技术编号：10351145
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。X射线荧光光谱分析具有分析速度快、能分析各种状态和形状的样品、非破坏性分析、重现行好、可进行薄试样组分和厚度分析、易于实现自动化及在线分析的特点。X射线荧光光谱分析在生产科研等各个领域的应用都非常广泛。然而样品的矿物效应、颗粒度及化学态都会对分析结果造成影响，仍需通过制样予以解决。所以，样品制备依然是制约X射线荧光光谱分析法发展的主要难题之一。X射线荧光光谱测定试样的物理形态可为固体(粉末、压片、块样)、薄试样、液体等，但样品都需要通过制样步骤获得能表征样...
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