技术编号：11675563
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及应变局部化带测量技术领域，具体涉及一种应变局部化带宽度及间距的统一光学测量方法。背景技术应变局部化是在材料破坏之前应变集中于狭窄的带状区域的现象。应变局部化出现在宏观裂纹之前，是材料重要的破坏前兆之一。通过研究应变局部化的发生、发展规律以及定量测量应变局部化的特征有助于深刻认识材料的破坏机理，亦可为有关的解析及数值模型提供必要的基础参数，或用于检验这些模型的正确性。目前，应变局部化带的宽度及间距的测量方法尚不完善，例如，采用尺子或数字图像技术测量肉眼可见的裂纹面之间的间距，以此作为应变...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。