技术编号:10159130
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。目前,扫描电镜固定样品的方式主要是将其固定在粘有导电胶的样品台上进行形貌观察和能谱元素成分分析,这种方法的不足之处就是对于纳米级颗粒的样品,其下方的导电胶和样品台过厚,穿过样品的电子束不能将其穿透,从而在样品下方形成较大的相互作用区,能谱的空间分辨率降低,会造成基体以及周围颗粒的元素信息都会在目标测试结果中显现出来,因而不能准确定性目标样品的元素成分。发明内容为克服现有技术的缺陷,本实用新型提供一种扫描电镜用铜网支架。本实用新型的技术方案是扫描电镜用铜网支...
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