技术编号:12117835
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光纤特性测定装置,特别是涉及基于因作为被测定对象的光纤内的布里渊散射(Brillouinscattering)所产生的后方散射光而对光纤的特性进行测定的光纤特性测定装置。本申请主张于2015年9月7日申请的日本专利申请第2015-175901号的优先权,并在此引用其内容。背景技术通过使光入射至作为光传输介质之一的光纤中而产生的布里渊散射根据施加于该光纤的形变、光纤的温度而变化。已知下述方法,即,对因该布里渊散射而引起的光的频移量进行测定,由此对光纤的长度方向上的形变分布、温度分布进...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。