用于自动测试设备ATE测试的调制信号的产生方法与制造工艺技术资料下载

技术编号:11111990

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本发明涉及集成电路测试领域,特别涉及一种用于ATE(英文全称:AutomaticTestEquipment,中文:自动测试设备)测试的调制信号的产生方法。背景技术对于可用作通用I/Q(英文全称:In-phase/Quadrature,中文:同相正交)调制器的集成电路的测试,数字输入信号端口需要发数字信号波形以便于实现调制测试。一般应用软件开发工具生成的用于对I/Q调制器的集成电路进行调制功能测试的码流文件无法直接被ATE识别,因此无法实现对I/Q调制器的集成电路的调制功能的测试。发明内容为了解决...
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