一种x射线荧光光谱分析薄试样的样品环的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光谱分析领域，具体地说是一种用于X射线荧光光谱分析薄试样的样品环。将含有待分析薄试样的滤膜放入该薄试样样品环，可由X射线荧光光谱进行分析。
【背景技术】
[0002]X射线荧光光谱分析具有分析速度快、能分析各种状态和形状的样品、非破坏性分析、重现行好、可进行薄试样组分和厚度分析、易于实现自动化及在线分析的特点。X射线荧光光谱分析在生产科研等各个领域的应用都非常广泛。然而样品的矿物效应、颗粒度及化学态都会对分析结果造成影响，仍需通过制样予以解决。所以，样品制备依然是制约X射线荧光光谱分析法发展的主要难题之一。X射线荧光光谱测定试样的物理形态可为固体(粉末、压片、块样)、薄试样、液体等，但样品都需要通过制样步骤获得能表征样品整体组分且可用仪器测试的试样。
[0003]其中，薄试样法是X射线荧光光谱分析的一种样品制备方法，可通过离子交换树月旨、碳纳米管、螯合物沉淀剂富集溶液中金属元素，随后在滤膜上抽滤获得均匀的固体薄试样样品，亦可经固相萃取滤膜萃取溶液中待测元素、滴加溶液于滤膜上干燥、少量固体粉末直接平铺等方法制得。其中的滤膜、沉淀物、固相萃取滤膜、固体粉末即为待测薄试样。该法具有取样量少，操作简便、快速、有效、可忽略基体效应影响的优点，易于与各种化学富集技术配合使用。
[0004]但薄试样制样方法也有其局限性:即制备好的样品容易受外界污染，形成的薄膜平整度较差，且易发生龟裂，薄试样的碎肩也易损坏仪器，不易长久保存。那么，如何提供一种X射线荧光光谱分析的样品环，使得能够夹持该形成的薄膜，保护薄膜，提高该薄膜的平整度，避免薄膜发生龟裂，并进一步的将薄膜与测试仪器分开，从而形成对双方的保护，成为现有技术亟待解决的技术问题。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的在于提出一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环，克服现有技术提出的各种问题。其中，测定的薄试样样品可通过离子交换树脂、碳纳米管、螯合物沉淀剂富集溶液中金属元素后经滤膜过滤得到，也可经固相萃取滤膜萃取溶液中待测元素、滴加溶液于滤膜上干燥、少量固体粉末直接平铺等方法制得。
[0006]为达此目的，本实用新型采用以下技术方案:
[0007]—种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环，从内到外依次包括第一样品环体1、第一薄膜2、滤膜3、待分析薄试样4、第二薄膜5和第二样品环体6，其中所述第一样品环体I套设于所述第二样品环体6中，所述第一薄膜2、所述第二薄膜5依次夹于所述第一样品环体I与所述第二样品环体6之间，在所述第一薄膜2和所述第二薄膜5之间依次具有所述滤膜3和所述待分析薄试样4，所述待分析薄试样4贴合于所述滤膜3的表面。
[0008]优选地，所述第一样品环体I外径与所述第二样品环体6内径一致，所述第一样品环体I高度大于所述第二样品环体6高度。
[0009]优选地，所述第一薄膜2与所述第二薄膜5的大小一致，长宽均略大于所述第二样品环体6外径。
[0010]优选地，所述待分析薄试样4的直径略小于所述滤膜3直径，所述滤膜3直径略小于所述第一样品环体I内径。
[0011]优选地，所述第一薄膜2与所述第一样品环体I的底部的接触部设置有倒角。
[0012]优选地，所述第二薄膜5与所述第二样品环体6的底部的接触部设置有倒角。
[0013]优选地，所述滤膜为孔径为0.45μπι的微孔滤膜。
[0014]优选地，第一样品环体和第二样品环体为塑料材质的圆环。
[0015]优选地，第一薄膜和第二薄膜为4μπι的聚丙烯薄膜。
[0016]本实用新型提供一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环，先安装好过滤装置，将所述滤膜置于所述溶剂过滤器上；向溶液中加入离子交换树脂、螯合物沉淀剂吸附待测元素后，经搅拌、沉淀、过滤至所述滤膜上，制备成待分析薄试样;将所述样品环主体的各部分部件备好，将所述第一薄膜置于所述第一样品环体的正上方;将所述滤膜和待分析薄试样置于所述第一薄膜正中央，将所述第二薄膜置于所述滤膜和待分析薄试样的正上方，其中所述滤膜位于所述第一薄膜正上方，所述待分析薄试样位于所述第二薄膜正下方，将所述第二样品环体套设于所述第一样品环体内围，这样就将所述第一薄膜、滤膜、待分析薄试样、第二薄膜固定在所述第一样品环体、第二样品环体之间；最后将所述薄试样样品环正确放置在仪器样品盘规定位置上，测试。
[0017]利用本实用新型的薄试样样品环制得的滤膜平整度较好，不易受外界污染，不易发生龟裂，并可长期保存，降低薄试样碎肩损坏仪器的可能。
[0018]因此，本实用新型提供的样品环可以用于X射线荧光光谱分析薄试样样品。
【附图说明】
[0019]图1是根据本实用新型的具体实施例的一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环的侧面剖视图；
[0020]图2是根据本实用新型的具体实施例的一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环的未组合状态的俯视图；
[0021]图3是根据本实用新型的具体实施例的一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环的结构分解示意图。
[0022]图中的附图标记所分别指代的技术特征为:
[0023]1、第一样品环体;2、第一薄膜;3、滤膜;4、待分析薄试样;5、第二薄膜;6、第二样品环体。
【具体实施方式】
[0024]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
[0025]参见图1，示出了本实用新型的具体实施例的一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环的侧面剖视图；图2示出了本实用新型的具体实施例的一种X射线荧光光谱分析薄试样的样品环的未组合状态的俯视图。
[0026]该X射线荧光光谱分析薄试样的样品环从内到外依次包括第一样品环体1、第一薄膜2、滤膜3、待分析薄试样4、第二薄膜5和第二样品环体6，其中所述第一样品环体I套设于所述第二样品环体