技术编号：10035464
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前在IC测试过程中，如果带电取放芯片，那么电路中的电容是充满电的，将新的芯片放入IC测试座时，芯片引脚与IC测试座的针床接触的一瞬间，电路中的电容会放电，产生微弱的电流，这种放电电流会通过芯片，相当于突然给芯片加上一个电源电压，而芯片上电一般需要经历电容充电电压上升的过程，由于芯片一般比较脆弱，因此突然施加一个电压容易使芯片受到损伤，严重的还可能使芯片烧毁。为避免带电取放芯片，目前IC测试有两种解决方法，第一种是外加电源开关，第二种是通过程序控制。其中，...
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