一种干扰测试系统的制作方法

本技术涉及通信，具体而言，涉及一种干扰测试系统。

背景技术：

1、通信模组会给终端产品预留接口，以使通信模组与终端产品连接。而通信模组的引脚可能存在干扰，如引脚暴露于外界环境受环境影响，或模块内部产生干扰等，干扰通过引脚对所连接的终端产品造成影响。

2、对通信模组引脚的干扰进行排查时，会将测试设备的探针与引脚连接，并通过探针获取通信模组输出信号的进行测试，但该方式受测试条件(如温度、湿度、探针与引脚连接位置等)的影响较大，从而影响通信模组引脚的干扰测试结果，无法准确判断最终的干扰测试结果是引脚本身原因还是测试条件不当的原因。且当重复多次测试时，若测试条件发生变化，易使得多次测试结果发生变化，从而使得一致性较差。

技术实现思路

1、有鉴于此，本技术旨在提供一种干扰测试系统，以提高测试准确性和提高多次测试的结果一致性。

2、第一方面，本技术实施例提供一种干扰测试系统，包括：灵敏度测试设备，包括第一测试输入端和第一测试控制端；所述第一测试输入端分别与待测件的引脚连接和所述待测件的天线接口连接；所述待测件的引脚输出的干扰信号被配置为输出至所述待测件中；所述灵敏度测试设备被配置为测试所述待测件受干扰情况下的灵敏度；控制设备，被配置为与所述第一测试控制端连接；所述控制设备被配置为向所述灵敏度测试设备输出第一控制指令，以控制所述灵敏度测试设备测试所述灵敏度；所述灵敏度表征干扰测试结果。

3、通信模组的干扰信号会对连接设备或模组造成干扰，影响所连接设备或模组接收信号的灵敏度。本技术实施例中，将待测件的引脚输出的干扰信号被配置为输出至该待测件中，使干扰信号对待测件接收信号的灵敏度造成影响。此时，干扰信号是直接输出至待测件中，降低测试条件对干扰信号的影响，测试时，也是将灵敏度测试设备与待测件的引脚和天线端口连接，测试待测件的灵敏度，基于灵敏度确定干扰测试结果，不再测试干扰信号。由此，干扰信号不会因测试条件的变化而对干扰测试结果造成较大的改变，因此，可以降低环境的影响，提高测试准确性和提高多次测试的结果一致性。

4、一实施例中，所述灵敏度测试设备包括综测仪和耦合器；所述耦合器的一个直通端与所述待测件的引脚连接，所述耦合器的另一个直通端与所述待测件的天线端口连接；所述综测仪的测试端与所述耦合器的耦合端连接，所述综测仪的测试控制端与所述控制设备连接。

5、本技术实施例中，综测仪具有tis(total isotropic sensitivity，辐射总全向灵敏度)测试功能，即综测仪具有灵敏度测试功能，可以进行灵敏度测试。耦合器包括三端，通过耦合器的两直通端使得待测件的干扰信号输出至待测件中，再通过耦合端与测试灵敏度的综测仪连接，实现灵敏度的测量。综测仪和耦合器构建灵敏度测试设备，可以使得灵敏度测试设备结构简单，无需设置复杂电路实现灵敏度的测试功能，降低干扰测试系统的复杂性，以及综测仪为现有设备，便于操作，可以提高测试效率。

6、一实施例中，所述干扰测试系统还包括频谱测试设备；所述频谱测试设备的测试端与所述待测件的引脚连接；所述频谱测试设备的测试控制端与所述控制设备连接；所述频谱测试设备被配置为测试干扰信号的频谱，所述控制设备还被配置基于所述频谱确定对所述待测件的干扰测试结果。

7、本技术实施例中，还设置频谱测试设备，可以对干扰信号进行测试，获得干扰信号的频谱，由此，可以基于频谱辅助灵敏度确定对待测件引脚的测试结果，提高干扰测试的准确性。

8、一实施例中，所述干扰测试系统还包括：模式选择开关，所述模式选择开关包括一个输入端、多个输出端和控制端；所述模式选择开关的输入端与所述待测件的引脚连接，所述模式选择开关的不同输出端分别与所述频谱测试设备和所述灵敏度测试设备连接；所述模式选择开关的控制端与所述控制设备连接，所述模式选择开关被配置为基于所述控制设备的控制，控制所述待测件的引脚与所述频谱测试设备和所述灵敏度测试设备二者中任意一者连通。

9、本技术实施例中，通过模式选择开关分别与频谱测试设备和灵敏度测试设备连接，以及将模式选择开关的控制端与控制设备连接，由此，控制设备可以直接对模块选择开关进行控制，以满足不同的测试需求，以及可以使得切换测试设备更简单，相较于将待测件的引脚与当前测试设备断开后与其他测试设备连接的方式，可以减少引脚的连接断开过程，从而减少测试条件变化对测试结果的影响，提高测试结果的一致性。

10、一实施例中，所述干扰测试系统还包括：多路选通开关，所述多路选通开关包括选通输出端、选通控制端和多个选通输入端，所述多路选通开关被配置为基于所述选通控制端接收到的第二控制指令控制任意一个所述选通输入端与所述选通输出端的连通；不同所述选通输入端用于分别与所述待测件的不同引脚连接；所述选通控制端被配置为与所述控制设备连接；所述选通输出端被配置为与所述第一测试输入端连接；所述控制设备还被配置为向所述多路选通开关输出第二控制指令，以控制所述待测件任意一个引脚与所述灵敏度测试设备的选通。

11、本技术实施例中，在需对待测件进行测试前，可以将待测件的不同引脚分别与多路选通开关的不同第一输入端连接，相较于测试时使用测试设备的探针与待测件引脚连接的方式，通过控制设备控制多路选通开关的切换，选择待测件的不同引脚进行测试的方式无需人工地在测试过程中将测试设备的探针切换至与待测件的下一引脚连接，从而可以提高测试效率。同时，由于无需人工地在测试过程中将测试设备的探针切换至与下一被测引脚连接，因此还可以减少因人工重新连接探针与被测件引脚导致的差异性，减少连接位置不一致，接触不良等情况的发生，从而使得测试时的测试条件(如环境、测试位置等)尽可能保持一致，提高测试结果的准确性与多个测试结果的一致性。

12、一实施例中，所述干扰测试系统，还包括：连接件，所述多路选通开关通过所述连接件分别与所述待测件的不同引脚连接；其中，所述连接件包括多个连接端口对，每一所述连接端口对包括一个输入端口和一个输出端口，且所述连接端口对中的所述输入端口与所述输出端口连接；不同所述输出端口分别与不同的所述选通输入端连接；不同所述输入端口用于分别与所述待测件的不同引脚连接。

13、本技术实施例中，将连接件与待测件的引脚连接，由此，可以使得连接件与待测件之间位置固定，由此，可以减少测试因连接导致的差异(如连接位置变化，接触不良等)，再将连接件与灵敏度或频谱测试设备连接，可以减少每次测试时因连接差异导致的测试差异，提高测试的结果一致性。

14、一实施例中，每一所述第二输出端与所述第一输入端之间通过射频线连接。

15、本技术实施例中，射频线可以使得干扰信号在连接件和测试设备之间信号传输更稳定，降低传输路径对干扰信号的影响，提高测试设备所接收到的干扰信号的准确性，进而提高测试结果的准确性。

16、一实施例中，所述多路选通开关包括多个具有选通功能的射频开关；多个所述射频开关级联组成级联电路；所述级联电路的第一级包括多个所述射频开关，第二级为单个所述射频开关；所述第一级中各所述射频开关的输入端分别与所述第二输出端连接，所述第一级中各所述射频开关的输出端与所述第二级中所述射频开关的输入端连接，所述第二级中所述射频开关的输出端与所述测试端连接。

17、本技术实施例中，射频开关可以用于高频信号的传输，可以使得干扰信号能够更好地传输至灵敏度测试设备，提高测试的准确性。通过将多个射频开关组成级联电路，以使多路选通开关能够满足多引脚的通信模组的测试，以使待测件在测试时无需更换引脚与测试设备的连接，减少测试条件的差异性，提高测试结果的一致性。

18、一实施例中，所述干扰测试系统还包括：控制器；每一所述射频开关的控制端分别与所述控制器连接，所述控制器与所述控制设备连接；所述控制器被配置为接收所述第一控制指令控制任意所述射频开关的选通。

19、本技术实施例中，将控制器分别与控制设备和射频开关连接，由此，无需单独对射频开关进行控制，可以通过控制设备实现对射频开关的控制，提高控制效率，进而提高测试效率。

20、一实施例中，所述控制器包括plc控制器和/或mipi控制器。

21、plc控制器和/或mipi控制器可以接收控制指令对其他设备或电路进行控制，本技术实施例中，使用plc控制器和/或mipi控制器可以实现控制器的功能。而由于plc控制器和/或mipi控制器较为成熟，易于实现本技术实施例中控制器的功能，可以有效降低干扰测试系统的实现难度与成本。