技术编号：10462175
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。测试探针的种类主要有晶圆探针、PCB探针、ICT功能测试探针(如汽车线束测试探针、电池针、电流电压针、开关针、电容极性针、高频针)和BGA测试探针等。根据产地不同又分为美国QA探针、美国ECT探针、美国IDI探针、德国INGUN探针、德国PTR探针、韩国LEENON探针、台湾CCP探针、台湾UC探针等。其中，晶圆探针应用较为广泛。每一片晶圆含有无数颗芯片，每一颗芯片又有若干脚位，芯片的生产需要经过晶圆切割，绑定，封装等工艺步骤才能得到成品，而每一颗芯片在生...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。