一种基于非信令模式小基站TRP和TIS测试方案的制作方法

本申请涉及通信，尤其涉及一种基于非信令模式小基站trp和tis测试方案。

背景技术：

1、随着现代工业的发展，各类无线通讯产品只有具备良好的发射和接收性能才能保证通讯质量，即，总辐射功率(total radiatedpower，下文中简称为trp)要高于一定值，全向接收灵敏度(totalisotropic sensitivity，tis)要低于一定值，也就是空间射频性能测试指标要良好。

2、现在的wifi天线以及部分小基站关于trp和tis的测试都是在信令模式下进行的，非信令模式的测试较少，一般在小基站和宏站上才会用非信令测试，并且非信令测试相对比较困难，理由是：第一，需要手动校准设备到天线再到收发仪表之间的插损，这个插损包括设备与暗室天线之间的自由空间损耗，以及暗室天线到测试仪表之前射频线的损耗；第二，需要使用python控制二维转盘，调整设备转动的角度，然后记录每个角度所测试的trp和tis的值，求和取平均，得出最后的tpr和tis的值。

技术实现思路

1、本申请的一个目的是提供一种基于非信令模式小基站trp和tis测试方案，至少用以解决现有技术中存在的基于非信令模式的trp和tis测试比较难以实现的问题。

2、为实现上述目的，本申请的一些实施例提供了一种基于非信令模式小基站trp和tis测试方案，包括发射链路和接收链路，发射链路为ant→switch→amp→switch→sa，接收链路为sg→switch→amp→switch→ant。

3、具体地，测试在暗室环境下进行。

4、具体地，暗室环境的校准，包括：收发天线、前置放大器、4个射频开关，以及测试仪表。

5、具体地，收发天线采用24根ant天线，且为360°宽带的收发天线，在z轴方向上呈圆形布局，天线与天线之间间隔15°；前置放大器包括发射放大器和接收放大器，发射放大器和接收放大器内均放置射频开关；射频开关设有2个，且为单刀多掷开关；24根ant天线，分别用rf线接到射频开关的多端口上；射频开关的单端口用rf线接到前置放大器上。

6、具体地，当使用发射链路时，射频开关切到发射放大器；当使用接收链路时，射频开关切到接收放大器。

7、具体地，trp的测试包括：使用ant→switch→amp→switch→sa的发射链路，在暗室环境中，将小基站放在暗室天线圆心位置的二维转台上，发射目标功率，通过python控制二位转台角度，切换不同角度的暗室天线，记录sa读取的功率值。

8、具体地，trp测试完成后将各个点的功率值由dbm转换成w，积分求和求平均，再换算成dbm，算出设备的trp。

9、具体地，dbm与w的转换公式为pi＝(power(10,pi/10))/1000，其中，pi为测试功率，单位为dbm；pi为转换功率，单位为w；转换后功率求和公式为求出trp值的公式为

10、具体地，tis测试包括：使用sg→switch→amp→switch→ant的接收链路，在暗室环境中，将小基站放在暗室天线圆心位置的二维(x,y轴)转台上，sg发送不同功率的波形文件，通过上位机控制二位转台角度，以及切换不同角度的暗室天线，控制设备的测试电脑解调出设备接收的波形文件，测试出在各个点的接收灵敏度，测试完成后将各个点的功率值由dbm转换成w后求导，积分求和求平均之后再求导，最后换算成dbm，算出设备的tis。

11、具体地，dbm与w的转换公式为pi＝(power(10,pi/10))/1000，其中，pi为测试功率，单位为dbm；pi为转换功率，单位为w；转换后功率求和公式为求出tis值的公式为

12、

13、相较于现有技术，本申请实施例提供的方案中，通过python控制上位机转动二维平台(x,y轴)以及切换天线(z轴)来进行非信令测试，降低了非信令的trp和tis测试的难度，使不再难以实施。。

技术特征：

1.一种基于非信令模式小基站trp和tis测试方案，其特征在于，包括发射链路和接收链路，所述发射链路为ant→switch→amp→switch→sa，所述接收链路为sg→switch→amp→switch→ant。

2.根据权利要求1所述的trp和tis测试方案，其特征在于，所述测试在暗室环境下进行。

3.根据权利要求2所述的trp和tis测试方案，其特征在于，所述暗室环境的校准，包括：收发天线、前置放大器、4个射频开关，以及测试仪表。

4.根据权利要求3所述的trp和tis测试方案，其特征在于，所述收发天线采用24根ant天线，且为360°宽带的收发天线，在z轴方向上呈圆形布局，天线与天线之间间隔15°；所述前置放大器包括发射放大器和接收放大器，发射放大器和接收放大器内均放置所述射频开关；所述射频开关设有2个，且为单刀多掷开关；24根ant天线，分别用rf线接到所述射频开关的多端口上；所述射频开关的单端口用rf线接到所述前置放大器上。

5.根据权利要求4所述的trp和tis测试方案，其特征在于，当使用所述发射链路时，所述射频开关切到所述发射放大器；当使用所述接收链路时，所述射频开关切到所述接收放大器。

6.根据权利要求2所述的trp和tis测试方案，其特征在于，trp的测试包括：使用ant→switch→amp→switch→sa的发射链路，在暗室环境中，将小基站放在暗室天线圆心位置的二维转台上，发射目标功率，通过python控制二位转台角度，切换不同角度的暗室天线，记录sa读取的功率值。

7.根据权利要求6所述的trp和tis测试方案，其特征在于，trp测试完成后将各个点的功率值由dbm转换成w，积分求和求平均，再换算成dbm，算出设备的trp。

8.根据权利要求7所述的trp和tis测试方案，其特征在于，dbm与w的转换公式为pi＝(power(10,pi/10))/1000，其中，pi为测试功率，单位为dbm；pi为转换功率，单位为w；转换后功率求和公式为求出trp值的公式为

9.根据权利要求2所述的trp和tis测试方案，其特征在于，tis测试包括：使用sg→switch→amp→switch→ant的接收链路，在暗室环境中，将小基站放在暗室天线圆心位置的二维(x,y轴)转台上，sg发送不同功率的波形文件，通过上位机控制二位转台角度，以及切换不同角度的暗室天线，控制设备的测试电脑解调出设备接收的波形文件，测试出在各个点的接收灵敏度，测试完成后将各个点的功率值由dbm转换成w后求导，积分求和求平均之后再求导，最后换算成dbm，算出设备的tis。

10.根据权利要求1所述的trp和tis测试方案，其特征在于，dbm与w的转换公式为pi＝(power(10,pi/10))/1000，其中，pi为测试功率，单位为dbm；pi为转换功率，单位为w；转换后功率求和公式为求出tis值的公式为

技术总结
本申请提供了一种基于非信令模式小基站TRP和TIS测试方案，包括发射链路和接收链路，发射链路为ANT→SWITCH→AMP→SWITCH→SA，接收链路为SG→SWITCH→AMP→SWITCH→ANT。本申请可以至少用以解决基于非信令模式的TRP和TIS测试比较难以实现的技术问题。本申请用于实现暗室环境的点源校准，通过python控制上位机转动二维平台(X,Y轴)以及切换天线(Z轴)来进行非信令测试，降低了非信令的TRP和TIS测试的难度，使不再难以实施。

技术研发人员：张宇,吕方,赵宏伟
受保护的技术使用者：上海剑桥科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/8