技术编号：11517901
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示装置技术领域，尤其涉及一种测试阵列基板对合精度的方法及阵列基板。背景技术TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)的阵列基板的制造过程中，需要制作很多不同的膜层。不同膜层之间的对合精度是工艺管控的关键参数，因此需要在制作过程中对于膜层的位置、不同膜层的对合精度进行测试，测试结果的准确与否对于膜层的制作质量至关重要。现有技术中对于膜层位置、不同膜层的对合精度的测试仍然存在一些不足，需要提供更加准确的测试方法。发明内容鉴于现有技术中的上述问题，本发明的目的在于提供一种测试阵列基板对合精度的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。