一种X射线无损检测器的制作方法

本发明涉及无损检测领域，具体涉及一种x射线无损检测器。

背景技术：

工业上利用x光检测的原理是：x射线通过物质被吸收时，可使组成物质的分子分解成为正负离子，称为电离作用，离子的多少和物质吸收的x射线量成正比。通过空气或其它物质产生电离作用，利用仪表测量电离的程度就可以计算x射线的量。由成像器转换成数字信号，再通过计算机辅助软件还原成图像以后进行判图、标注、储存等。

目前的x射线检测设备中，在光源下对待检测工件进行定位时，一般是通过移动待检测工件进行左右前后上下移动来实现，如果待检测工件过大，则移动不便，而且在xyz三个方向的移动只能是先后进行，无法同时完成，造成定位时间较长，效率低下。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本发明的目的在于提供一种x射线无损检测器，以解决现有技术存在的不能进行三维成像、不能观看剖面视图、不能定位几何图像所在位置、适用行业存在局限性、只适应同质工件等问题。本发明提供一种x射线无损检测器，在对待检测工件进行定位时，可以通过移动光源进行定位，并且可以迅速进行上下移动，检测效率较高。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种x射线无损检测器，包括右侧检测器保护片、左侧检测器保护片、后侧检测器保护片、顶部检测器保护片和检测器前挡板。

进一步地，所述顶部检测器保护片下方安装有检测器安装板，所述检测器安装板下方安装有检测器。

进一步地，所述后侧检测器保护片上安装有滑轨，所述滑轨连接滑轨安装板。

进一步地，所述滑轨安装板上安装有外部固定块和转轴机构。

进一步地，所述外部固定块和转轴机构由滑动轴连接。

进一步地，所述后侧检测器保护片上开有升降槽；所述升降板上开有升降板孔槽。

由上分析，本发明可视需求选择二维或三维成像，精确查找并定位缺陷、瑕疵点的几何位置，影像研判更精准、直观；可以大幅提高x射线设备工件适应能力；可以改变x射线设备适用行业局限性。

附图说明

图1和图2为本发明的结构示意图；

其中：1-右侧检测器保护片，2-左侧检测器保护片，3-后侧检测器保护片，4-顶部检测器保护片，5-检测器前挡板，6-检测器安装板，7-检测器，8-外部固定块，9-滑动轴，10-转轴机构，11-升降板，12-升降板孔槽，13-滑轨安装板，14-升降槽,15-滑轨。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步详细说明。

如图1和图2所示，一种x射线无损检测器，包括右侧检测器保护片1、左侧检测器保护片2、后侧检测器保护片3、顶部检测器保护片4和检测器前挡板5。

所述顶部检测器保护片4下方安装有检测器安装板6，所述检测器安装板6下方安装有检测器7。

所述后侧检测器保护片3上安装有滑轨15，所述滑轨15连接滑轨安装板13。

所述滑轨安装板13上安装有外部固定块8和转轴机构10。

所述外部固定块8和转轴机构10由滑动轴9连接，用以上下移动来检测不同大小形状的产品。

所述后侧检测器保护片3上开有升降槽14；所述升降板11上开有升降板孔槽12。

综上所述，本发明可以适应大部分不同形状和材质的工件，有效避免因新工件形状、材质等因素的变化，无需另行购置新设备。影像剖视图可以精准查找缺陷、瑕疵，降低工件修复成本，屏蔽房单边开口进出工件车，减少设备长度，节省占地面积。

由技术常识可知，本发明可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。因此，上述公开的实施方案，就各方面而言，都只是举例说明，并不是仅有的，所有在本发明范围内或在等同于本发明的范围内的改变均被本发明包含。

技术特征：

技术总结
本发明公布了一种X射线无损检测器，以解决现有技术存在的不能进行三维成像、不能观看剖面视图、不能定位几何图像所在位置、适用行业存在局限性、只适应同质工件等问题。本发明提供一种X射线无损检测器，在对待检测工件进行定位时，可以通过移动光源进行定位，并且可以迅速进行上下移动，检测效率较高；该X射线无损检测器包括右侧检测器保护片、左侧检测器保护片、后侧检测器保护片、顶部检测器保护片和检测器前挡板；所述检测器安装板下方安装有检测器；所述后侧检测器保护片上安装有滑轨，所述滑轨连接滑轨安装板；应大部分不同形状和材质的工件，有效避免因新工件形状、材质等因素的变化，无需另行购置新设备。

技术研发人员：孙洋
受保护的技术使用者：苏州科耐视智能科技有限公司
技术研发日：2017.05.11
技术公布日：2017.08.04