技术编号:11139683
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及射频性能测试领域,具体而言,涉及一种多探头法测试系统及其校准方法和装置。背景技术全电波多探头暗室中的MIMOOTA测试可以帮助制造商,运营商和测试机构验证安装有多根天线的移动设备性能。在进行吞吐量等测试之前,需要对整个MIMOOTA测试系统进行校准。标准的系统校准需要在暗室内布置校准场景,使用探头进行校准。由于探头的窄带特性,在整个工作频段内需要多次更换探头测量,且探头水平、垂直损耗需要分别校准,耗时时间长,效率较低,对测试人员要求也较高。针对相关技术对MIMOOTA测试系统进行校准的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。