技术编号：12064124
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及基因组学及生物信息学技术，尤其涉及一种基因变异成因分析方法及系统。背景技术随着测序成本的下降，使得在全基因组水平研究结构变异变得可能。在全基因水平识别结构变异，有助于揭示癌症的遗传学因素与致病机理，同时也加快了精准医疗的步伐。双末端测序的广泛应用使得在全基因组水平检测结构变异及形成机制变得更加灵敏，这是因为双末端测序数据不仅有读片信息，而且还包含了插入距离信息。针对双末端测序数据，目前对于结构变异的识别主要有四种方法：覆盖率分析方法，基于双末端映射的方法，拆分测序片段对映射以及序列拼接...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。