技术编号:11275225
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及雷达检测领域,具体涉及一种检测方法。背景技术光学扫描测距装置是一种使用准直光束,通过飞行时间(TimeofFlight,简称为TOF)等方法进行非接触式扫描测距的设备。目前,通常的光学扫描测距装置包括:光发射模块、光学镜头、接收并处理信号的芯片、电机、轴承及导电滑环。光发射模块发出光束,光学镜头位于光发射模块的光路上,经过准直的光束发射到被测物体表面,遇到障碍物后光束被反射到接收芯片上,接收芯片通过测量发射到接收之间的时间、相位差、已知光速,即可求出被测物体到装置的距离。目前广泛应用于...
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