技术编号:10229914
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。扫描电镜主要利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,二次电子能够产生样品表面放大的形貌像,便于进行微区形貌分析。但对于某些较大断口试样或金相试样,当断口面起伏较大或金相试样衬度较小时,微区定位很困难,给微区形貌分析带来不便。为此,需要制备扫描电镜断口试样微区快速定位装置来保证微区的快速定位。发明内容本实用新型的目的在于提供一种能够准确确定较大断口试样或金相试样微区形貌部位的一种扫描电镜试样微区快速定位装置。技术解决方案本实用...
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