用于自动测试设备ATE测试的调制信号的产生方法与流程

本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及一种用于ATE(英文全称：Automatic Test Equipment，中文：自动测试设备)测试的调制信号的产生方法。

背景技术：

对于可用作通用I/Q(英文全称：In-phase/Quadrature，中文：同相正交)调制器的集成电路的测试，数字输入信号端口需要发数字信号波形以便于实现调制测试。

一般应用软件开发工具生成的用于对I/Q调制器的集成电路进行调制功能测试的码流文件无法直接被ATE识别，因此无法实现对I/Q调制器的集成电路的调制功能的测试。

技术实现要素：

为了解决带IQ调制模式的集成电路的调制功能测试，本发明提供一种用于自动测试设备ATE测试的调制信号的产生方法。所述技术方案如下：

该用于自动测试设备ATE测试的调制信号的产生方法包括：根据被测集成电路以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形；将所述测试波形的文件转换成ASCII(英文全称：American Standard Code for Information Interchange，中文：美国信息交换标准代码)格式文件；将所述ASCII格式文件转换成能够被ATE识别的测试码，所述测试码被提供给所述ATE在所述被测集成电路上进行所述预定测试功能的测试。

本发明通过将测试波形转换成可被ATE识别的测试码，很好地实现了测试码流的格式转换，降低了测试的难度与测试时间。

可选的，所述根据被测集成电路以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形，包括：利用软件开发工具编写测试代码，所述测试代码包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码(英文：Pseudo-Noise Code)序列中的至少一种，以及所述预定测试功能所涉及的所述被测集成电路的其他管脚的信息；利用所述测试代码生成具备所述预定测试功能的测试波形。

在利用软件开发工具编写测试代码时，由于可以根据任意的测试需要编码代码以生成对应的测试波形，最终均能够将波形转换成可以被ATE设备识别的测试码，因此可以适应于任一种需要测试的被测集成电路以及任一种需要的测试功能，提高了测试的普及度。

可选的，软件开发工具为Labview软件。

可选的，所述测试波形为hws(英文：hierarchical waveform storage data，中文：等级波形存储数据)格式文件，所述将所述测试波形的文件转换成ASCII格式文件，包括：将所述hws格式文件的所述测试波形转换成ASCII格式文件。

可选的，所述测试波形的长度大于预定时长。

这里的预定时长与有效测试时长相关，以保障测试结果可以真实地反映被测集成电路的实际情况。

可选的，所述测试波形的长度大于第一预定时长且小于第二预定时长，所述第二预定时长与所述ATE的测试向量深度相关。

可选的，在所述将所述ASCII格式文件转换成能够被ATE识别的测试码之后，所述方法还包括：利用所述测试码对所述被测集成电路进行测试，在所述测试码实现所述预定测试功能时，保存所述测试码。

在生成测试码之后，先对测试码进行测试，确保测试码可以实现既定的预定测试功能。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

图1是根据一示例性实施例提供的用于ATE测试的调制信号的产生方法的流程图；

图2是根据一示例性实施例提供的hws波形图；

图3是根据一示例性实施例提供的ASCII文件转换方式的示意图；

图4是根据一示例性实施例提供的ASCII文件生成格式的示意图；

图5是根据一示例性实施例提供的ATE转换后文件格式的示意图；

图6是根据一示例性实施例提供的EVM测试结果图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。

图1是根据一示例性实施例提供的用于ATE测试的调制信号的产生方法的流程图，该用于ATE测试的调制信号的产生方法可以应用于调制信号生成系统，该调制信号生成系统最终生成的测试码可以输入给ATE，由ATE对测试码进行执行，以对被测集成电路进行测试。该用于ATE测试的调制信号的产生方法至少包括如下步骤：

步骤101，根据被测集成电路以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形。

调制信号生成系统在根据被测集成电路以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形时，可以利用软件开发工具编码代码以生成测试波形。在一种实现中，至少可以包括如下步骤：

第一，利用软件开发工具编写测试代码，所述测试代码包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码序列中的至少一种，以及所述预定测试功能所涉及的所述被测集成电路的其他管脚的信息。

这里所讲的软件开发工具可以为Labview，也可以为其他类型的软件开发工具，本实施例中不对软件开发工具进行限定。

一般来讲，测试人员或编码人员在利用软件开发工具编写测试代码时，为了使得编写的测试代码在编译得到的测试波形符合需要测试的被测集成电路以及对应的预定测试功能，需要在测试代码中编写入各种参数，这些参数可以包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码序列等中的至少一种，另外，根据预定测试功能所涉及的被测集成电路的其他必要管脚，测试代码中还可以包括这些必要管脚的信息。

第二，利用测试代码生成具备预定测试功能的测试波形。

一般的，在软件开发工具中，测试人员或编码人员在编码好测试代码之后，需要对测试代码进行编译，编译后得到测试波形。

为了保证测试波形的测试有效性，在一种可能的实现方式中，测试波形的长度可以大于预定时长。这里的预定时长可以与有效测试时长相关。

在另一种可能的实现方式中，测试波形的长度可以大于第一预定时长且小于第二预定时长。其中，第一预定时长与有效测试时长相关，第二预定时长与ATE的测试向量深度相关。也就是说，在实际应用中，为了保证有效的测试时长，需要将测试波形的长度设置为大于有效测试时长；而为了保证ATE可以进行有效测试，还需要保证测试波形的长度不能超过ATE的测试向量深度的限制。

步骤102，将该测试波形的文件转换成ASCII格式文件。

可选的，当软件开发工具为Labview时，编译后得到的测试波形为hws格式的文件，请参见图2所示。

而hws格式的文件一般无法直接被ATE识别，为了能够得到可以被ATE识别的格式文件，本实施例中需要将hws格式的测试波形的文件转换成可以被ATE识别的格式文件，请参见图3和图4所示。

在一种可能的实现方式中，调制信号生成系统可以将hws格式的测试波形的文件转换成ASCII格式文件，然后执行步骤103。

步骤103，将该ASCII格式文件转换成能够被ATE识别的测试码，该测试码被提供给ATE在该被测集成电路上进行预定测试功能的测试。

调制信号生成系统将该ASCII格式文件转换成能够被ATE识别的测试码，如图5所示。在转换成测试码之后，可以将测试码输入给ATE，由ATE根据测试码在该被测集成电路上进行预定测试功能的测试。在一种可能的实现方式中，测试结果如图6所示。

可选的，在将该ASCII格式文件转换成能够被ATE识别的测试码之后，还可以直接将测试码输入给ATE，由ATE对测试码进行测试，确保实现既定的预定测试功能。

综上所述，本发明实施例提供的用于自动测试设备ATE测试的调制信号的产生方法，通过将测试波形转换成可被ATE识别的测试码，很好地实现了测试码流的格式转换，降低了测试的难度与测试时间。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里发明的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未发明的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。