技术编号：11914037
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于减小反射损失的阻抗匹配器件及具有其的测试系统本专利申请要求于2015年11月11日在韩国知识产权局提交的第10-2015-0158172号韩国专利申请的优先权，通过引用将该韩国专利申请的全部内容包含于此。技术领域在这里描述的发明构思的一些示例实施例涉及一种阻抗匹配器件，更具体地讲，涉及一种被构造为减小当为了测试半导体装置而分离接收的数字信号时发生的反射损失的阻抗匹配器件。背景技术通常来说，在测试半导体装置时，一件自动测试设备(ATE)连接到多个半导体装置，并执行测试操作以提高测试效率并减少测...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。