技术编号:10617994
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。随着大规模集成电路(Large Scale Integrated Circuit以下称为LSI)的微细化,图案化技术的微细化也在发展。作为图案化技术,例如在专利文献1、2中有所记载。现有技术文献专利文献专利文献1日本特开2010-212371号专利文献2日本特开2012-94652号发明内容但是,在作为半导体器件的制造工序的一个工序的蚀刻工序中,产生以下的技术课题。例如,存在产生残渣和/或副产物的问题,其中残渣是在具有含硅(Si)膜的衬底蚀刻时产生的残留在...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。