一种光模块测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件的技术领域，特别涉及一种光模块测试系统。


背景技术：

2.光模块(optical module)由光电子器件、功能电路和光接口等组成，其通过发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，进而完成信息的传输。
3.光模块在完成生产后还必须要进行测试，只有所有的参数都达到要求才可以保证光模块的质量，这些测试包括但不限于发光和收光测试、眼图和消光比测试、高低温老化测试、兼容性连通测试及端面清洁；这其中前两项尤为重要，其直接与光模块的信号输出相关。
4.对于发光和收光测试，可以通过测试输出光功率来实现，测试输出光功率是可以决定光模块传输距离和质量的重要参数，接收灵敏度可以决定光模块收光的灵敏程度，一般来说，光模块速率越高，接收灵敏度越差。
5.对于眼图、消光比测试，以示波器对数字信号多次采集并叠加显示的结果，可以直观地反映被测信号是否丢包、信号传输是否良好，而消光比是用于衡量光模块质量的参数之一，消光比越大、光信号可被接收辨别能力就越强，接收灵敏度就会越高，消光比和光功率成反比，在测试过程可发现消光比越大，发射光功率就越小。
6.然而现有技术中，在各种光模块的生产调试过程中，光模块发射端的消光比是一个难以测量而又至关重要的参数，一般采用高速采样示波器，如agilent 86100系列进行测试，成本高昂；为了降低测试成本，现有技术中有人采用高速adc+高速采样保持电路为核心制作消光比测试仪，但是这种方案实施起来难度极大，而且对应光模块的工作速率越高，方案难度成倍增加，甚至达到无法实现的程度。
7.进一步来说，现有技术对于光模块的测试需要需要重复大量机械化操作，并不适合对大批量的光模块产品进行有序测试作业。


技术实现要素：

8.本实用新型解决了现有技术中存在的问题，提供了一种光模块测试系统。
9.本实用新型所采用的技术方案是，一种光模块测试系统，配合光模块设置，所述系统包括：
10.一预调节模块，配合光模块的输出端设置，用于对待测的光模块的输出光进行处理；
11.一分光模块，用于对处理后的输出光进行分光处理；
12.若干输出接插串口，用于将分光后的输出光输入不同的光测试仪器；
13.若干输出接插串口，用于获取光测试仪器的输出信号并输出；
14.一上位机，用于与分光模块配合及获取任意个输出接插串口的输出信号；
15.一适配器，配置有调节模块，用于获取上位机的输出信号并通过调节模块连接至待测的光模块。
16.优选地，所述预调节模块包括光功率调节器，所述光功率调节器与上位机配合设置。
17.优选地，所述光功率调节器为光衰减器。
18.优选地，所述预调节模块还包括可调滤光器，所述可调滤光器上沿光模块的输出光方向可拆卸设有滤光片。
19.优选地，所述分光模块为光分路器，所述光分路器包括一入射通道和若干出射通道。
20.优选地，对应任一出射通道配合有可调遮光片，所述可调遮光片与上位机配合设置。
21.优选地，所述光测试仪器包括光功率计、oma测试仪、光谱分析仪；任一光测试仪器对应一组输出接插串口和输出接插串口。
22.优选地，所述光分路器的出射通道的数量大于等于输出接插串口和输出接插串口的组数。
23.优选地，任一光测试仪器和/或任一组输出接插串口和输出接插串口与上位机通过继电器连通。
24.优选地，配合所有的所述输出接插串口的继电器设有延时单元。
25.本实用新型提供了一种光模块测试系统，配合光模块设置，以预调节模块配合光模块的输出端，对待测的光模块的输出光进行处理；以分光模块对处理后的输出光进行分光处理，以若干输出接插串口和若干输出接插串口配合接入光测试仪器，分别输入分光后的输出光、输出测试信号，以上位机与分光模块配合、获取任意个输出接插串口的输出信号，以配置调节模块的适配器获取上位机的输出信号，通过调节模块连接至待测的光模块。
26.本实用新型的有益效果在于：
27.（1）操作简单，仅需要连接待测光模块、配置光测试仪器即可；
28.（2）同时或按需设置时间间隔，获取包括但不限于平均光功率和光调制幅度等的参数，并可以即时调节或通过调节检测输出，判断问题，适用于多种应用环境；
29.（3）大幅降低光模块检测的成本。
附图说明
30.图1为本实用新型的结构框图，其中，实线箭头表示信号输出的方向，虚线箭头表示可插拔状态下的信号输出方向；
31.图2为本实用新型的可调滤光器的结构示意图；
32.图3为本实用新型的可调滤光器与滤光片配合的示意图；
33.图4为本实用新型的出射通道的结构示意图。
具体实施方式
34.下面结合实施例对本实用新型做进一步的详细描述，但本实用新型的保护范围并
不限于此。
35.本实用新型涉及一种光模块测试系统，配合光模块设置，所述系统包括：
36.一预调节模块，配合光模块的输出端设置，用于对待测的光模块的输出光进行处理；
37.一分光模块，用于对处理后的输出光进行分光处理；
38.若干输出接插串口，用于将分光后的输出光输入不同的光测试仪器；
39.若干输出接插串口，用于获取光测试仪器的输出信号并输出；
40.一上位机，用于与分光模块配合及获取任意个输出接插串口的输出信号；
41.一适配器，配置有调节模块，用于获取上位机的输出信号并通过调节模块连接至待测的光模块。
42.本实用新型中，通过搭建此系统，完成了单个光模块单次多个测试数据的收集，进而大幅缩短了测试时间和调试时间，整体测试可控，成本较低。
43.所述预调节模块包括光功率调节器，所述光功率调节器与上位机配合设置。
44.所述光功率调节器为光衰减器。
45.所述预调节模块还包括可调滤光器1，所述可调滤光器1上沿光模块的输出光方向可拆卸设有滤光片2。
46.本实用新型中，预调节一般用于完成输出光信号的预处理作业。
47.本实用新型中，以待测光模块的光信号输入至光衰减器中，通过调整光衰减器衰减值，使输出光功率达到合适的光功率；此调节可以通过测试人员对上位机的控制完成。
48.本实用新型中，同时可以对衰减后的光信号增加滤光，用于仿造不同的应用环境，对光信号的实际应用进行模拟，使得测试环境更为符合实际的应用场景；在应用中，可调滤光器1的滤光片2可以基于需求拆卸和安装，快速、便利地完成操作。
49.所述分光模块为光分路器，所述光分路器包括一入射通道和若干出射通道3。
50.对应任一出射通道3配合有可调遮光片4，所述可调遮光片4与上位机配合设置。
51.本实用新型中，对输出的光信号进行分路，分路器为1：n分路器，n大于等于1，对应一个或多个出射通道3均设置可调遮光片4，通过上位机的控制，调节一个或多个遮光片工作，进而实现光路的分路。
52.本实用新型中，遮光片4可以通过直接在光路中设置阻挡件，如通过电磁开关5设置阻挡件，对应的某些分路的光路接入光测试仪器并上电，此时光路中对应的电磁开关5（电磁铁）通电，阻挡件被拉开、光路实现导通，电磁开关5（电磁铁）的通电通过上位机控制；当然，本领域技术人员亦可以在光路中设置调光玻璃，当某些分路的光路接入光测试仪器并上电，对应的光路的调光玻璃为全透明，此时光路实现导通，而其他光路保持不导通状态，调光玻璃的启闭调节通过上位机控制。
53.所述光测试仪器包括光功率计、oma测试仪、光谱分析仪；任一光测试仪器对应一组输出接插串口和输出接插串口。
54.本实用新型中，直接设置成组的输出接插串口和输出接插串口，可以在每组输出接插串口和输出接插串口间基于需求设置光测试仪器，进而实现单次多测试数据的获取。
55.所述光分路器的出射通道3的数量大于等于输出接插串口和输出接插串口的组数。
56.任一光测试仪器和/或任一组输出接插串口和输出接插串口与上位机通过继电器连通。
57.本实用新型中，以光分路器的出射通道3数量保证测试可以无障碍执行，同时光分路器可以设置检测位，实时对光分路器的分路信号进行采样检测，确保其工作的连贯，及时对故障进行处理。
58.本实用新型中，通过上位机控制对应的继电器，进而实现不同的、已经接入的光测试仪器的工作控制，此为本领域技术人员容易理解的内容，本领域技术人员可以依据需求自行设置。
59.本实用新型中，通过这种结构，可以进一步实现光模块的远程测试，进而使得批量化检测成为可能。
60.本实用新型中，上位机一般可以为pc机，基于此，所有的串口可以通过总线接入后与pc机连接。
61.配合所有的所述输出接插串口的继电器设有延时单元。
62.本实用新型中，通过为继电器设置延时单元，可以实现单次、多光测试仪器的分时段数据采集，进而本系统既可以实现单参数调节，亦可以实现多参数调节；延时单元可以直接与继电器进行配合，一般采用电磁式时间继电器或电子式时间继电器，并实现通电延时。
63.本实用新型中，适配器一般为usb转i2c适配器，其配置的调节模块用于调节待测光模块的偏置电流和调制电流。
64.本实用新型中，给出一种实施例：
65.通过1：n的光分路器，可以将光信号分成多路（n路），此处以n为2为例，
66.其中一路通过输出接插串口输入光功率计，测出平均光功率 pavg，通过输出接插串口输出pavg值；
67.另一路通过输出接插串口输入oma测试仪，测出光调制幅度oma，通过输出接插串口输出oma值；
68.测得的值发送至上位机，上位机经过预设的计算式，可以得到对应的光检测数据，如消光比er；
69.上位机通过usb转i2c适配器总线控制待测光模块，不断调整激光器驱动芯片的偏置电流和调制电流，结合控制，将待测光模块的检测数据，如消光比调整到目标值。