技术简介:
本发明针对现有准直器调节复杂且难以控制缝宽的问题,提出了一种整体式屏蔽准直器。该装置包括左、右半准直器和屏蔽盒,采用固定尺寸的透明镶条确保准直缝宽度不变,简化了射线源的调整与控制过程,并保证成像聚焦质量。
关键词:辐射成像,整体屏蔽准直器,透明镶条定位
专利名称:一种整体式屏蔽准直器的制作方法
技术领域:
本发明涉及辐射成像检测
技术领域:
,特别是用射线源对物体进行安全检测的准直
器装置。
背景技术:
为了提高辐射成像的质量,通常用准直器装置来对射线源进行聚焦,聚焦的好坏取决于准直器装置中准直缝的控制和对多余射线的屏蔽效果。现有的用射线源对物体进行安全检测的准直器装置,都是用调节机构控制两个活动的半准直器装置形成准直缝,由于射线对人体有危害,通常将准直器装置安装在一个屏蔽盒里,所以人们不能通过直接观察或测量来控制准直缝的大小,只能通过所成图像或其它间接的方式来控制,不仅调节方法复杂,同时也很难达到理想的准直缝宽要求。
发明内容 针对上述现有技术中存在的缺点,本发明的目的是提供一种用于辐射成像的、准直缝的宽度满足设计要求的整体式屏蔽准直器。它的整体结构使调整与控制射线源简便,以确保成像聚焦的要求。
为了达到上述的发明目的,本发明的技术方案采用如下方式
—种整体式屏蔽准直器,它包括左半准直器、右半准直器和屏蔽盒。其结构特点是,所述左半准直器是由左托架及与其内壁连接的左竖铅板和左横铅板组成,右半准直器是由右托架及与其内壁连接的右竖铅板和右横铅板组成。左半准直器和右半准直器的上下两端通过定位隔套、调整螺杆和锁紧螺母连接成一体并使左半准直器和右半准直器中间形成准直缝。准直缝中置有尺寸定位的透明镶条。左半准直器和右半准直器的外围通过调整螺杆和调整螺母固定屏蔽盒实现整体移动。
在上述的整体式屏蔽准直器中,所述准直缝是缝隙宽度一致的准直缝,或者是缝
隙宽度成梯形的准直缝,或者是所述两种准直缝的组合。
在上述的整体式屏蔽准直器中,所述透明镶条的材料为有机玻璃。
在上述的整体式屏蔽准直器中,所述透明镶条的形状为T型,或者为L型、槽型、平
面型的任一种。
在上述的整体式屏蔽准直器中,所述左托架、右托架的形状为L型。
在上述的整体式屏蔽准直器中,所述左托架和右托架为对称布列的分体结构或者
为整体结构。
在上述的整体式屏蔽准直器中,所述左竖铅板、左横铅板、右竖铅板和右横铅板采用不同的厚度尺寸。
本发明由于采用了上述的结构,能按照设计要求将准直缝设计成不同形状和宽度,而且可以通过加工或装配使准直器装置形成一个整体。在对准直器进行调节时不会改变准直缝的宽度,从而确保对射线源聚焦的效果。通过采用不同的托架结构和不同厚度的铅板连接,可以对多余射线形成良好的屏蔽效果。同现有技术相比,本发明确保了成像聚焦的要求,使调整与控制射线源更为简便。
下面结合附图及具体的实施方式对本发明做进一步的说明。
图1为本发明的结构示意图;
图2为图1的B-B向剖视图的放大图。
具体实施方式 参看图1和图2,本发明包括左半准直器、右半准直器和屏蔽盒13。左半准直器是由左托架1及与其内壁连接的左竖铅板2和左横铅板4组成,右半准直器是由右托架8及与其内壁连接的右竖铅板7和右横铅板6组成。左竖铅板2、左横铅板4、右竖铅板7和右横铅板6可以采用不同的厚度尺寸。左托架1和右托架8可以为对称布列的分体结构或者为整体结构,其形状为L型,或者为槽型、平面型的任一种。左半准直器和右半准直器的上下两端通过定位隔套3、调整螺杆IO和锁紧螺母11连接成一体并使左半准直器和右半准直器中间形成准直缝9。准直缝9可以是缝隙宽度一致的准直缝,也可以是缝隙宽度成梯形的准直缝,或者是所述两种准直缝的组合。准直缝9中置有尺寸定位的透明镶条5,透明镶条5的材料为有机玻璃或者其它有机物材料,透明镶条5的形状为T型、或者为L型、槽型、平面型的任一种。左半准直器和右半准直器的外围通过调整螺杆IO和调整螺母12固定屏蔽盒13实现整体移动。
本发明使用时,按照设计要求选择具有合适形状和宽度准直缝9的准直器。固定好准直器后,拧动调整螺杆10带动整体结构的左半准直器和右半准直器整体平移到所需的位置。置于准直缝9中的透明镶条5可以确保准直缝9的宽度在移动和使用过程中不发生变化。
权利要求一种整体式屏蔽准直器,它包括左半准直器、右半准直器和屏蔽盒(13),其特征在于,所述左半准直器是由左托架(1)及与其内壁连接的左竖铅板(2)和左横铅板(4)组成,右半准直器是由右托架(8)及与其内壁连接的右竖铅板(7)和右横铅板(6)组成,左半准直器和右半准直器的上下两端通过定位隔套(3)、调整螺杆(10)和锁紧螺母(11)连接成一体并使左半准直器和右半准直器中间形成准直缝(9),准直缝(9)中置有尺寸定位的透明镶条(5),左半准直器和右半准直器的外围通过调整螺杆(10)和调整螺母(12)固定屏蔽盒(13)实现整体移动。
2. 根据
权利要求l所述的整体式屏蔽准直器,其特征在于,所述准直缝(9)是缝隙宽度一致的准直缝,或者是缝隙宽度成梯形的准直缝。
3. 根据
权利要求l所述的整体式屏蔽准直器,其特征在于,所述透明镶条(5)的材料为有机玻璃。
4. 根据
权利要求3所述的整体式屏蔽准直器,其特征在于,所述透明镶条(5)的形状为T型,或者为L型。
5. 根据
权利要求1、2、3或4所述的整体式屏蔽准直器,其特征在于,所述左托架(1)和右托架(8)的形状为L型。
6. 根据
权利要求5所述的整体式屏蔽准直器,其特征在于,所述左托架(1)和右托架(8)为对称布列的分体结构或者为整体结构。
7. 根据
权利要求6所述的整体式屏蔽准直器,其特征在于,所述左竖铅板(2)、左横铅板(4)、右竖铅板(7)和右横铅板(6)采用不同的厚度尺寸。
专利摘要一种整体式屏蔽准直器,涉及辐射成像检测
技术领域:
。本发明包括左半准直器、右半准直器和屏蔽盒。其结构特点是,所述左半准直器是由左托架及与其内壁连接的左竖铅板和左横铅板组成,右半准直器是由右托架及与其内壁连接的右竖铅板和右横铅板组成。左半准直器和右半准直器的上下两端通过定位隔套、调整螺杆和锁紧螺母连接成一体并使左半准直器和右半准直器中间形成准直缝。准直缝中置有尺寸定位的透明镶条。左半准直器和右半准直器的外围通过调整螺杆和调整螺母固定屏蔽盒实现整体移动。同现有技术相比,本发明确保了成像聚焦的要求,使调整与控制射线源更为简便。
文档编号G21K1/04GKCN101114534SQ200610089002
公开日2010年5月12日 申请日期2006年7月28日
发明者张磊, 易裕民, 王学武, 王涟 申请人:同方威视技术股份有限公司;清华大学专利引用 (3), 非专利引用 (1),