一种基于光强分布的二维sdbd激励器流场获取方法

文档序号:9887896阅读:430来源:国知局
一种基于光强分布的二维sdbd激励器流场获取方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种基于光强分布的二维SDBD激励器流场获取方法。
【背景技术】
[0002] 作为一种新型的流动控制技术,表面介质阻挡放电等离子体流动控制技术,SDBD (surface dielectric barrier discharge)激励器,即表面介质阻挡放电等离子体激励 器,全由电设备组成,不需要气动,水力和活动部件的参与。相比于传统流动控制技术,具有 轻质,宽工况,反应迅速等优点,因此具有广泛的应用前景。现在SDBD激励器的流场主要有 两个获取方法,一是直接用实验测得,比如PIV等设备。另一个是用仿真手段计算获得,比如 唯象学模型。实验方法获取流场简单直接,可靠性较高,但是存在设备昂贵,初期调试复杂, 操作不当会造成较大的实验误差。仿真手段获取流场,根据建模的不同有复杂也有简单,但 是源项参数靠经验选取,可靠性较差,而且得到最终结果所费时间较长。

【发明内容】

[0003] 为克服实验和仿真两者的缺点,本发明提供一种基于光强分布的二维SDBD激励器 流场获取方法,综合运用实验和仿真两种手段,用简单的实验设备获取真实可靠的SDBD激 励器流场信息。
[0004] 本发明是通过以下技术方案实现的:
[0005] -种基于光强分布的二维SDBD激励器流场获取方法,其特征在于,包括以下步骤:
[0006] 步骤1,根据集总参数模型,建立SDBD激励器的等效电路,在等效电流源未向介质 板表面放出电荷时,测得电源电压UHV和标准电容器C m上的电压仏,得到比例系数k,其中k = Uhv/Um;
[0007] 步骤2,计算得到所述介质板的任一弦向截面的电荷量;
[0008]根据Qhi=Qcs+Qes和UEs = UHv_Um * UHv(k_l)/k,得到
[0009] QcS = UmCm-(UHv(k-l )/k)Cm/(k-1 ) = (Um_UHv/k)Cm J
[0010] Q = Qcs/l,
[0011] 其中,Qcs为所述介质板上电荷总量,Qes为暴露电极和植入电极组成电容器的电荷 总量,整个等效电路的电荷总量,Q为所述介质板的任一弦向截面的电荷量,1为所述 SDBD激励器暴露电极展向长度,(^为标准电容器的电容;暴露电极向植入电极放电时,测得 上述参数;
[0012]步骤3,通过高速相机获取所述SDBD激励器放电图像,通过matlab将所述放电图像 转化为灰度矩阵;再通过matlab将所述灰度矩阵进行高斯函数拟合得到放电光强的光强分 布函数G(x);
[0013] 步骤4,根据Jpc,maxG'(x)f(t)=Q,计算得至ljpc, max;
[0014] 其中,Q为所述介质板一弦向截面的电荷量,pc,max为电荷密度最大值,f(t) = sin(2 为波形函数,取f(t) = l,G'(x)为通过光强分布函数G(x)得到的电荷密度分布趋势函 数;
[0015] 根据唯象学模型中放电区域电荷分布满足的关系式:
[0016] Pc,w = Pc,maxG'(X)f (t),得到电荷密度分布函数 Pc,w;
[0017] 步骤5,根据唯象学仿真方法,将电荷密度分布函数9。,|带入唯象学模型,对二维 SDBD激励器流场进行仿真流场计算,得到二维SDBD激励器流场。
[0018]进一步的,所述步骤3中matlab中将所述灰度图像进行高斯函数拟合得到所述放 电光强的分布函数时,取最接近真实值的多项高斯函数拟合。
[0019] 进一步的,步骤4中的化。,_£'(叉奸(〇=〇,其中成腹为唯一未知量,且为常数。 [0020] 进一步的,
[0021]进一步的,步骤3中,通过matlab将所述放电图像转化为灰度矩阵时,得到所述介 质板弦向截面上平均灰度值。
[0022]进一步的,光强分布函数G(x)为所述介质板的弦向截面光强分布函数。
[0023]本发明的有益效果为:
[0024]本发明所提供的一种基于光强分布的二维SDBD激励器流场获取方法,是通过实验 手段获取真实的仿真源项,再通过仿真计算获得二维SDBD激励器流场的方法。所述方法主 要分为两大步,实验和仿真。其中实验主要有两个:电学实验,获取弦向截面最大电荷密度; 光学实验,获取弦向截面光强分布函数,利用光强分布与电荷分布趋势一致的关系,得到光 强分布函数。仿真则是按照唯象学模型,代入实验获取的源项,得到流场图。本发明最终所 获取的SDBD激励器流场结果与PIV实验结果类似,但与之相比,本发明有两大优势,一方面 仿真不需要昂贵且复杂的实验设备,省略了后者繁杂的实验操作,源项参数测量方便;另一 方面,克服了PIV固有的示踪粒子带来的系统跟随误差,以及受静电吸引的沉积在电极上的 示踪粒子造成激光的漫反射引起流场信息的缺失的问题。与现有的仿真手段相比,其源项 不是通过经验选取,而是通过实验手段获取的真实结果,其结果真实可靠。本发明所述方法 特别适用于低气压下的SDBD激励器流场测量,因为此时获取流场图像的常规实验手段变得 更加难以使用,比如PIV在低气压下不仅因为气流作用下带来更大的误差,而且此时粒子播 撒难度加大,即便播撒成功,对仪器也带来较大的损伤。
【附图说明】
[0025]图1为介质板电荷量测量电路图;
[0026]图2为SDBD激励器放电图像测量实验图;
[0027] 图3为唯象学模型中外电场产生的电势边界条件图;
[0028] 图4为唯象学模型中电荷的边界条件图。
【具体实施方式】
[0029]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对 本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不 用于限定本发明。
[0030] SDBD激励器即介质阻挡放电等离子体激励器,由暴露电极、植入电极和介质板组 成,暴露电极和植入电极分别粘贴在介质板的上下两面;所述的暴露电极暴露于空气中,与 激励电源的高压端连接;所述的植入电极表面包裹有绝缘材料,与地线连接。
[0031] 本发明是通过以下技术方案实现的:
[0032]步骤1,如图1所示,根据集总参数模型,建立SDBD激励器的等效电路,放置于植入 电极与地线间的标准电容器U用于测量整个所述等效电路的电荷,Cm具有标准值2nF的电 容,比CES值大得多,因此对放电影响相对较小,此处便忽略不计。在电极间空气击穿时,等 效电流源向介质板表面随机放出电荷,在等效电流源未向介质板表面放出电荷时,测得电 源电压U HV和标准电容器Cm上的电压1^,得到比例系数k,其中k = UHV/Um;
[0033] 步骤2,计算得到所述介质板的任一弦向截面的电荷量;
[0034] 电荷分布是不均匀的,其介质板上电荷总量是Qcs,即虚拟电极和植入电极组成电 容器的电荷总量。当电流为正向时Qcs增加,相反时减少。而Qcs存在必然会诱导出量相同,但 是极性相反的电荷-Qcs。因此,连接到SDBD激励器上标准电容器C m所带的电荷为Qm=Qcs+QES。 据此,在两电极间发生放电时有:
[0035] Ues = Uhv-Uhi ? Uhv (k-1) /k
[0036] Qcs = UmCm- ( Uhv (k-1) /k) Cm/ (k-1) = (Um-UHv/k) Cm
[0037] Q = QCS/1
[0038] 其中,Qcs为所述介质板上的电荷总量,Qes为暴露电极和植入电极组成电容器的电 荷总量,Q为所述介质板的任一弦向截面的电荷量,1为所述SDBD激励器暴露电极展向长度, Qm为整个等效电路的电荷总量吗,Cm为标准电容器的电容;
[0039] 步骤3,如图2所示,通过高速相机获取SDBD激励器放电图像,通过matlab将所述放 电图像转化为灰度矩阵,得到所述介质板弦向截面上平均灰度值;再用matlab将所述灰度 矩阵进行高斯函数拟合,可取多项高斯函数拟合,以使函数曲线与散点重合度最高,但为了 使拟合结果具有实际意义,必须保证每项参数均为正数,得到所述介质板的弦向截面放电 光强的光强分布函数G(X);
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