AOI的测试参数的调整方法和装置与流程

本发明涉及电子元器件生产技术领域，特别是涉及一种AOI测试参数的调整方法和装置。

背景技术：

AOI(Automatic Optic Inspection，自动光学检测)，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。其通过利用普通光线和激光扫描被检测设备得到被检测设备的图像，将被检测设备的图像与标准图像进行比较，检测被检测设备是否有加工缺陷，例如，是否偏孔，导线缺少等。

然而在生产过程中，各种元器件种类繁多，比如，同型号的电容，其包装文字位置会有些许差异。因此，在检测时，需要针对不同的元器件调整其测试参数。传统的AOI测试参数的调整，需要暂停当前的测试进程，退出测试程序，从测试界面切换到用于编辑测试参数的调节界面。这种方式影响了测试进程，导致测试效率低。

技术实现要素：

基于此，有必要提供一种效率高的AOI测试参数的调整方法和装置。

一种AOI测试参数的调整方法，包括：

在显示界面显示被检测设备的AOI测试结果，标记出所检测到的问题器件；

检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令；

若是，则根据所述参数调整指令在所述显示界面上同时显示与所述问题器件对应的参数设置表；

获取在所述参数设置表内输入的测试参数，并更新所述问题器件的测试参数。

在一个实施例中，在所述更新所述问题器件的测试参数的步骤之后，还包括：

根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

在一个实施例中，在所述检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令的步骤之前，还包括：

预先设置被检测设备的每一器件的参数设置表，建立被检测设备、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。

在一个实施例中，在所述检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令的步骤之前，还包括：

预先设置参数调整指令并保存。

在一个实施例中，所述参数设置表悬浮显示在所述显示界面上。

一种AOI测试参数的调整装置，包括：

标记模块，用于在显示界面显示被检测设备的AOI测试结果，标记出所检测到的问题器件；

检测模块，用于检测是否获取到对其中一个所述问题器件的参数调整指令；

参数处理模块，用于在检测模块的检测结果为是时，根据所述参数调整指令在显示界面上同时显示与所述问题器件对应的参数设置表；

更新模块，用于获取在所述参数设置表内输入的测试参数，并更新所述问题器件的测试参数。

在一个实施例中，还包括：

测试模块，用于根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

在一个实施例中，还包括：

设置模块，用于设置预先设置被检测设备的每一器件的参数设置表，建立被检测设备、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。

在一个实施例中，还包括：

存储模块，用于设置参数调整指令并保存。

在一个实施例中，所述参数处理模块将所述参数设置表悬浮显示在所述显示界面上。上述的AOI测试参数的调整方法，在显示界面上显示AOI测试结果，获取对问题器件的参数调整指令，在显示界面上同时显示与所述问题器件对应的参数设置表，获取在所述参数设置表内输入的测试参数，并更新所述问题器件的测试参数。该方法通过触发参数调整指令，在显示测试结果的同时显示对应的参数设置表，用户通过参数设置表即可实现对测试参数的调整，无需退出测试程序进行界面的切换操作，能够提高AOI测试参数的调整效率，进而提高AOI测试的效率。

附图说明

图1为一个实施例的AOI测试参数的调整方法的流程图；

图2为另一个实施例的AOI测试参数的调整方法的流程图；

图3为一个实施例的AOI测试参数的调整装置的结构示意图；

图4为另一个实施例的AOI测试参数的调整装置的结构示意图。

具体实施方式

在一个实施例中，提供一种AOI测试参数的调整方法，该方法运行在AOI测试设备上，如图1所示，该方法包括以下步骤：

S102：在显示界面显示被检测设备的AOI测试结果，标记出所检测到的问题器件。

被检测设备，如机顶盒板的PCB(Printed Circuit Board)板，在达到AOI检测工位后，在AOI设备内进行检测，并在显示界面上显示AOI测试结果。相关的工作人员通过显示设备查看AOI测试结果。测试结果包括检测出的被检测PCB上报错的问题器件，例如，PCB上的电容或二极管等。

测试结果包括问题器件、报错原因和位置等。若相关工作人员通过查看测试结果认为该器件是由于测试参数错误而导致的误报错，可对该问题器件触发参数调整指令。

S104：检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令。若是，则执行步骤S106。

在一个具体的实施方式中，相关工作人员可通过将鼠标移动至问题器件的对应位置，左键双击、右键单击或使用键盘通过快捷键触发参数调整指令。

S106：根据参数调整指令在显示界面上同时显示与问题器件对应的参数设置表。

在获取到参数调整指令后，在显示界面显示AOI测试结果的同时，还显示与问题器件对应的参数设置表。在一个具体的实施方式中，可以将参数设置表悬浮显示在显示界面上。悬浮显示的具体方法可通过DIV(层叠样式表单元的位置和层次)技术实现，设置显示界面的各显示元素对应的DIV层。本实施例中，包括测试结果层和参数设置表层，通过设置两层的层级关系和属性实现将参数设置表悬浮显示在测试结果上，实现参数设置表和测试结果同时显示。

S108：获取在参数设置表内输入的测试参数，并更新问题器件的测试参数。

相关工作人员通过参数设置表输入问题器件对应的测试数量。获取到输入的测试参数后，更新问题器件的测试参数。

上述的AOI测试参数的调整方法，在显示被检测设备的AOI测试结果的显示界面中，获取对问题器件的参数调整指令，在显示界面上同时显示与问题器件对应的参数设置表，获取在参数设置表内输入的测试参数，并更新问题器件的测试参数。该方法通过触发参数调整指令，在显示测试结果的同时显示对应的参数设置表，用户通过参数设置表即可实现对测试参数的调整，无需退出测试程序进行界面的切换操作，能够提高AOI测试参数的调整效率，进而提高AOI测试的效率。

应当理解的是，在步骤S106，当检测到光标不在参数设置表的对应位置时，隐藏该参数设置表。在完成测试参数的调整之后，相关工作人员通过移动鼠标，将光标移动至参数设置表外，可避免参数设置表遮挡测试界面。

在另一个实施例中，如图2所示，在步骤S108之后，还包括：

S110：根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

在更新问题器件的测试参数后，根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

由于无需退出测试程序即可进行AOI测试参数的调整，因而，在更新测试参数后，可根据更新的测试参数进行测试，从而提高了AOI测试的效率。

在步骤S110之后，返回步骤S104，在显示被检测设备的AOI测试结果的显示界面中，检测是否获取到对其中一个问题器件的参数调整指令。根据测试结果，若相关工作人员仍需对问题器件的测试参数进行调节，可继续触发对问题器件的参数调整指令，当检测获取到对其中一个问题器件的参数调整指令时，执行后续步骤。若未检测到参数调整指令，则对下一个设备进行检测。

在另一个实施例中，在步骤S104之前，还包括：

预先设置被检测设备的每一器件的参数设置表，建立被检测设备、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。

工作人员在对某一型号的板卡进行检测前，通过AOI设备进行制板，在制板的过程中对AOI设备扫描被检测设备，由工作人员标示每一器件的位置，并设置每一器件的参数设置表，建立被检测设备、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。在具体的实施方式中，以被检测设备的型号为关键字，建立被检测设备的型号、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。参数设置表中包括参数名称和对应的属性。例如，参数名称包括位置、颜色、极性等。测试参数的调整具体是对参数设置表中参数名称的属性的属性值进行调整。参数设置表中包括的参数名称根据器件的不同而不同。在进行AOI测试时，使用被检测设备的型号，查找并调用与被检测设备的型号对应的参数设置表。

在另一个实施例中，在步骤S104之前，还包括：

预先设置参数调整指令并保存。

应当理解的是，步骤S104中获取到的参数调整指令与预先存储的参数调整指令相同。

上述的AOI测试参数的调整方法，在AOI测试的过程中，无需退出当前的测试程序，将测试界面切换至参数调整界面，通过在显示界面触发参数调整指令，使参数设置表显示在显示界面，通过修改参数设置表即可实现AOI测试参数的调整，能有效地提高AOI测试的效率。

在一个实施例中，提供一种AOI测试参数的调整装置，如图3所示，包括：

标记模块302，用于在显示界面显示被检测设备的AOI测试结果，标记出所检测到的问题器件。

被检测设备，如机顶盒板的PCB(Printed Circuit Board)板，在达到AOI检测工位后，在AOI设备内进行检测，并在显示界面上显示AOI测试结果。相关的工作人员通过显示设备查看AOI测试结果。测试结果包括检测出的被检测PCB上报错的问题器件，例如，PCB上的电容或二极管等。

测试结果包括问题器件、报错原因和位置等。若相关工作人员通过查看测试结果认为该器件是由于测试参数错误而导致的误报错，可对该问题器件触发参数调整指令。

检测模块304，用于检测是否获取到对其中一个所述问题器件的参数调整指令。

在一个具体的实施方式中，相关工作人员可通过将鼠标移动至问题器件的对应位置，左键双击、右键单击或使用键盘通过快捷键触发参数调整指令。

参数处理模块306，用于在检测模块304的检测结果为是时，根据参数调整指令在显示界面上同时显示与问题器件对应的参数设置表。

在获取到参数调整指令后，在显示界面显示AOI测试结果的同时，还显示与问题器件对应的参数设置表。在一个具体的实施方式中，可以将参数设置表悬浮显示在显示界面上。悬浮显示的具体方法可通过DIV(层叠样式表单元的位置和层次)技术实现，设置显示界面的各显示元素对应的DIV层。本实施例中，包括测试结果层和参数设置表层，通过设置两层的层级关系和属性实现将参数设置表悬浮显示在测试结果上，实现参数设置表和测试结果同时显示。

更新模块308，用于获取在参数设置表内输入的测试参数，并更新问题器件的测试参数。

相关工作人员通过参数设置表输入问题器件对应的测试数量。获取到输入的测试参数后，更新问题器件的测试参数。

上述的AOI测试参数的调整装置，在显示被检测设备的AOI测试结果的显示界面中，获取对问题器件的参数调整指令，在显示界面上同时显示与问题器件对应的参数设置表，获取在参数设置表内输入的测试参数，并更新问题器件的测试参数。该装置通过触发参数调整指令，在显示测试结果的同时显示对应的参数设置表，用户通过参数设置表即可实现对测试参数的调整，无需退出测试程序进行界面的切换操作，能够提高AOI测试参数的调整效率，进而提高AOI测试的效率。

应当理解的是，参数处理模块306，当检测到光标不在参数设置表的对应位置时，隐藏该参数设置表。在完成测试参数的调整之后，相关工作人员通过移动鼠标，将光标移动至参数设置表外，可避免参数设置表遮挡测试界面。

在另一个实施例中，如图4所示，AOI测试参数的调整装置还包括：

测试模块310，用于根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

在更新问题器件的测试参数后，根据更新的测试参数进行AOI测试，并输出AOI测试结果至显示界面。

由于无需退出测试程序即可进行AOI测试参数的调整，因而，在更新测试参数后，可根据更新的测试参数进行测试，从而提高了AOI测试的效率。

根据测试结果，若相关工作人员仍需对问题器件的测试参数进行调节，可继续触发对问题器件的参数调整指令，当检测获取到对其中一个问题器件的参数调整指令时，执行后续步骤。若未检测到参数调整指令，则结束AOI测试。

在另一个实施例中，AOI测试参数的调整装置，还包括：

设置模块312，用于设置预先设置被检测设备的每一器件的参数设置表，建立被检测设备、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。

应当理解的是，工作人员在对某一型号的板卡进行检测前，通过AOI设备进行制板，在制板的过程中对AOI设备扫描被检测设备，由工作人员标示每一器件的位置，并设置每一器件的参数设置表，建立被检测设备、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。在具体的实施方式中，以被检测设备的型号为关键字，建立被检测设备的型号、被检测设备的每一器件以及参数设置表的对应关系。参数设置表中包括参数名称和对应的属性。例如，参数名称包括位置、颜色、极性等。测试参数的调整具体是对参数设置表中参数名称的属性的属性值进行调整。参数设置表中包括的参数名称根据器件的不同而不同。在进行AOI测试时，使用被检测设备的型号，查找并调用与被检测设备的型号对应的参数设置表。

在另一个实施例中，AOI测试参数的调整装置，还包括：

存储模块314，用于设置参数调整指令并保存。

应当理解的是，检测模块304中获取到的参数调整指令与预先存储的参数调整指令相同。

上述的AOI测试参数的调整装置，在AOI测试的过程中，无需退出当前的测试程序，将测试界面切换至参数调整界面，通过在显示界面触发参数调整指令，使参数设置表显示在显示界面，通过修改参数设置表即可实现AOI测试参数的调整，能有效地提高AOI测试的效率。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。