技术编号:10689050
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。—些电子系统可能暴露于暂态电事件,这些暂态电事件持续相对短的持续期间且具有快速变化的电压和/或电流。暂态电事件可以包括例如过电压、静电排放(ESD)或电磁过应力(EOS)事件,这些源自于从电源、外部对象或人向电子系统突然释放电荷。暂态电事件会由于在IC的相对小区域上的过电压条件和/或高水平的功率耗散而破坏电子系统内的集成电路(1C)。该快速且高的功率耗散可能会导致破坏核心电路,导致栅极氧化物穿通、结破坏、金属破坏和/或表面电荷累积以及其它破坏现象。而且,暂...
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