技术编号:11412643
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。半导体装置以及测量设备本申请是下述申请的分案申请:发明名称:半导体装置以及测量设备,申请日:2013年4月26日,申请号:201310150076.8。技术领域本发明涉及半导体装置以及测量设备。背景技术近年来,在对累计电量进行测量的电度表等的测量设备中,按时间段来测量累计电量的需要增长。伴随于此,有以通过在测量设备的内部设置振荡器和集成电路来构成半导体装置而能够测量功率和时间的方式设计的测量设备。此外,有如下电路装置,即,在引线框的上表面装载有集成电路(IC芯片),用接合线(bondingwir...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。