技术编号：11515685
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。：本发明涉及光学腔技术领域，具体涉及一种液体介质低温环境下光学特性测量光学腔。背景技术：目前，光谱仪只能测量常温下液体介质的光学特性，而考虑介质光学特性的影响因素时，温度影响是不可忽略的关键因素。光谱仪光学腔空间狭小，要对液体介质进行低温条件下的光学特性测量，若是通过冰箱、冰柜等冷却后移至到光学腔内再测量，由于待测液体量少，再加上移动过程中的热损失，很难达到实验设定的梯度温度值，使得测量结果存在较大误差。基于液体介质低温环境下光学特性检测技术现状，需要开发一种可实现液体低温环境光学特性参数测量的...
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