可根据备用光纤的数量进行设置。
[0023] 光路开关4接收定向禪合器3传输的光脉冲信号W及MCU巧片7发送的开关切换 信号。其中，该开关切换信号包含有要进行测试的备用光纤所连接的光传输端口的信息。为 表述清楚，下文中将此光传输端口称为光传输端口a,将与该光传输端口a对应连接的备用 光纤称为备用光纤Ga。光路开关4根据该开关切换信号中包含的光传输端口a的信息连接 对应该光传输端口a的备用光纤Ga，然后将上述光脉冲信号传送给与该光传输端口a对应 连接的备用光纤Ga。并且，该光路开关4接收从该备用光纤Ga回馈的光信号，并将该光信 号传送给上述的定向禪合器3。
[0024] 在实际应用中，光路开关4根据多个开关切换信号的接收时间顺序，依次分别单 独与每一根对应光传输端口的备用光纤连接，W分别向每一根备用光纤传输光脉冲信号， 并获取每一根备用光纤反馈回的光信号，W对每一根备用光纤进行测试。
[0025] 在另一实施例中，光路开关4也可根据开关切换信号选择其中几根备用光纤依次 进行选择并测试，例如，要测试12根备用光纤中的第1、2、3、5、6、9、10根，则可通过该选择 开关4依次连接第1、2、3、5、6、9、10根备用光纤，并向上述的备用光纤传输光脉冲信号，并 接收相应的回馈信号，同时自动生成相应的数据并保存，本实用新型并不W此为限，可根据 实际的测试需要进行设置。
[0026] 定向禪合器3接收到光路开关4传输的光信号后，将该光信号输出至上述的光电 检测器5。光电检测器5将接收到的光信号转换为电信号，并将该电信号输出至上述的信号 处理装置6。
[0027] 信号处理装置6接收到上述的频率信号及电信号后，根据该频率信号将该电信号 转换为数字信号，并根据该数字信号中包含的关于备用光纤Ga的发光强度及测试距离等 性能参数生成该备用光纤Ga的发光强度-距离性能曲线，并将该发光强度-距离性能曲线 传输至上述的MCU巧片7。
[002引该MCU巧片7根据信号处理装置6发送的发光强度-距离性能曲线对备用光纤Ga的性能参数进行比对，生成测试结果。具体地，MCU巧片7根据该发光强度-距离性能曲线 获取备用光纤Ga的测试距离误差及衰耗值等性能参数，然后判断该测试距离误差与一标 准误差值的大小，并判断该衰耗值与一标准衰耗值的大小。实际应用中，可W设置该标准误 差值为2. 00公里，设置该标准衰耗值为0. 30地/km，但该两个数值是用W举例说明本实用 新型实施例中的标准误差值及标准衰耗值，而并非用W限制本实用新型，可根据不同的应 用环境设置不同的标准误差值及标准衰耗值。
[0029] 当MCU巧片7的判断结果为"测试距离误差大于标准误差值"和"衰耗值大于标准 衰耗值"中的至少一个时，则判断该备用光纤Ga为问题光纤；否则，则判断该备用光纤Ga为 正常光纤。
[0030] 当MCU巧片7对备用光纤Ga判断结束后，输出对该备用光纤Ga的判断结果作为 测试结果。
[0031] 通过W上描述可知，通过本实用新型实施例的多路纤巧测试装置100,可减少备用 纤巧测试需要的人员数量和仪器操作重复性，也一定程度上避免了在纤巧插拔过程中造成 的错插和误碰，降低劳动强度，显著提高作业效率。
[0032] 在一实施例中，如图1所示，本实用新型实施例的多路纤巧测试装置100还可包括 一放大器9,该放大器9连接于光电检测器5与信号处理装置6之间，放大器9用于接收光 电检测器5输出的电信号，将该电信号进行放大后再传输至信号处理装置6。由于该光电检 测器5输出的电信号的信号强度有可能较微弱，通过放大器9对该电信号进行放大，更便于 后续对该电信号进行处理。
[0033] 实际应用中，本实用新型实施例的多路纤巧测试装置100还可包括一数据输出装 置10,该数据输出装置10与上述的MCU巧片7连接，用于接收并输出MCU巧片7生成的测 试结果。
[0034] 进一步地，本实用新型实施例的多路纤巧测试装置100还包括一显示器11，显示 器11与上述的数据输出装置10连接，用于接收并显示上述的发光强度-距离性能曲线及 测试结果，使得测试人员能够更加直观地查看了解多路光纤的状态，并及时作出调整。
[0035] W下结合一测试实例对本实用新型实施例的多路纤巧测试装置进行具体说明。
[0036] 如下表一，是对如图2所示的12根备用光纤进行测试的统计表格，其中，第7根和 第8根光纤已被占用，因此并不做测试。
[0037]表一 [00%]
【主权项】
1. 一种多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置包括：脉冲发生器、 光源、光路开关、定向耦合器、光电检测器、信号处理装置、MCU芯片及主时钟；所述的光路 开关设有多个光传输端口，每一光传输端口连接一备用光纤；其中， 所述的主时钟向所述的脉冲发生器发送一时钟信号，并向所述的信号处理装置发送一 频率信号； 所述的MCU芯片向所述的脉冲发生器发送一周期发射时间信号，并向所述的光路开关 发送一开关切换信号； 所述的脉冲发生器根据所述时钟信号产生电脉冲信号，并根据所述周期发射时间信号 将所述的电脉冲信号发送至所述的光源； 所述的光源将所述的电脉冲信号转换为光脉冲信号，并将所述的光脉冲信号发送至所 述的定向親合器； 所述的定向耦合器将所述光脉冲信号输出至所述的光路开关； 所述的光路开关接收所述的光脉冲信号及所述开关切换信号，根据所述开关切换信号 连接对应光传输端口的备用光纤，然后将所述光脉冲信号传送给所述对应光传输端口的备 用光纤并接收回馈的光信号，将所述光信号传送给所述的定向耦合器； 所述的定向耦合器接收所述光信号，并将所述光信号输出至所述的光电检测器； 所述的光电检测器将所述光信号转换为电信号，并将所述电信号输出至所述的信号处 理装置； 所述的信号处理装置接收所述频率信号及电信号，根据所述的频率信号将所述的电信 号转换为数字信号，根据所述的数字信号生成发光强度-距离性能曲线，并将所述的发光 强度-距离性能曲线传输至所述的MCU芯片； 所述MCU芯片根据所述的发光强度-距离性能曲线对所述对应光传输端口的备用光纤 的性能参数进行比对，生成测试结果。
2. 根据权利要求1所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置 还包括：放大器，所述的放大器连接于所述的光电检测器与信号处理装置之间，所述的放大 器接收所述光电检测器输出的所述电信号，将所述的电信号进行放大后传输至所述的信号 处理装置。
3. 根据权利要求2所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置 还包括：数据输出装置，所述的数据输出装置与所述MCU芯片连接，接收并输出所述的测试 结果。
4. 根据权利要求3所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装 置还包括：显示器，所述的显示器与所述的数据输出装置连接，接收并显示所述的发光强 度-距离性能曲线及测试结果。
【专利摘要】本实用新型提供一种多路纤芯测试装置，该装置包括：脉冲发生器、光源、光路开关、定向耦合器、光电检测器、信号处理装置、MCU芯片及主时钟；所述的光路开关设有多个光传输端口，每一光传输端口连接一备用光纤；脉冲发生器产生电脉冲信号，并发送至光源；光源将电脉冲信号转换为光脉冲信号，通过定向耦合器发送至光路开关；光路开关连接对应光传输端口的备用光纤，将光脉冲信号传送给该备用光纤并接收回馈的光信号，通过定向耦合器传输至光电检测器；光电检测器将光信号转换为电信号，输出至信号处理装置；信号处理装置根据电信号生成发光强度-距离性能曲线，传输至MCU芯片；MCU芯片根据该性能曲线对备用光纤的性能参数进行比对，生成测试结果。
【IPC分类】H04B10-071
【公开号】CN204465539
【申请号】CN201420746041
【发明人】宋伟, 赵庆凯, 邢宁哲, 袁卫国, 苏丹, 李垠韬, 吴舜, 徐鑫, 庞思睿, 张姣姣, 芦博, 闫磊, 李环媛, 杨睿, 吴佳, 高崧
【申请人】国家电网公司, 国网冀北电力有限公司信息通信分公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2014年12月2日