一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试方法、系统及装置与流程

本发明属于光通信，具体涉及一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试方法、系统及装置。

背景技术：

1、在光纤通信中，波长可调谐的光模块一直是被广泛研究的课题。波长可调谐光模块不仅可以充分利用dwdm(dense wavelength division multiplexing，密集型光波复用)系统光纤的带宽资源，极大地提高了网络系统的通信容量，同时相比固定波长的dwdm光模块，在组网、备料等环节更加灵活多变，并且还能作为传统dwdm系统的备份光源，是智能光网络的关键因素。不同的光模块厂商使用的可调谐激光器采用的技术不同，并且不同的光模块厂商对波长调谐的控制方法的差异，使得不同厂家的可调谐光模块的波长调谐时间可能存在较大差异，随着可调谐光模块的应用，对波长调谐的要求越来越高，而波长调谐时间作为评估调谐功能的一项主要指标，而不同的应用场景对波长调谐时间的要求也不一样，均需要对波长调谐时间进行测试。

2、因此，亟需提供一种方法，能够高效、准确地对波长可调谐光模块波长调谐时间进行测试。

技术实现思路

1、为解决上述背景技术中提出的问题，本发明提供了一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试方法、系统及装置，具有测试环境容易搭建、可以准确测试出波长调谐时间、测试效率高并可实现自动化测试的特点。

2、为了方便理解本发明的技术内容，将本发明涉及名词解释如下：

3、mcu：微控制器，用于与光模块进行通信，通过i2c通信接口调谐被测光模块发射的光信号的波长至目标波长，且包含一个边沿检测模块，用于检测被测光模块和辅助光模块的rxlos引脚的电平信号的变化情况，以及记录两种电平信号变化之间的时钟数。

4、被测光模块：包括可调谐激光器，被测光模块可以通过控制可调谐激光器使激光器发射不同波长的光信号；且含有rxlos功能，用于检测输入的光信号的变化情况。

5、辅助光模块：可以不包括光源，但必须含有用于检测输入的光信号的变化情况的rxlos功能。

6、rxlos：用于检测输入的光信号强度的变化情况，通常有光信号输入时rxlos的引脚状态为低电平，无光信号输入时rxlos的引脚状态为高电平。

7、demux：解复用器，在本发明中主要是指wdm demux，一路光信号输入，多路光信号输出，demux的作用是将不同波长的光信号分离出来，然后从对应的波长通道输出。

8、为实现上述目的，本发明的第一方面提供了一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试方法，包括：

9、s1，调谐被测光模块发射的光信号的波长至第一标准波长值，得到第一调谐光信号；

10、s2，第一调谐光信号由demux的第一通道传输至被测光模块；

11、s3，调谐第一调谐光信号的波长至第二标准波长值，得到第二调谐光信号；

12、s4，所述第二调谐光信号由demux的第二通道传输至辅助光模块；

13、s5，检测并记录被测光模块的第一边沿变化参数和辅助光模块的第二边沿变化参数；

14、s6，根据第一边沿变化参数和第二边沿变化参数，计算被测光模块的波长调谐时间。

15、作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤s1，调谐被测光模块发射的光信号的波长至第一标准波长值，得到第一调谐光信号，之前，还包括：

16、步骤s11，设定mcu工作主频；

17、步骤s12，设定边沿检测模块的时钟源为mcu工作主频的n分频。

18、作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤s1，调谐被测光模块发射的光信号的波长至第一标准波长值，得到第一调谐光信号，其中，所述第一标准波长值为demux的第一通道的波长值。

19、作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤s3，调谐第一调谐光信号的波长至第二标准波长值，得到第二调谐光信号，其中，所述第二标准波长值为demux的第二通道的波长值。

20、作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤s5，检测并记录被测光模块的第一边沿变化参数和辅助光模块的第二边沿变化参数，其中，

21、所述第一边沿变化参数包括：当第一调谐光信号被调谐为第二调谐光信号时，边沿检测模块检测到被测光模块状态变化时运行的时钟数；

22、所述第二边沿变化参数包括：当第一调谐光信号被调谐为第二调谐光信号时，边沿检测模块检测到辅助光模块状态变化时运行的时钟数。

23、作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤s5，检测并记录被测光模块的第一边沿变化参数和辅助光模块的第二边沿变化参数，还包括：步骤s51，停止检测和记录。

24、作为上述技术方案的进一步描述：所述步骤s6，根据第一边沿变化参数和第二边沿变化参数，计算被测光模块的波长调谐时间，还包括：

25、步骤s61，根据以下算法计算波长调谐时间：

26、

27、其中，t是波长调谐时间，

28、f是mcu工作主频，

29、n是设定边沿检测模块的时钟源为mcu工作主频的n分频，

30、count1是第一边沿变化参数，

31、count2是第二边沿变化参数，

32、trxlosa1是第一误差系数，

33、trxlosd2是第二误差系数。

34、本发明的第二方面，提供了一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试系统，包括：第一调谐模块，第一传输模块，第二调谐模块，第二传输模块，边沿检测模块和计算模块，

35、所述第一调谐模块，用于调谐被测光模块发射的光信号的波长至第一标准波长值，得到第一调谐光信号；

36、所述第一传输模块，用于将第一调谐光信号由demux的第一通道传输至被测光模块；

37、所述第二调谐模块，用于调谐第一调谐光信号的波长至第二标准波长值，得到第二调谐光信号；

38、所述第二传输模块，用于将第二调谐光信号由demux的第二通道传输至辅助光模块；

39、所述边沿检测模块，用于检测并记录被测光模块的第一边沿变化参数和辅助光模块的第二边沿变化参数；

40、所述计算模块，用于根据第一边沿变化参数和第二边沿变化参数，计算被测光模块的波长调谐时间。

41、作为上述技术方案的进一步描述：还包括：第一设定模块和第二设定模块，

42、所述第一设定模块，用于设定mcu工作主频；

43、所述第二设定模块，用于设定边沿检测模块的时钟源为mcu工作主频的n分频。

44、作为上述技术方案的进一步描述：所述第一标准波长值为demux的第一通道的波长值。

45、作为上述技术方案的进一步描述：所述第二标准波长值为demux的第二通道的波长值。

46、作为上述技术方案的进一步描述：所述第一边沿变化参数包括：当第一调谐光信号被调谐为第二调谐光信号时，边沿检测模块检测到被测光模块状态变化时运行的时钟数。

47、作为上述技术方案的进一步描述：所述第二边沿变化参数包括：当第一调谐光信号被调谐为第二调谐光信号时，边沿检测模块检测到辅助光模块状态变化时运行的时钟数。

48、作为上述技术方案的进一步描述：还包括：边沿检测控制模块，用于指示边沿检测模块停止检测和记录。

49、作为上述技术方案的进一步描述：所述计算模块，用于根据以下算法计算波长调谐时间：

50、

51、其中，t是波长调谐时间，

52、f是mcu工作主频，

53、n是设定边沿检测模块的时钟源为mcu工作主频的n分频，

54、count1是第一边沿变化参数，

55、count2是第二边沿变化参数，

56、trxlosa1是第一误差系数，

57、trxlosd2是第二误差系数。

58、本发明的第三方面，提供了一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试装置，其特征在于，采用如上所述的测试方法进行测试。

59、与现有技术相比，本发明提出一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试方法、系统及装置，具有测试环境容易搭建、测试效率高、可以准确测试出波长调谐时间，并可实现自动化测试的特点。

60、本发明可以应用到其他含有波长可调谐激光器的设备或产品的调谐时间的评估测试，具有很高的市场价值。