技术编号:10538354
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 应用于航天、航空的电子系统很容易受到单粒子效应(Single-Event Effect, SEE)的影响而失效,并且单粒子效应对航天设备中电子器件的影响随集成电路特征尺寸的 持续缩减在日益加剧,已经成为了航天用大规模集成电路中的主要失效模式。 作为单粒子效应的一种,单粒子瞬态通常是指半导体器件在受到空间单粒子轰击 后,粒子的能量沉积导致粒子的碰撞电离,在浓度梯度和电场的作用下电离出的电荷被收 集和输运,导致电路节点出现电流和电压瞬时突变的现象。 作为同步...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。