芯片外部功能管脚的检测系统及检测方法及芯片的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及于芯片检测领域，尤其涉及一种芯片外部功能管脚的检测系统及检测方法及一种芯片。
【背景技术】
[0002]当前自动化控制发展迅速，控制芯片的功能趋于更加的复杂化和多样化，其芯片本身来实现众多的复杂功能。对芯片外部来说基本通过管脚复用的形式来实现芯片各种功能的分时复用。芯片功能和外部管脚的复用同样的越加趋于复杂化。
[0003]芯片外部管脚的功能复用与芯片内部各功能单元紧密相关，为保证整个控制芯片功能的正确无误，芯片外部功能管脚的复用正确性检测也成为芯片测试的关键点之一。目前对于芯片外部功能管脚复用正确性的测试，主要是通过外部管脚功能复用控制逻辑结合芯片内部各功能单元的使能和运作。在各功能单元工作的条件下，控制复用逻辑的变化来检测芯片外部功能管脚的复用是否正确。更具体的说明，即使得芯片中某一个功能单元进行正常工作运行，并使得该功能单元对应的外部管脚进行复用控制，切换到该功能单元对应的功能输入输出模式，然后检测输入输出数据是否正确，来判断针对该功能单元的外部管脚复用功能的正确性。
[0004]由于上述主要方法是基于芯片内部功能单元工作为前提条件的，因此，在整个芯片外部功能管脚复用的测试中，每测试一种功能复用，都需要使与之对应的功能单元工作。这样就使得芯片外部功能管脚复用测试时间花费和复杂度明显提高，甚至有些功能单元本身的工作开启就比较复杂，而目的只是为测试芯片外部功能管脚复用的正确性，芯片内部功能单元的工作与芯片外部功能管脚复用测试产生了不必要的关联和冗余。因此，上述测试方法导致对于芯片外部功能管脚复用的检测，所花费的测试时间较多，测试效率较低，测试冗余度、测试成本和测试复杂度相对较高。
【发明内容】
[0005]本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明需要提供一种芯片外部功能管脚的检测系统及检测方法及一种芯片。
[0006]一种芯片外部功能管脚的检测系统，包括控制单元、开关单元及判断单元，该芯片包括第一管脚、与该第一管脚相邻的第二管脚、与该第一管脚连接的第一功能单元及与该第二管脚连接的第二功能单元，该开关单元包括门闩逻辑，该门闩逻辑用于将该第一管脚所对应的复用功能线一一对应地连接到该第二管脚所对应的复用功能线，该控制单元连接该门闩逻辑并用于打开或关闭该门闩逻辑，及用于禁能该第一功能单元及该第二功能单元，及用于从该第一管脚或该第二管脚发送输入信号，该输入信号经该第一管脚所对应的复用功能线、该门闩逻辑及该第二管脚所对应的复用功能线从该第二管脚输出，或该输入信号经该第二管脚所对应的复用功能线、该门闩逻辑及该第一管脚所对应的复用功能线从该第一管脚输出，该判断单元用于判断该输入信号与从该第二管脚或该第一管脚接收的输出信号是否一致，及用于，当该输入信号与该输出信号一致时，判断该第二管脚及该第一管脚的功能正常，及用于，当该输入信号与该输出信号不一致时，判断该第二管脚或该第一管脚的功能异常。
[0007]上述检测系统，利用芯片相邻的两外部管脚组成回路，避免了芯片内部功能单元的冗余工作，减少了测试复杂度，提高测试效率。管脚复用测试程序简易，方便调试，测试结果直观明显，节省了芯片功能管脚复用测试的成本。同时芯片功能管脚复用测试出现问题定位精确，避免了较长的过程分析，提高问题分析效率。
[0008]在一些实施方式中，该控制单元还用于配置该第一管脚作为输入端或输出端及配置该第二管脚作为输出端或输入端。
[0009]在一些实施方式中，该输入信号及该输出信号均为波形信号，该判断单元用于，当该输入信号的波形与该输出信号的波形一致时，判断该第一管脚及该第二管脚的功能正常，及用于，当该输入信号的波形与该输出信号的波形一致时，判断该第一管脚及该第二管脚的功能异常。
[0010]在一些实施方式中，该门闩逻辑一端连接该第一管脚所对应的所有输入复用功能线，该门闩逻辑另一端将该第一管脚所对应的所有输入复用功能线一一对应连接到该第二管脚所对应的所有输出复用功能线，或该门闩逻辑一端连接该第二管脚所对应的所有输入复用功能线，该门闩逻辑另一端将该第二管脚所对应的所有输入复用功能线一一对应连接到该第一管脚所对应的所有输出复用功能线。
[0011]根据本发明较佳实施方式的芯片外部功能管脚的检测方法，包括步骤:
[0012]禁能与第一管脚连接的第一功能单元及禁能与第二管脚连接的第二功能单元，该第一管脚与该第二管脚为该芯片相邻的两管脚；
[0013]使该第一管脚所对应的复用功能线一一对应地电连接到该第二管脚所对应的复用功能线；
[0014]从该第一管脚发送输入信号，该输入信号经该第一管脚所对应的复用功能线及该第二管脚所对应的复用功能线从该第二管脚输出；接收该第二管脚的输出信号；或从该第二管脚发送输入信号，该输入信号经该第二管脚所对应的复用功能线及该第一管脚所对应的复用功能线从该第一管脚输出；接收该第一管脚的输出信号；及
[0015]判断该输入信号与该输出信号是否一致；
[0016]当该输入信号与该输出信号一致时，判断该第二管脚及该第一管脚的功能正常，或当该输入信号与该输出信号不一致时，判断该第二管脚或该第一管脚的功能异常。
[0017]上述检测方法，利用芯片相邻的两外部管脚组成回路，避免了芯片内部功能单元的冗余工作，减少了测试复杂度，提高测试效率。管脚复用测试程序简易，方便调试，测试结果直观明显，节省了芯片功能管脚复用测试的成本。同时芯片功能管脚复用测试出现问题定位精确，避免了较长的过程分析，提高问题分析效率。
[0018]在一些实施方式中，在从该第一管脚发送输入信号或从该第二管脚发送输入信号前，该方法还包括步骤:配置该第一管脚为输入端及配置该第二管脚为输出端；或配置该第一管脚为输出端及配置该第二管脚为输入端。
[0019]在一些实施方式中，该输入信号及该输出信号均为波形信号，当该输入信号的波形与该输出信号的波形一致时，判断该第一管脚及该第二管脚的功能正常；当该输入信号的波形与该输出信号的波形不一致时，判断该第一管脚或该第二管脚的功能异常。
[0020]根据本发明较佳实施方式的芯片，其包括第一管脚、与该第一管脚相邻的第二管脚、与该第一管脚连接的第一功能单元、与该第二管脚连接的第二功能单元及用于检测芯片外部功能管脚的控制单元及开关单元，该开关单元包括门闩逻辑，该门闩逻辑用于将该第一管脚所对应的输入复用功能线一一对应地连接到该第二管脚所对应的输出复用功能线，该控制单元连接该门闩逻辑并用于打开或关闭该门闩逻辑，及用于禁能该第一功能单元及第二功能单元，及用于从该第一管脚或该第二管脚发送测试输入信号。
[0021]在一些实施方式中，该控制单元还用于配置该第一管脚作为输入端或输出端及配置该第二管脚作为输出端或输入端。
[0022]在一些实施方式中，该输入信号经该第一管脚所对应的复用功能线、该门闩逻