的外侧，第三绝缘子80的下侧面与弹簧70抵接。固定法兰90与第三绝缘子80构成的组合件可以自由地沿着金属上壳10的外周进行轴向移动，由于测试夹具工装是通过固定法兰90固定到测试连接器的，测试夹具工装带动固定法兰90弹性地活动，使得测试夹具工装与测试连接器之间形成可弹性的接地活动，避免测试过程中对测试连接器造成损伤。
33.在一些实施方式中，中心针为一体成型的探针结构；在一些实施方式中，中心针包括固定探针、内置弹簧与活动探针(图中未示出)。固定探针的上侧通过第一绝缘子50固定在金属上壳10的内部，固定探针的下侧为下端开口的凹槽结构，内置弹簧位于凹槽结构内，且内置弹簧的下端与活动探针连接，活动探针的下侧通过第二绝缘子60与金属下壳20绝缘相接。
34.在本技术一具体实施方式中，测试连接器是通过以下具体实施步骤组装的：
35.1)将中心针40装配到第一绝缘子50上；
36.2)再将装配好的中心针40与第一绝缘子50插入金属上壳10里；
37.3)将固定法兰90套设在金属上壳10的上侧，同时装入第三绝缘子80和弹簧70；
38.4)将第二绝缘子60自上而下装入金属下壳20内；
39.5)将装好的金属下壳20预装在已经装配好的金属上壳10上进行铆压；
40.6)将套筒30装在金属下壳20的底部，使其爪状结构23位于套筒内部。
41.综上所述，本组装工艺简单，能够有效降低组装生产不良率，提高生产效率，降低生产成本，有利于测试连接器在工业上的推广与应用。
42.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
43.以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。