技术编号：12061665
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电子技术领域，尤其涉及一种多通道AD信号的幅度差、相位差检测方法。背景技术现在测试多通道AD信号的幅度差、相位差，采用的是模拟器件IC芯片（例AD8302）进行检测各路的幅度、相位，在进行相减处理得到的。采用模拟器件进行多通道幅相检测时，器件内部有混频器，由于I、Q两路的乘法器与低通滤波器一致性不好，引起幅相不平衡，或者温度会引起漂移问题。由于器件本身存在功耗，会造成整机功耗增大，体积增大，同时由于器件的AD采集路数有限，不利于在满足高集成度、低功耗要求下设计。发明内容本发明的目的在于...
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