一种ic测试座的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及IC测试技术领域，应用于IC封装后的测试装置，更具体地说，涉及一种IC测试座。
【背景技术】
[0002]目前在IC测试过程中，如果带电取放芯片，那么电路中的电容是充满电的，将新的芯片放入IC测试座时，芯片引脚与IC测试座的针床接触的一瞬间，电路中的电容会放电，产生微弱的电流，这种放电电流会通过芯片，相当于突然给芯片加上一个电源电压，而芯片上电一般需要经历电容充电电压上升的过程，由于芯片一般比较脆弱，因此突然施加一个电压容易使芯片受到损伤，严重的还可能使芯片烧毁。
[0003]为避免带电取放芯片，目前IC测试有两种解决方法，第一种是外加电源开关，第二种是通过程序控制。其中，利用外加电源开关的方法，在测试过程中，能够避免带电取放芯片，从而避免对芯片造成损伤，但是其电路复杂、占用面积大，每次取放芯片之前必须开关一次电源，而且测试时容易遗漏对开关的操作，导致带电操作，这样就还有一定概率对芯片造成损伤而降低良率；而利用程序控制的方法，无需手动即可实现自动上电和断电，但是电路设计复杂，占用面积大，还需要占用主控芯片一个I/o 口来控制电源的开关，软件和硬件的设计复杂度都有所增加，消耗的资源多。
[0004]上述两种避免带电取放芯片的方式，操作复杂，电路复杂，需要消耗额外的器件资源和芯片的I/O资源，占用面积大，增加了软硬件设计难度。
【实用新型内容】
[0005]为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种IC测试座，能够在不增加软硬件的设计难度，还不需要消耗额外的器件资源和I/O资源的基础上，做到不带电取放芯片，而且操作简单。
[0006]本实用新型提供的一种IC测试座，包括上盖板和基座，所述基座的上表面的四个角的位置设置有定位孔，至少一个所述定位孔中设置有控制芯片供电电源通断的按键开关，所述上盖板与所述基座闭合时按压所述按键开关，使所述按键开关闭合，接通所述芯片供电电源，所述上盖板与所述基座分离时解除所述上盖板对所述按键开关的压力，使所述按键开关断开，断开所述芯片供电电源。
[0007]优选的，在上述IC测试座中，四个所述定位孔中均设置有控制所述芯片供电电源通断的按键开关。
[0008]优选的，在上述IC测试座中，所述按键开关的直径大于所述定位孔的通孔的直径，小于所述定位孔的沉孔的直径。
[0009]优选的，在上述IC测试座中，所述按键开关包括:
[0010]开关基座和按钮；
[0011]设置于所述开关基座上的第一触点和第二触点；
[0012]连接所述第一触点与电路板的第一引脚，连接所述第二触点与所述电路板的第二引脚；
[0013]设置于所述开关基座和所述按钮之间的弹片，所述弹片与所述第二触点常闭式连接，且当所述按钮按下时与所述第一触点连接，接通所述芯片供电电源，当所述按钮松开时与所述第一触点断开，断开所述芯片供电电源。
[0014]优选的，在上述IC测试座中，所述第一引脚和所述第二引脚均通过所述定位孔向下连接到所述电路板上。
[0015]优选的，在上述IC测试座中，所述第一引脚和所述第二引脚的其中之一通过所述定位孔向下连接到所述电路板上，而另一个通过IC测试座的侧壁向下连接到所述电路板上。
[0016]优选的，在上述IC测试座中，所述按键开关还包括:设置于所述按钮的上部且与所述开关基座的顶部固定连接的开关盖板。
[0017]优选的，在上述IC测试座中，所述芯片供电电源为单路供电电源或多路并联供电电源。
[0018]从上述技术方案可以看出，本实用新型所提供的一种IC测试座，在所述定位孔中设置有控制芯片供电电源通断的按键开关，所述上盖板与所述基座闭合时按压所述按键开关，使所述按键开关闭合，接通所述芯片供电电源，所述上盖板与所述基座分离时解除所述上盖板对所述按键开关的压力，使所述按键开关断开，断开所述芯片供电电源，可见操作人员利用这种IC测试座进行测试时，操作简单，不会发生带电取放芯片的现象，而且这种设计没有增加软硬件的设计难度，还不需要消耗额外的器件资源和I/O资源。
【附图说明】
[0019]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0020]图1为本申请实施例提供的一种IC测试座的左视图；
[0021]图2为本申请实施例提供的一种IC测试座的俯视图；
[0022]图3为本申请实施例提供的一种按键开关的示意图。
【具体实施方式】
[0023]本实用新型的核心思想在于提供一种IC测试座，使得在不增加软硬件的设计难度，还不需要消耗额外的器件资源和I/O资源的基础上，做到不带电取放芯片，而且操作简单。
[0024]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0025]本申请实施例提供的一种IC测试座如图1和图2所示，图1为本申请实施例提供的一种IC测试座的左视图，图2为本申请实施例提供的一种IC测试座的俯视图，该IC测试座可用来进行芯片程序烧录或者芯片测试。
[0026]该IC测试座包括上盖板I和基座2，所述基座2的上表面的四个角的位置设置有定位孔，该定位孔的作用是:确定基座2在电路板上的位置和使基座2固定在电路板上。相对于现有技术，本申请实施例的关键在于:至少一个所述定位孔中设置有控制芯片供电电源通断的按键开关3，按键开关3的大小正好能放入所述定位孔中，且对按键开关3的高度必须严格要求，这种高度需满足如下条件:上盖板I闭合时刚好能使按键开关3按下而又不影响上盖板I的正常闭合。
[0027]所述上盖板I与所述基座2闭合时按压所述按键开关3，使所述按键开关3闭合，接通所述芯片供电电源，所述上盖板I与所述基座2分离时解除所述上盖板I对所述按键开关3的压力，使所述按键开关3断开，断开所述芯片供电电源。
[0028]从上述技术方案可以看出，本申请实施例提供的上述IC测试座，在所述定位孔中设置有控制芯片供电电源通断的按键开关，所述上盖板与所述基座闭合时按压所述按键开关，使所述按键开关闭合，接通所述芯片供电电源，所述上盖板与所述基座分离时解除所述上盖板对所述按键开关的压力，使所述按键开关断开，断开所述芯片供电电源，可见操作人员利用这种IC测试座进行测试时，操作简单，不需要增加任何操作，也不会发生带电取放芯片的现象，而且这种设计没有增加软硬件的设计难度，还不需要消耗额外的器件资源和I/O资源。
[0029]作为一个可选方案，在上述IC测试座中，四个所述定位孔中均可以设置有控制所述芯片供电电源通断的按键开关，这可以作为一种冗余设计，当一个按键开关出现故障时，可以快速切换，利用另一个正常的按键开关对电源进行控制，而不至于对整个IC测试座进行维修，可见，这样就明显提高了测