技术编号:11134404
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明所属技术领域为计算机辅助可靠性分析领域,具体地说,涉及一种基于有向图求解带逻辑环的系统失效的最小割集的方法。背景技术在工程中当我们需要求解某一个部件或者系统的失效概率时,通常会用到故障树的方法求解。其中,当一个顶事件或者其他的中间事件作为故障树中更低级别的其他事件的输入时,我们认为这一循环关系构成逻辑环。当分析者在电脑上用可靠性分析程序试图解一个带有逻辑环的故障树时,一些计算机程序就会报错。而且,如果不消除逻辑环,就不能进行定量分析。因此,为了对故障述中的顶事件进行定向分析,需将逻辑环打破...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。