技术总结
本发明公开了一种多探头法测试系统及其校准方法和装置。其中，该校准方法包括：第一校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第一校准，其中，第一校准针对多探头法测试系统中的有源部分和无源部分进行校准；第二校准步骤，用于对多探头法测试系统进行第二校准，其中，第二校准针对多探头法测试系统中的有源部分进行校准；在每次使用多探头法测试系统之前，进行第二校准步骤；并且，距离进行上一次第一校准步骤达到预定条件的情况下，再次进行第一校准步骤。本发明解决了相关技术对MIMO OTA测试系统进行校准的效率较低的技术问题。
技术研发人员：马玉娟;李雨翔;张志华
受保护的技术使用者：北京中科国技信息系统有限公司
文档号码：201610862582
技术研发日：2016.09.28
技术公布日：2017.02.15