技术编号:12112779
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元器件生产技术领域,特别是涉及一种AOI测试参数的调整方法和装置。背景技术AOI(AutomaticOpticInspection,自动光学检测),是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。其通过利用普通光线和激光扫描被检测设备得到被检测设备的图像,将被检测设备的图像与标准图像进行比较,检测被检测设备是否有加工缺陷,例如,是否偏孔,导线缺少等。然而在生产过程中,各种元器件种类繁多,比如,同型号的电容,其包装文字位置会有些许差异。因此,在检测时,需要针对不同的元器件调...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。