技术编号：11854993
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于碳化硅检验技术领域，具体涉及一种碳化硅品质检验装置。背景技术当碳化硅表面不够光滑时，在观测过程中会造成漫反射，对观察碳化硅内部结构造成了干扰。另一方面，过亮的光照强度往往对肉眼造成晕眩感而影响对碳化硅的观测，而过低的光照强度则无法对细小结构进行观测，所以光照强度调整得不合适，难以达到理想的观测效果。同时，由于碳化硅成色复杂，所承载的技术也需进行提高，而目前对于碳化硅品质检验，由于受其表面环境的影响，图像采集无法获得比较稳定或可以代表整体效果的数据，致使此方面质量检测一直没有一种较为...
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