多探头法测试系统及其校准方法和装置与流程

本发明涉及射频性能测试领域，具体而言，涉及一种多探头法测试系统及其校准方法和装置。

背景技术：

全电波多探头暗室中的MIMO OTA测试可以帮助制造商，运营商和测试机构验证安装有多根天线的移动设备性能。在进行吞吐量等测试之前，需要对整个MIMO OTA测试系统进行校准。标准的系统校准需要在暗室内布置校准场景，使用探头进行校准。由于探头的窄带特性，在整个工作频段内需要多次更换探头测量，且探头水平、垂直损耗需要分别校准，耗时时间长，效率较低，对测试人员要求也较高。

针对相关技术对MIMO OTA测试系统进行校准的效率较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种多探头法测试系统及其校准方法和装置，以至少解决相关技术对MIMO OTA测试系统进行校准的效率较低的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种多探头法测试系统的校准方法，包括：第一校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，第一校准针对多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；第二校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第二校准，其中，第二校准针对多探头法测试系统中的有源部分进行校准；在每次使用多探头法测试系统之前，进行第二校准步骤；并且，距离进行上一次第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行第一校准步骤。

进一步地，第二周期在距离进行上一次第一校准步骤达到预定时长的情况下，再次进行第二校准步骤。

进一步地，该方法还包括：对多探头法测试系统的各个通道进行第一校准，得到各个通道的路径损耗值；对多探头法测试系统的各个通道进行第二校准，得到各个通道的有源部分的路径损耗值，并根据各个通道的路径损耗值和有源部分的路径损耗值得到各个通道的无源损耗值；保存无源损耗值，并在之后再次进行的一次或多次第二校准步骤中使用得到各个通道的路径损耗值，其中，无源损耗值一直使用直到再次进行第一校准步骤。

进一步地，该方法还包括：在每次进行第二校准步骤之后，得到各个通道的路径损耗值；将各个通道的路径损耗值中的最大值作为多探头法测试系统的路径损耗值。

进一步地，该方法还包括：在各个通道对应的模拟器内加入衰减，使各个通道的路径损耗值等于多探头法测试系统的路径损耗值。

根据本发明实施例的另一个方面，提供了一种多探头法测试系统，包括：无线通信综合测试仪，用于模拟基站；网络分析仪，用于获取用于进行校准的数据；射频信号处理单元，用于生成需要测量和/或校准的各个路径；天线探头阵列，用于接收和/或发射信号；信道仿真器，用于模拟无线通信中的场景；功率放大器，用于对信道仿真器输出的信号进行放大并输入至暗室；信号调理箱，连接在功率放大器和暗室之间，用于在进行本发明实施例中的任一种校准方法中的第二校准步骤时形成闭合回路。

根据本发明实施例的另一个方面，提供了一种多探头法测试系统的校准装置，包括：第一校准模块，用于执行第一校准步骤，第一校准步骤用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，第一校准针对多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；第二校准模块，用于执行第二校准步骤，第二校准步骤用于对多探头法测试系统进行第二校准，其中，第二校准针对多探头法测试系统中的有源部分进行校准；其中，在每次使用多探头法测试系统之前，进行第二校准步骤；并且，距离进行上一次第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行第一校准步骤。

进一步地，第二周期在距离进行上一次第一校准步骤达到预定时长的情况下，再次进行第二校准步骤。

进一步地，该装置还包括：第一得到模块，用于对多探头法测试系统的各个通道进行第一校准，得到各个通道的路径损耗值；第二得到模块，用于对多探头法测试系统的各个通道进行第二校准，得到各个通道的有源部分的路径损耗值，并根据各个通道的路径损耗值和有源部分的路径损耗值得到各个通道的无源损耗值；第三得到模块，用于保存无源损耗值，并在之后再次进行的一次或多次第二校准步骤中使用得到各个通道的路径损耗值，其中，无源损耗值一直使用直到再次进行第一校准步骤。

进一步地，该装置还包括：第四得到模块，用于在每次进行第二校准步骤之后，得到各个通道的路径损耗值；作为模块，用于将各个通道的路径损耗值中的最大值作为多探头法测试系统的路径损耗值。

进一步地，该装置还包括：衰减模块，用于在各个通道对应的模拟器内加入衰减，使各个通道的路径损耗值等于多探头法测试系统的路径损耗值。

在本发明实施例中，校准方法包括第一校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，第一校准针对多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；第二校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第二校准，其中，第二校准针对多探头法测试系统中的有源部分进行校准；在每次使用多探头法测试系统之前，进行第二校准步骤；并且，距离进行上一次第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行第一校准步骤，达到了快速准确地对MIMO OTA测试系统进行校准的目的，从而实现了提高对MIMO OTA测试系统进行校准的效率和准确度的技术效果，进而解决了相关技术对MIMO OTA测试系统进行校准的效率较低的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的多探头法测试系统的校准方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的多探头法测试系统校准装置的示意图；

图3是根据本发明实施例的标准型多探头MIMO OTA测试系统的原理图；

图4是根据本发明实施例的校准测试系统的校准示意图；

图5是根据本发明实施例的多探头法测试系统的示意图；

图6是根据本发明实施例的二级快速校准示意图；

图7是根据本发明实施例的标准校准与二级快速校准的对比图；

图8是根据本发明实施例的标准校准流程的第1步操作的示意图；

图9是根据本发明实施例的标准校准流程的第2步操作的示意图；

图10是根据本发明实施例的标准校准流程的第2步操作的示意图；

图11是根据本发明实施例的标准校准流程的第5步操作的示意图；

图12是根据本发明实施例的标准校准流程的第6步操作的示意图；

图13是根据本发明实施例的标准校准流程的第7步操作的示意图；

图14是根据本发明实施例的标准校准流程的第9步操作的示意图；

图15是根据本发明实施例的标准校准流程的第10步操作的示意图；

图16是根据本发明实施例的标准校准流程的第11步操作的示意图；

图17是根据本发明实施例的标准校准流程的第11步操作的示意图；

图18是根据本发明实施例的二级快速校准流程的第1步操作的示意图；

图19是根据本发明实施例的二级快速校准流程的第2步操作的示意图；

图20是根据本发明实施例的二级快速校准流程的第3步操作的示意图；

图21是根据本发明实施例的二级快速校准流程的第4步操作的示意图；

图22是根据本发明实施例的二级快速校准流程的第5步操作的示意图；以及

图23是根据本发明实施例的二级快速校准流程的第5步操作的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

根据本发明实施例，提供了一种多探头法测试系统的校准方法的方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图1是根据本发明实施例的多探头法测试系统的校准方法的流程图，如图1所示，该方法包括如下步骤：

步骤S102，第一校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，第一校准针对多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；

步骤S104，第二校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第二校准，其中，第二校准针对多探头法测试系统中的有源部分进行校准；

其中，在每次使用多探头法测试系统之前，进行第二校准步骤；并且，距离进行上一次第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行第一校准步骤。

需要说明的是，本发明实施例中的多探头法测试系统可以为全电波多探头暗室，上述步骤中的预定条件可以根据实际需求进行设定或调整，此处不做具体限定。可选地，第二周期在距离进行上一次第一校准步骤达到预定时长的情况下，再次进行第二校准步骤。

作为一种可选地实施例，该实施例的校准方法还可以包括：对多探头法测试系统的各个通道进行第一校准，得到各个通道的路径损耗值；对多探头法测试系统的各个通道进行第二校准，得到各个通道的有源部分的路径损耗值，并根据各个通道的路径损耗值和有源部分的路径损耗值得到各个通道的无源损耗值；保存无源损耗值，并在之后再次进行的一次或多次第二校准步骤中使用得到各个通道的路径损耗值，其中，无源损耗值一直使用直到再次进行第一校准步骤。

可选地，在该可选实施例中，在每次进行第二校准步骤之后，可以得到各个通道的路径损耗值；并将各个通道的路径损耗值中的最大值作为多探头法测试系统的路径损耗值。

可选地，在该可选实施例中，在各个通道对应的模拟器内可以加入衰减，使各个通道的路径损耗值等于多探头法测试系统的路径损耗值。

通过上述步骤，本发明实施例可以实现快速准确地对MIMO OTA测试系统进行校准的目的，进而解决相关技术对MIMO OTA测试系统进行校准的效率较低的技术问题，从而实现提高对MIMO OTA测试系统进行校准的效率和准确度的技术效果。

根据本发明实施例，还提供了一种多探头法测试系统，可以包括：

无线通信综合测试仪，用于模拟基站；

网络分析仪，用于获取用于进行校准的数据；

射频信号处理单元，用于生成需要测量和/或校准的各个路径；

天线探头阵列，用于接收和/或发射信号；

信道仿真器，用于模拟无线通信中的场景；

功率放大器，用于对信道仿真器输出的信号进行放大并输入至暗室；

信号调理箱，连接在功率放大器和暗室之间，用于在进行本发明实施例中的任意一种校准方法中的第二校准步骤时形成闭合回路。

根据本发明实施例，还提供了一种多探头法测试系统的校准装置的装置实施例，需要说明的是，该校准装置可以用于执行本发明实施例中的校准方法，本发明实施例中的校准方法可以在该校准装置中执行。

图2是根据本发明实施例的多探头法测试系统的校准装置的示意图，如图2所示，该装置可以包括：

第一校准模块22，用于执行第一校准步骤，第一校准步骤用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，第一校准针对多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；第二校准模块24，用于执行第二校准步骤，第二校准步骤用于对多探头法测试系统进行第二校准，其中，第二校准针对多探头法测试系统中的有源部分进行校准；其中，在每次使用多探头法测试系统之前，进行第二校准步骤；并且，距离进行上一次第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行第一校准步骤。

可选地，第二周期在距离进行上一次第一校准步骤达到预定时长的情况下，再次进行第二校准步骤。

可选地，该装置还可以包括：第一得到模块，用于对多探头法测试系统的各个通道进行第一校准，得到各个通道的路径损耗值；第二得到模块，用于对多探头法测试系统的各个通道进行第二校准，得到各个通道的有源部分的路径损耗值，并根据各个通道的路径损耗值和有源部分的路径损耗值得到各个通道的无源损耗值；第三得到模块，用于保存无源损耗值，并在之后再次进行的一次或多次第二校准步骤中使用得到各个通道的路径损耗值，其中，无源损耗值一直使用直到再次进行第一校准步骤。

可选地，该装置还可以包括：第四得到模块，用于在每次进行第二校准步骤之后，得到各个通道的路径损耗值；作为模块，用于将各个通道的路径损耗值中的最大值作为多探头法测试系统的路径损耗值。

可选地，该装置还可以包括：衰减模块，用于在各个通道对应的模拟器内加入衰减，使各个通道的路径损耗值等于多探头法测试系统的路径损耗值。

针对本发明实施例所提供的校准方法、装置以及全波暗室系统的详细介绍可以参见以下本发明所提供的优选实施例：

本发明还提供了一种优选实施例，在该优选实施例中具体介绍了全电波多探头暗室的二级快速校准系统及其校准过程。该优选实施例中设计的二级快速校准机制可以实现全电波多探头暗室系统的全自动快速校准。使用该二级快速校准系统，首次校准使用标准的校准方式获得系统路径数据，之后每次针对有源器件进行二级快速校准并进行补偿，保证校准数据的精确度。由于二级快速校准不涉及暗室内基础系统，不需要使用探头检测，校准的速度得以大幅提升。使用二级快速校准机制，测试人员不需要任何手动设置，几分钟内即可完成全频段的校准、补偿。不仅能够消除有源器件因温度漂移等特性引入的系统不确定度，提高测试精度，还可快速定位链路问题，协助排查系统故障。

在介绍二级快速校准系统之前，首先对其所用到的标准型多探头MIMO OTA测试系统进行介绍，该标准型多探头MIMO OTA测试系统能够实现标准校准，具体地：

标准型多探头MIMO OTA测试系统主要由多探头全电波暗室、信道仿真器、基站模拟器等部分组成。图3所示为标准型多探头MIMO OTA测试系统的原理图,其包含测试系统的主要测试设备及暗室内多探头及链路天线的布局。下面分别介绍主要设备的系统功能：

(1)无线通信综合测试仪，即图3中的LTE综测仪:模拟LTE基站,与多天线终端建立无线通信连接,测试其吞吐量。

(2)信道仿真器:模拟无线通信中城区宏小区、微小区下的多径效应、环境噪声等场景

(3)功放单元，即图3中的八通道功率放大器:将从信道仿真器输出的各路信号进行放大,输入至暗室内对应的探头。

(4)矢量网络分析仪，即图3中的网络分析仪:主要用于路径校准和信道验证

(5)射频信号处理单元，即图3中的校准射频信号开关箱:通过其内部安装的控制电路板、射频开关和滤波器等器件控制射频开关的关/断,形成所需要的测量/校准路径。

(6)天线探头阵列:用于接收、发射信号,受控处于水平、垂直两个极化方向。

(7)转台:控制EUT相对测量天线在水平面运动

多探头MIMO OTA测试系统用于多天线终端接收性能的测试，在测试前需要对系统进行校准。系统校准是确保各路下行信号到达暗室内测试区域中心经历相同的路径衰减,使到达测试中心的各路下行信号在幅度和相位上相等。

天线探头阵列的八个天线均匀分布在与被测物同一水平面的天线环上。每一个探头拥有水平和垂直两个极化方向。需要分别对探头水平、垂直损耗进行校准。

在未进行校准的测试系统中,不同天线探头的下行信号所经过放大器的增益、线缆损耗和空间损耗均不相同,各个天线探头的增益也不相同,从而使信道仿真器各输出口到被测物EUT的路径损耗不一致；类似的,基站模拟器的多个输出端口与信道仿真器的多个输入端口间的线缆损耗也不完全一致。以上路径损耗的差异性使到达EUT的各路下行信号功率不同,这将导致信道仿真器的计算结果与实际系统失配,并最终导致暗室内所模拟的信道特性失真。因此,在进行信道验证和吞吐量测试之前要进行测试系统的校准。

标准型的校准包括信道模拟器输入校准和信道模拟器输出校准两个部分。输入校准的目的是保证其两路输入端口接收到的来自基站模拟器的两路下行信号功率相同。可以借助网络分析仪的S21测量功能或单频连续波信号源与信道模拟器的功率测量功能进行。输出校准的目的是对信道模拟器输出端口各个通道的路径损耗进行测量，并用损耗最大的路径为参考补偿其余路径，保证各路径的损耗值相等。因此需要对每个路径下天线的水平、垂直极化方向的路径损耗进行测量。

输出校准测试系统可按照图4搭建，其中网络分析仪输出口连接至信道模拟器任一输入口，信道模拟器应配置为静态信道模型，信道模拟器各输出口按照吞吐量测试系统中的连接方式连接到全电波暗室内各个测量天线上，暗室测试区域中心放置参考测量天线，并将参考测量天线连接到网络分析仪输入口。路径校准按照如下步骤进行：

(1)使用套筒偶极子参考校准天线作为参考测量天线，竖直放置于暗室中心；

(2)开启信道模拟器与第1根测量天线垂直极化通道相连接的输出端口(记为1V端口)，关闭其它所有端口；

(3)按照图4中连接示意图，使用网络分析仪测量S21；

(4)从1V端口到暗室测试区域中心的路径损耗可以记为：

PL_1V＝-S₂₁-G_LC1-G_LC2+G_{SC_1V}+G_RA

式中：

S₂₁——网络分析仪测量结果，单位为dB；

G_LC1——网络分析仪与信道模拟器之间的线缆损耗，单位为dB；

G_LC2——网络分析仪与校准天线之间的线缆损耗，单位为dB；

G_{SC_1V}——信道模拟器与1V端口相对应的静态信道增益，单位为dB；

G_RA——参考校准天线增益，单位为dB；

(5)重复步骤(2)-(4)，分别测量信道模拟器与所有N个测量天线垂直极化通道相连接的输出端口与暗室中心间的路径损耗，PL_nV,(1≤n≤N)；

(6)使用共振环参考校准天线竖直放置于暗室中心，或将偶极子天线水平放置与暗室中心；

(7)重复步骤(2)-(4)，分别测量信道模拟器与所有N个测量天线水平极化通道相连接的输出端口与暗室中心间的路径损耗，PL_nH,(1≤n≤N)。若使用偶极子天线作为参考校准天线进行此步测量，则在校准不同测量天线的路径时，需要将偶极子天线旋转合适的角度，使之对准被校准的测量天线；

(8)比较所有信道模拟器输出端口的路径损耗PL_nV,PL_nH,(1≤n≤N)，将其中的最大值作为系统路径损耗值。对于其它损耗较小的通道，在对应的信道模拟器输出口内部加入合适的内部衰减，使得各个通道的路径损耗都等于系统路径损耗值。

上述测试方法步骤较多，实际测试时整个系统校准每个频点耗时达10分钟，工作频段内需要校准多个频点，采用二级快速校准机制后每个频点的测试时间缩短到1分钟，大大提高了校准的速度。

需要说明的是，上述标准型校准具有以下缺点：

(1)标准型校准是对于整个MIMO OTA测试系统的校准。需要在暗室内布置校准场景，使用探头进行校准，过程十分的繁琐。

(2)标准型校准由于探头的窄带特性，在整个工作频段内需要多次更换探头进行测量，水平、垂直损耗也需要分别校准，整个测试过程耗时时间长。

(3)标准型校准的整个MIMO OTA测试系统的校准对测试人员提出了较高的要求。

(4)标准型校准实验室需要长期配备校准用参考测量天线，增加了校准测试的成本。

基于标准型校准的上述缺点，本发明实施例提供了一种多探头法测试系统及其校准方法，下面将针对本发明实施例中的多探头法测试系统及其校准方法进行详细描述：此处需要说明的是，本发明实施例对多探头法测试系统中的探头数量不做具体限定，此处以全电波8探头暗室系统为例进行说明：

图5所示为全电波8探头暗室系统，它可满足文件《YDT 2869.1-2015终端MIMO天线性能要求和测量方法第1部分：LTE无线终端》推荐的多探头暗室系统校准测试要求；配置中加入两台8通道信号调理箱，可满足优化型的二级快速校准测试。

优化型的二级快速校准机制就是将标准型校准过程分解为两级，第一级针对整个系统进行标准型校准，对有源和无源器件都进行校准。第二级校准只针对系统内的有源器件。经过测试实验验证，在特定的时间段内(如一年)暗室系统环境等无源器件变化较小，故一级标准型校准只进行一次。之后每次测试前只需要对有源器件进行二级快速校准。并通过计算快速得出整个系统的损耗值，通过补偿完成整个系统的校准。

二级快速校准在硬件上需要信号调理箱的支持，它能够在第二级校准时辅助MIMO OTA系统形成闭合回路。二级快速校准的计算过程已在软件中进行集成，实现数据的自动补偿。

如图6所示，二级快速校准过程分两步进行：

第一步：整个系统的校准。标准型校准的步骤进行校准并保存各个通道天线水平和垂直的路径损耗值PL_n,(1≤n≤N)，N为下行通道个数。

第二步：系统内有源器件的校准，包括信道模拟器输入和输出校准。输入校准与标准型校准相同，优化输出路径校准，按照如下步骤进行：

(1)开启信道模拟器连接信号调理箱的第1端口(记为1V端口)，关闭其它所有端口；

(2)按照图4中连接示意图，使用网络分析仪测量S21；

(3)1V端口整个回路有源部分的路径损耗可以记为：

PM₁＝-G_S-S₂₁-G_LC1-G_LC2+G_{SC_1}

式中：

S₂₁——网络分析仪测量结果，单位为dB；

G_LC1——网络分析仪与信道模拟器之间的线缆损耗，单位为dB；

G_LC2——网络分析仪与信号调理箱之间的线缆损耗，单位为dB；

G_{SC_1}——信道模拟器与1V端口相对应的静态信道增益，单位为dB；

G_R——暗室内基础损耗，单位为dB；

G_S——信号调理箱测量结果，单位为dB；

(4)计算可得出，1V端口的相对稳定的无源器件的损耗为：

PN₁＝PL₁-PM₁

(5)重复步骤(1)-(4)，分别测量计算信道模拟器与信号调理箱的N端口路径损耗PM_n,(1≤n≤N)；则N端口的无源器件的损耗为：

PN_n＝PL_n-PM_n

(6)待下次需要校准时，只进行有源校准测得新的PM_n，即可得到整个系统的各个路径损耗PL_n；

PL_n＝PM_n+PN_n

(7)比较所有信道模拟器输出端口的路径损耗PL_n(1≤n≤N)，将其中的最大值作系统路径损耗值。对于其它损耗较小的通道，在对应的信道模拟器输出口内部加入合适的内部衰减，使得各个通道的路径损耗都等于系统路径损耗值。

在信号调理箱和MIMO OTA校准软件的支持下，在整个工作频段内的校准无需任何手动设置，不需要每次都在暗室内布置校准场景，可以快速完成全频段的测量、补偿。对测试人员工作效率有很大提高，也不需要长期配备校准用参考测量天线，减少了校准测试的成本。

需要说明的是，本发明实施例中的二级快速校准机制具有以下几个关键点：

(1)二级快速校准机制。首次校准使用标准的校准方式获得系统路径数据，之后每次针对有源器件进行二级快速校准并进行补偿。

(2)第二级校准的方法步骤，以及该方法在MIMO OTA多探头校准方法中的应用。

(3)信号调理箱以及设计架构，信号调理箱采用中科国技设计研发的专用GPIB控制面板，配备固态开关，通过指令控制，可以实现多元化测试路径切换。完全满足二级快速校准中路径的切换需要。

(4)二级快速校准路径损耗的测量、计算，以及其软件实现。例如路径损耗PL_n需要计算出的无源器件的损耗PN_n和第二级校准测得的路径损耗PM_n，则PL_n＝PM_n+PN_n

还需要说明的是，本发明实施例的二级快速校准机制能够实现以下有益技术效果：

二级快速校准机制显著提升了校准速度。整个校准过程分为两步进行，整个系统的校准以及系统内有源器件的校准。针对系统有源器件进行的校准不涉及暗室内基础系统，在信号调理箱的支持下，二级快速校准的优点是不需要每次都在暗室内布置校准场景，高效的校准模式，采用全自动的校准方案，无需任何手动设置，日常校准仅需要数分钟完成。

二级快速校准帮助实验室节约校准天线的投入。使用二级快速校准，实验室不用配备动辄几十万的全套校准天线，降低了实验室投入成本。信号调理箱采用高精度，高性能，长寿命的优质元器件，机箱采用优质合金材料和精密的加工工艺，保证了信号调理箱的整体质量。

使用该技术，确保系统的短期准确度与长期准确度。系统校准补偿系统路径误差，信号调理修正系统短期漂移误差。消除有源器件因温度漂移等器件特性引入的系统不确定度，提高测试精度。同时，使用有源校准可快速定位链路问题，协助排查系统故障。

分别使用标准型的校准与优化型的二级快速校准后，对设备进行吞吐量的测试，如图7所示。对比可发现设备测试结果接近，可见系统的性能未出现明显的下降。

在实际应用场景中，标准校准流程的操作步骤如下：

1.打开MIMO OTA软件，选中校准按钮，如图8所示；

2.点击进入校准界面，分别设置网络分析仪参数、校准参数，如图9和图10所示；

3.设置好参数以后，需要在暗室内连接标准校准天线；

4.连接好后把天线固定在转台上，使水平方向的激光面经过天线的中心位置；

5.固定好后，封闭暗室，在MIMO OTA软件中点击开始按键，开始校准流程，如图11所示；

6.校准过程如图12所示；

7.竖直方向上的八组数据测试完成后，软件会弹出如图13所示的弹窗；

8.这时，先不要操作软件，我们要打开暗室，将天线换成水平放置；

9.固定在转台上后，封闭暗室，点击弹窗上的“OK”按钮，如图14所示；

10.软件就会自动测试水平方向上的八组数据，等软件测完16组数据后，弹出如图15的弹窗；

11.点击“OK”按钮，出现如图16和图17所示的弹窗，提示测试完成，点击“OK”按钮，数据保存，至此，一级校准全部完成。

二级快速校准的操作步骤如下：

1.打开MIMO OTA软件，选中校准按钮，如图18所示；

2.在MIMO OTA软件中，选择有源校准，导入标准型校准保存的数据，如图19所示；

3.点击开始按键，开始校准流程，如图20所示；

4.软件就会自动后台进行计算数据，校准过程如图21所示；

5.出现如图22所示的弹窗，提示测试完成，点击“OK”按钮，数据保存，如图23所示，至此，二级快速校准全部完成。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。