CMOS图像传感器测试机的制作方法

本技术涉及半导体测试领域，具体而言，本技术涉及一种cmos图像传感器测试机。

背景技术：

1、cmos图像传感器具有集成度高、功耗低、成本低等一系列优点，已经成为了互联网和物联网应用的核心传感器件。而cmos图像传感器的设计、生产、封测等环节离不开测试过程，测试过程甚至能决定cmos图像传感器的质量。

2、目前，主要使用ate设备和外接图像采集卡组合方式对cmos图像传感器进行测试，此方案通过ate设备对cmos图像传感器进行电性测试，再通过外接图像采集卡对cmos图像传感器进行图像测试。但是，该方案存在集成度低造成测试成本高、占地面积大不利于生产线部署、系统复杂导致故障排查效率低等缺点。

3、由此可见，使用ate设备和外接图像采集卡组合方式，对cmos图像传感器进行测试成本高成为了亟需解决的问题。

技术实现思路

1、本实用新型各实施例提供了一种cmos图像传感器测试机，可以解决相关技术中使用ate设备和外接图像采集卡组合方式对cmos图像传感器进行测试成本高的问题。所述技术方案如下：

2、根据本实用新型实施例的一个方面，一种cmos图像传感器测试机，所述cmos图像传感器测试机(cis测试机)包括：主控芯片、测量单元、以及开关矩阵单元，其中，所述主控芯片包括图像测试模块和电性测试模块，并与所述开关矩阵单元相连，用于将上位机发送的测试信号传输至所述开关矩阵单元；所述开关矩阵单元，用于根据所述测试信号分别将所述图像测试模块或者所述电性测试模块，与待测器件(dut)的不同引脚导通，所述引脚包括电源引脚和图像输出引脚；当所述电性测试模块通过所述开关矩阵单元分别与所述dut的电源引脚和/或所述图像输出引脚导通，所述主控芯片控制所述测量单元采集所述dut的电性参数，并将所述电性参数传输至所述电性测试模块进行电性测试；当所述图像测试模块通过所述开关矩阵单元与所述dut的图像输出引脚导通，所述主控芯片控制所述图像测试模块对所述dut输出的图像数据进行采集和图像测试。

3、在一示例性实施例中，所述开关矩阵单元包括高速信号开关组和低速信号开关组，其中，所述高速信号开关组包括第一输入端、第一开关部和第二开关部，所述第一输入端与所述主控芯片相连，所述第一开关部用于导通所述测量单元与所述dut的图像输出引脚，所述第二开关部用于导通所述图像测试模块与所述dut的图像输出引脚；所述低速信号开关组包括第二输入端和第三开关部，所述第二输入端与所述主控芯片相连，所述第三开关部用于导通所述测量单元与所述dut的电源引脚。

4、在一示例性实施例中，所述引脚还包括输入输出引脚；所述低速信号开关组还包括第四开关部和第五开关部，所述第四开关部用于导通所述测量单元与所述dut的输入输出引脚，所述第五开关部用于导通所述主控芯片与所述dut的输入输出引脚。

5、在一示例性实施例中，所述cis测试机还包括电源输出单元；所述低速信号开关组还包括第六开关部和第七开关部，所述第六开关部，用于在所述电源输出单元与所述dut的电源引脚导通时，将所述电源输出单元输出的电源电压传输至所述dut；所述第七开关部，用于在所述电源输出单元与所述dut的电源引脚导通时，将所述dut的工作电压传输至所述电源输出单元。

6、在一示例性实施例中，所述cis测试机还包括电源输出单元，其中，所述电源输出单元包括电压输出模块，用于向所述dut提供电源电压，作为所述dut的工作电压。

7、在一示例性实施例中，所述电源输出单元还包括电压采集模块和电压补偿模块，其中，所述电压采集模块，与所述电压补偿模块相连，用于采集所述dut的工作电压，并将所述工作电压传输至所述电压补偿模块；所述电压补偿模块，与所述电压输出模块相连，用于计算所述电源电压与所述工作电压的差值，并将所述差值反馈至所述电压输出模块，使得所述电压输出模块根据所述差值调节所述电源电压。

8、在一示例性实施例中，所述电源输出单元还包括过流保护模块，所述过流保护模块包括电流输入端和控制输出端，其中，所述电流输入端连接在所述电压输出模块与所述开关矩阵单元的中间节点，用于采集所述电压输出模块与所述开关矩阵单元之间的电流；所述控制输出端与所述电压输出模块相连，用于在所述电压输出模块与所述开关矩阵单元之间的电流超过电流阈值时，向所述电压输出模块发送关断控制信号，使得所述电压输出模块根据所述关断控制信号停止向所述dut提供所述电源电压。

9、在一示例性实施例中，所述测量单元包括模数转换(adc)模块，用于将所述dut经过模数转换处理的电性参数传输至所述电性测试模块进行电性测试。

10、在一示例性实施例中，所述测量单元还包括滤波模块，与所述adc模块相连，用于将所述dut经过滤波处理的电性参数传输至所述adc模块进行模数转换处理。

11、在一示例性实施例中，上述实施例的所述cis测试机，还包括为所述cis测试机供电的供电模块。

12、本实用新型提供的技术方案带来的有益效果是：

13、在上述技术方案中，本实用新型提供的cis测试机集合了图像采集功能和电性测试功能，在一台cis测试机上就可完成针对cmos图像传感器的电性测试和图像测试，解决了相关技术中需要使用ate设备和外接图像采集卡组合方式对cmos图像传感器进行测试成本高的问题。

技术特征：

1.一种cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述cmos图像传感器cis测试机包括：主控芯片、测量单元、以及开关矩阵单元，其中，

2.如权利要求1所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述开关矩阵单元包括高速信号开关组和低速信号开关组，其中，

3.如权利要求2所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述引脚还包括输入输出引脚；

4.如权利要求3所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述cis测试机还包括电源输出单元；

5.如权利要求1所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述cis测试机还包括电源输出单元，其中，

6.如权利要求5所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述电源输出单元还包括电压采集模块和电压补偿模块，其中，

7.如权利要求5所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述电源输出单元还包括过流保护模块，所述过流保护模块包括电流输入端和控制输出端，其中，

8.如权利要求1所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述测量单元包括模数转换adc模块，用于将所述dut经过模数转换处理的电性参数传输至所述电性测试模块进行电性测试。

9.如权利要求8所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述测量单元还包括滤波模块，与所述adc模块相连，用于将所述dut经过滤波处理的电性参数传输至所述adc模块进行模数转换处理。

10.如权利要求1至9任一项所述的cmos图像传感器测试机，其特征在于，所述cis测试机还包括为所述cis测试机供电的供电模块。

技术总结
本技术提供了一种CMOS图像传感器测试机，涉及半导体测试领域。其中，该CMOS图像传感器测试机包括：主控芯片、测量单元、以及开关矩阵单元，所述主控芯片包括图像测试模块和电性测试模块，并与所述开关矩阵单元相连，用于将上位机发送的测试信号传输至所述开关矩阵单元；所述开关矩阵单元，用于根据所述测试信号分别将所述图像测试模块或者所述电性测试模块，与待测器件(DUT)的不同引脚导通，所述引脚包括电源引脚和图像输出引脚；开关矩阵单元可控制DUT的电源引脚和/或图像输出引脚与电性测试模块和/或图像测试模块。本技术解决了相关技术中使用ATE设备和外接图像采集卡组合方式对CMOS图像传感器进行测试成本高的问题。

技术研发人员：王林旺,谭湘,王志浩,操文武
受保护的技术使用者：深圳市辰卓科技有限公司
技术研发日：20220805
技术公布日：2024/1/12