1.一种用于自动测试设备ATE测试的调制信号的产生方法，其特征在于，所述方法包括：
根据被测集成电路以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形；
将所述测试波形的文件转换成ASCII格式文件；
将所述ASCII格式文件转换成能够被ATE识别的测试码，所述测试码被提供给所述ATE在所述被测集成电路上进行所述预定测试功能的测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据被测集成电路以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形，包括：
利用软件开发工具编写测试代码，所述测试代码包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码序列中的至少一种，以及所述预定测试功能所涉及的所述被测集成电路的其他管脚的信息；
利用所述测试代码生成具备所述预定测试功能的测试波形。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试波形为hws格式文件，所述将所述测试波形的文件转换成ASCII格式文件，包括：
将所述hws格式文件的所述测试波形转换成ASCII格式文件。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试波形的长度大于预定时长。
5.根据权利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于，在所述将所述ASCII格式文件转换成能够被ATE识别的测试码之后，所述方法还包括：
利用所述测试码对所述被测集成电路进行测试，在所述测试码实现所述预定测试功能时，保存所述测试码。