技术编号：11618548
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及无损检测领域，具体涉及一种X射线无损检测器。背景技术工业上利用X光检测的原理是：X射线通过物质被吸收时，可使组成物质的分子分解成为正负离子，称为电离作用，离子的多少和物质吸收的X射线量成正比。通过空气或其它物质产生电离作用，利用仪表测量电离的程度就可以计算X射线的量。由成像器转换成数字信号，再通过计算机辅助软件还原成图像以后进行判图、标注、储存等。目前的X射线检测设备中，在光源下对待检测工件进行定位时，一般是通过移动待检测工件进行左右前后上下移动来实现，如果待检测工件过大，则移动不便，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。