光纤特性测定装置的制作方法

本发明涉及一种光纤特性测定装置，特别是涉及基于因作为被测定对象的光纤内的布里渊散射(Brillouin scattering)所产生的后方散射光而对光纤的特性进行测定的光纤特性测定装置。

本申请主张于2015年9月7日申请的日本专利申请第2015-175901号的优先权，并在此引用其内容。

背景技术：

通过使光入射至作为光传输介质之一的光纤中而产生的布里渊散射根据施加于该光纤的形变、光纤的温度而变化。已知下述方法，即，对因该布里渊散射而引起的光的频移量进行测定，由此对光纤的长度方向上的形变分布、温度分布进行测定。例如，使光纤环绕桥梁、大厦等构造物并基于上述方法而确定该光纤的形变部位，由此能够检测到在这些构造物所产生的形变。作为这种测定方法，已知所谓的BOTDR(Brillouin Optical Time Domain Reflectometry)方式以及BOCDR(Brillouin Optical Correlation Domain Reflectometry)方式等。

如日本专利第3095694号公报所记载，BOTDR方式的测定方法是对通过从被测定光纤的一端使光脉冲入射而获得的布里渊散射光进行检测，并对布里渊散射光相对于入射光的频移量(下面，称为布里渊频移量)以及直至布里渊散射光返回为止的时间进行测定。该布里渊散射光是因速度依赖于被测定光纤的形变、温度而变化的声波而散射的后方散射光。通过对上述的布里渊频移量进行测定，能够对被测定光纤的形变的大小、温度进行测定，并且，通过对直至布里渊散射光返回为止的时间进行测定，能够确定被测定光纤的长度方向上的位置。

在上述BOTDR方式的测定方法中，为了提高空间分辨率，需要使从被测定光纤的一端入射的光脉冲的脉冲宽度缩窄。然而，在使光脉冲的脉冲宽度缩窄的情况下，有时在被测定光纤内所产生的后方散射光的信号强度降低而使得信噪比(下面，称为SNR)变差。有时为了改善变差的SNR而需要增加对后方散射光的积分处理，且测定需要时间。

另一方面，BOCDR方式的测定方法是对通过从被测定光纤的一端使频率调制后的作为连续光的泵浦光入射所获得的布里渊散射光进行检测而对布里渊频移量进行测定。如日本专利第5105302号公报以及水野洋辅、何祖源、保立和夫、“偏波スクランブリングを用いたブリルアン光相関領域リフレクトメトリによる歪分布全長測定の稳定化”、电子信息通信学会2009年综合大会、C-3-88、爱媛大学、2009年3月17日～20日所记载，在该BOCDR方式的测定方法中，使布里渊散射光与参照光干涉，由此选择性地提取被测定光纤中的被称为相关峰的特定位置处的布里渊散射光。例如，在使实施了正弦波频率调制后的连续光入射至被测定光纤内的情况下，被测定光纤内的相关峰的间隔与正弦波频率调制的调制频率成反比例。因此，通过在被测定光纤内将连续光的调制频率调整为仅残留一个相关峰，能够仅提取出在与该峰相对应的位置所产生的散射光，并且，通过对连续光的调制频率进行扫频，能够使相关峰沿被测定光纤的长度方向移动。通过使相关峰移动且求出各相关峰点处的布里渊频移量，能够对被测定光纤的长度方向上的形变分布、温度分布进行测定。

上述BOCDR方式的测定方法，能够将被测定光纤中的几cm左右的狭窄区域中的布里渊散射光作为与被测定光纤的长度方向上的特定位置相对应的干涉输出而选择性地输出，因此能够实现比上述BOTDR方式的测定方法高出2个数量级左右的空间分辨率。另外，并非使光脉冲而是使连续光入射至被测定光纤，因此在被测定光纤内所产生的后方散射光的信号强度高，测定变得容易。另外，无需如BOTDR方式的测定方法中的对后方散射光的积分处理，因此能够缩短测定时间。

在BOCDR方式的测定方法中，使在被测定光纤内所产生的后方散射光与光源部所输出的参照光干涉，因此干涉后的信号强度取决于两种光的偏振状态。现有技术中，为了获得稳定的干涉信号，在参照光的光路、后方散射光的光路以及泵浦光的光路的至少1个光路设置使偏振面快速旋转的偏振扰偏器(PSCR:Polarization Scrambler)而减轻偏振依赖性。

偏振扰偏器是使偏振状态快速(MHz程度的频率)地变化，并使偏振状态的影响实现平均化的设备。例如，通过将该偏振扰偏器设置于参照光的光路，使得观测到的布里渊增益光谱(BGS:Brillouin Gain Spectrum)不依赖参照光与后方散射光的相对的偏振状态。通过使偏振扰偏器的动作速度比后方散射光的采样速度快几十倍，能够实现偏振状态的平均化。然而，偏振扰偏器的动作速度存在极限，因此如果后方散射光的采样速度加快，则平均化的效果弱化，测定数据中出现依赖偏振状态的不需要的变动。

作为用于减轻偏振依赖性的其他方法，已知下述方法，即，分别进行在任意的偏振面的测定、以及在相对于该偏振面旋转90°后的偏振面的测定，求出这些测定值的平方和的平方根、即求出矢量和，由此将偏振的影响除去。通过使用该方法，能够获得与偏振扰偏器同样的效果。然而，需要对偏振面进行切换而进行2次测定，因此与仅进行1次测定的情况相比，测定时间变为2倍。在偏振面的变化慢、且后方散射光的采样速度慢的情况下，即使一边对偏振面进行切换一边进行2次测定，偏振状态也大致相同，因此通过求出2个测定值的平方和的平方根而能够将偏振的影响去除。然而，在如光纤进行快速振动等而使得偏振面快速旋转的情况下，偏振状态会在两次测定之间改变，因此即使求出2个测定值的平方和的平方根也无法将偏振的影响去除。

技术实现要素：

本发明的一个方式提供一种光纤特性测定装置，其在BOCDR方式的测定方法中能够缩短测定时间。

本发明的一个方式的光纤特性测定装置可以具备：光源部，其将频率调制后的连续光输出；光分支部，其使所述连续光分支为泵浦光和参照光；导光部，其使所述泵浦光从被测定光纤的一端入射；第1分离部，其将通过所述被测定光纤内的所述泵浦光的布里渊散射而产生的后方散射光分离为作为某直线偏光(下面称为p偏光)的第1散射光、以及作为与所述偏光正交的直线偏光(下面称为s偏光)的第2散射光；第2分离部，其将所述参照光分离为作为p偏光的第1参照光、以及作为s偏光的第2参照光；第1干涉部，其使所述第1散射光与所述第1参照光干涉而获得第1差拍分量；第2干涉部，其使所述第2散射光与所述第2参照光干涉而获得第2差拍分量；以及运算部，其基于所述第1差拍分量和所述第2差拍分量而对所述被测定光纤的特性进行测定。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述运算部可以具备：第1分析部，其对基于在所述被测定光纤内的第1位置所产生的布里渊散射光的所述第1差拍分量的第1频谱进行测定；第2分析部，其对基于在所述第1位置所产生的布里渊散射光的所述第2差拍分量的第2频谱进行测定；合成部，其对所述第1频谱和所述第2频谱进行合成而生成合成频谱；以及测定部，其基于所述合成频谱而对所述第1位置处的所述被测定光纤的特性进行测定。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述合成部可以通过一边改变频率一边进行下述处理而生成所述合成频谱，该处理是将对所述第1频谱的频率分量进行平方所得的第1分量强度、和对所述第2频谱的同一频率分量进行平方所得的第2分量强度相加。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述运算部可以还具备控制部，该控制部对所述第1分析部以及第2分析部的执行和停止进行控制。在所述被测定光纤内存在多个后方散射光与所述参照光的频率差不随时间而变动的点(相关峰点)的情况下，所述控制部可以对所述第1分析部的执行和停止进行控制，以使得以对与所述多个相关峰中的、基于在成为观测对象的位置(第1位置)所产生的布里渊散射光的所述相关峰相关的所述第1差拍分量的第1频谱进行测定，并对所述第2分析部的执行和停止进行控制，以使得对与基于在所述第1位置所产生的布里渊散射光的所述相关峰相关的所述第2差拍分量的第2频谱进行测定。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述运算部可以具备：振荡部，其将规定的频率信号输出；第1调整部，其利用所述规定的频率信号而使所述第1差拍分量的频带下降至预先规定的频带；第2调整部，其利用所述规定的频率信号而使所述第2差拍分量的频带下降至预先规定的频带；第1变换部，其将从所述第1调整部输入的所述第1差拍分量变换为第1功率频谱；第2变换部，其将从所述第2调整部输入的所述第2差拍分量变换为第2功率频谱；以及测定部，其基于所述第1功率频谱以及所述第2功率频谱而对所述被测定光纤的特性进行测定。

上述一个方式的光纤特性测定装置可以还具备第3调整部，该第3调整部使所述泵浦光以及所述参照光中的任一者的频带下降至预先规定的频带。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述运算部可以具备：第1变换部，其将所述第1差拍分量变换为第1功率频谱；第2变换部，其将所述第2差拍分量变换为第2功率频谱；以及测定部，其基于所述第1功率频谱以及所述第2功率频谱而对所述被测定光纤的特性进行测定。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述第1变换部可以对所述第1差拍分量进行快速傅里叶变换而求出所述第1功率频谱。所述第2变换部可以对所述第2差拍分量进行快速傅里叶变换而求出所述第2功率频谱。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述第1分离部以及第2分离部分别为偏振分束器。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述第1干涉部可以将所述第1差拍分量分离为规定的比例的2个分量，所述第2干涉部可以将所述第2差拍分量分离为规定的比例的2个分量。

上述一个方式的光纤特性测定装置可以还具备：第1光电变换部，其将利用所述第1干涉部而分离出的2个分量中的一个分量变换为电信号；第2光电变换部，其将利用所述第1干涉部而分离出的2个分量中的另一个分量变换为电信号；第3光电变换部，其将利用所述第2干涉部而分离出的2个分量中的一个分量变换为电信号；以及第4光电变换部，其将利用所述第2干涉部而分离出的2个分量中的另一个分量变换为电信号。

上述一个方式的光纤特性测定装置可以还具备：第1放大部，其将从所述第1光电变换部以及第2光电变换部输入的所述电信号放大并输出至所述运算部；以及第2放大部，其将从所述第3光电变换部以及第4光电变换部输入的所述电信号放大并输出至所述运算部。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述运算部可以对所述被测定光纤的长度方向上的形变分布进行测定。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述运算部可以对所述被测定光纤的长度方向上的温度分布进行测定。

在上述一个方式的光纤特性测定装置中，所述运算部可以还具备局部振荡部，该局部振荡部将规定频率的信号供给至所述第1分析部以及第2分析部。

发明效果

本发明的一个方式的光纤特性测定装置在BOCDR方式的测定方法中从光源部所输出的1束连续光中获取与p偏振波相关的第1差拍分量、和与s偏振波相关的第2差拍分量并对它们进行合成，基于该合成频谱而对被测定光纤的特性进行测定，因此能够在较短的测定时间内获得不依赖于偏振状态的测定结果。

附图说明

图1是表示本发明的第1实施方式的光纤特性测定装置的概略结构的框图。

图2是表示本发明的第1实施方式的光纤特性测定装置所具备的运算部的概略结构的框图。

图3是表示本发明的第1实施方式的、光纤特性测定装置的处理流程的一个例子的流程图。

图4是表示本发明的第2实施方式的光纤特性测定装置所具备的运算部的概略结构的框图。

图5是表示本发明的第3实施方式的光纤特性测定装置所具备的运算部的概略结构的框图。

图6是表示本发明的第4实施方式的光纤特性测定装置的概略结构的框图。

图7是表示本发明的第4实施方式的光纤特性测定装置所具备的运算部的概略结构的框图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明所涉及的测定装置的一个实施方式进行说明。

(第1实施方式)

图1是表示本发明的第1实施方式的光纤特性测定装置的概略结构的框图。如图1所示，本第1实施方式的光纤特性测定装置1例如具备光源部10、光分支部20、导光部30、光定向耦合部40、光连接器50、第1光分离部60、光延迟部70、第2光分离部80、第1干涉部90、第2干涉部100、第1光电变换部110、第2光电变换部120、第3光电变换部130、第4光电变换部140、第1放大部150、第2放大部160、运算部170以及显示部180。

光源部10将频率调制后的连续光输出。光源部10例如具备半导体激光器(未图示)、以及信号发生器(未图示)。半导体激光器例如使用分布反馈式激光二极管。信号发生器将使得从半导体激光器输出的激光连续光例如形成为以正弦波状进行频率调制后的连续光的调制信号注入至半导体激光器。作为调制信号，例如使用使交流电流与直流电流重叠的信号。

光分支部20使从光源部10输入的连续光分支为适当的强度比(例如1比1)的2种光。在2种光中，一种光是向被测定光纤F入射的泵浦光。该泵浦光从导光部30以及光定向耦合部40通过并入射至被测定光纤F的一端。在2种光中，另一种光是进行光外差探测的情况下的参照光。该参照光入射至光延迟部70。

导光部30使利用光分支部20分支出的泵浦光经由光定向耦合部40而入射至被测定光纤F。该导光部30例如可以具备用于将泵浦光放大的光放大器等。

光定向耦合部40使入射至入射端口的泵浦光从出射/入射端口射出，并且使经由光连接器50而入射至出射/入射端口的来自被测定光纤F的返回光(后方散射光)从出射端口射出。光定向耦合部40例如使用光循环器等。

对于通过使泵浦光入射至被测定光纤F而获得的后方散射光，第1光分离部60使其分离为作为p偏光的第1散射光、以及作为s偏光的第2散射光。第1光分离部60例如使用偏振分束器等。后方散射光的偏光状态因被测定光纤F的、应时的状态而不稳定，因此向第1光分离部60的入射角度也不稳定。

光延迟部70包含规定长度的光纤。光延迟部70对泵浦光与参照光之间设定规定的延迟时间。通过对光纤的长度进行变更，能够任意地调整延迟时间。

对于从光延迟部70通过的参照光，第2光分离部80使其分离为作为p偏光的第1参照光、以及作为s偏光的第2参照光。第2光分离部80例如使用偏振分束器。在第2光分离部80是将2个直角棱镜贴合而成的棱镜式的偏振分束器的情况下，第2光分离部80配置为使得参照光的偏振面相对于2个直角棱镜的接合面以45°的入射角入射。

第1干涉部90使从第1光分离部60输入的作为p偏光的第1散射光、与从第2光分离部80输入的作为p偏光的第1参照光相互干涉。详细而言，第1干涉部90使第1散射光与第1参照光汇合，获得与p偏光分量相关的差拍(beat)分量，并使它们以规定的比例(例如1比1)分离为2个分量。第1干涉部90例如使用非偏振分束器。

第2干涉部100使从第1光分离部60输入的作为s偏光的第2散射光、与从第2光分离部80输入的作为s偏光的第2参照光相互干涉。详细而言，第2干涉部100使第2散射光与第2参照光汇合，获得与s偏光分量相关的差拍分量，并使它们以规定的比例(例如1比1)而分离为2个分量。第2干涉部100例如使用非偏振分束器。

第1光电变换部110以及第2光电变换部120将利用第1干涉部90而生成的与p偏光相关的2个差拍分量分别变换为电信号。另外，第3光电变换部130以及第4光电变换部140将利用第2干涉部100生成的与s偏光相关的2个差拍分量分别变换为电信号。

第1放大部150将从第1光电变换部110以及第2光电变换部120输入的电信号放大并输出至运算部170。另外，第2放大部160将从第3光电变换部130以及第4光电变换部140输入的电信号放大并输出至运算部170。

运算部170对从第1放大部150以及第2放大部160输入的电信号进行运算，对被测定光纤F的特性进行测定。例如，运算部170对被测定光纤F的长度方向上的形变分布、温度分布等进行测定。后文中对运算部170进行叙述。

显示部180对利用运算部170测定出的被测定光纤F的特性以可视化的方式进行显示。显示部180例如使用显示器。

图2是表示第1实施方式的光纤特性测定装置1所具备的运算部170的概略结构的框图。运算部170例如具备第1分析部171-1、第2分析部171-2、局部振荡部172、合成部173以及测定部174。

第1分析部171-1利用从第1放大部150输入的电信号，生成基于在被测定光纤F内的特定位置(第1位置)所产生的布里渊散射光的与p偏光分量相关的差拍分量(第1差拍分量)的第1频谱。第2分析部171-2利用从第2放大部160输入的电信号，生成基于在被测定光纤F内的某特定位置(第1位置)所产生的布里渊散射光的与s偏光分量相关的差拍分量(第2差拍分量)的第2频谱。

局部振荡部172将规定频率的信号供给至第1分析部171-1以及第2分析部171-2。第1分析部171-1利用从局部振荡部172供给的信号使第1差拍分量的频带下降至预先规定的频带并求出其频谱。例如，第1分析部171-1进行使第1差拍分量的频率从10.8GHz左右下降至30MHz左右并求出其频谱(第1频谱)的处理。同样地，第2分析部171-2利用从局部振荡部172供给的信号，使第2差拍分量的频带下降至预先规定的频带并求出其频谱。例如，第2分析部171-2进行使第2差拍分量的频率从10.8GHz左右下降至30MHz左右并求出其频谱(第2频谱)的处理。这里，为了使说明简单，对利用第1分析部171-1以及第2分析部171-2和局部振荡部172进行使频率变换的处理进行说明，但为了杂散特性的改善等而采用分几段利用分析部和局部振荡部的结构。第1分析部171-1以及第2分析部171-2、局部振荡部172例如使用同步后的两台频谱分析仪(ESA:Electrical Spectrum Analyzer)。

合成部173对从第1分析部171-1输入的第1频谱、和从第2分析部171-2输入的第2频谱进行合成而生成合成频谱。测定部174基于从合成部173输入的合成频谱而对被测定光纤F内的特定位置(第1位置)的被测定光纤的特性进行测定，并将测定结果输出至显示部180。

下面，对第1实施方式的光纤特性测定装置1的动作进行说明。图3是表示第1实施方式的、光纤特性测定装置1的处理流程的一个例子的流程图。

光源部10将频率调制后的连续光输出至光分支部20(步骤S101)。光源部10例如将以正弦波状进行频率调制后的连续光输出至光分支部20。

然后，光分支部20使从光源部10输入的连续光分支为泵浦光以及参照光(步骤S102)。光分支部20将泵浦光输出至导光部30，将参照光输出至光延迟部70。

然后，导光部30使泵浦光经由光定向耦合部40而入射至被测定光纤F(步骤S103)。如果频率调制后的泵浦光入射至被测定光纤F，则在被测定光纤F内产生布里渊散射。这里，因布里渊散射而产生的后方散射光受到速度依赖于被测定光纤F的形变、温度而变化的声波的影响，其频率发生偏移。在光源部10的波长约为1.55μm且将通用的通信用单模光纤用作被测定光纤F的情况下，来自被测定光纤F的后方散射光的频率相对于入射至被测定光纤F的连续光的频率偏移10.8GHz左右。该布里渊频移量根据施加于被测定光纤F的形变、温度而变动。

然后，光定向耦合部40从被测定光纤F接受后方散射光并将其输出至第1光分离部60(步骤S104)。然后，第1光分离部60将从光定向耦合部40输入的后方散射光分离为作为p偏光的第1散射光、以及作为s偏光的第2散射光(步骤S105)。

与上述的步骤S103至S105并行地、或者在步骤S103至S105之前或之后，将从光延迟部70通过的参照光输出至第2光分离部80(步骤S106)。然后，第2光分离部80将参照光分离为作为p偏光的第1参照光、以及作为s偏光的第2参照光(步骤S107)。在第2光分离部80是将2个直角棱镜贴合而成的棱镜式的偏振分束器的情况下，第2光分离部80配置为使得参照光的偏振面相对于2个直角棱镜的接合面以45°的入射角入射。

然后，第1干涉部90使从第1光分离部60输入的作为p偏光的第1散射光、与从第2光分离部80输入的作为p偏光的第1参照光相互干涉(步骤S108)。详细而言，第1干涉部90使第1散射光与第1参照光汇合，生成与p偏光分量相关的差拍分量，并使它们以规定的比例分离为2个分量。

然后，第1光电变换部110以及第2光电变换部120将利用第1干涉部90生成的与p偏光相关的2个差拍分量分别变换为电信号(步骤S109)。然后，第1放大部150将从第1光电变换部110以及第2光电变换部120输入的电信号放大并输出至运算部170(步骤S110)。

与上述的步骤S108至S110并行地、或者在步骤S108至S110之前或之后，第2干涉部100使从第1光分离部60输入的作为s偏光的第2散射光、与从第2光分离部80输入的作为s偏光的第2参照光相互干涉(步骤S111)。详细而言，第2干涉部100使第2散射光与第2参照光汇合，生成与s偏光分量相关的差拍分量，并使它们以规定的比例分离为2个分量。然后，第3光电变换部130以及第4光电变换部140将利用第2干涉部100生成的与s偏光相关的2个差拍分量分别变换为电信号(步骤S112)。然后，第2放大部160将从第3光电变换部130以及第4光电变换部140输入的电信号放大并输出至运算部170(步骤S113)。

然后，运算部170对从第1放大部150以及第2放大部160输入的电信号进行运算，对被测定光纤F的特性进行测定(步骤S114)。详细而言，设置于运算部170的第1分析部171-1利用从第1放大部150输入的电信号，对基于在被测定光纤F内的特定位置(第1位置)所产生的布里渊散射光的与p偏光分量相关的差拍分量(第1差拍分量)的第1频谱进行测定。另外，设置于运算部170的第2分析部171-2利用从第2放大部160输入的电信号，对基于在被测定光纤F内的某位置(第1位置)所产生的布里渊散射光的与s偏光分量相关的差拍分量(第2差拍分量)的第2频谱进行测定。这里，局部振荡部172将规定频率的信号供给至第1分析部171-1以及第2分析部171-2。第1分析部171-1利用从该局部振荡部172供给的信号，使第1差拍分量的频带下降至预先规定的频带并求出其频谱(第1频谱)。另外，第2分析部171-2利用从该局部振荡部172供给的信号，使第2差拍分量的频带下降至预先规定的频带并求出其频谱(第2频谱)。然后，合成部173对从第1分析部171-1输入的第1频谱、与从第2分析部171-2输入的第2频谱进行合成而生成合成频谱。

下面对合成部173的处理进行说明。合成部173一边改变频率fx一边进行下述处理而生成合成频谱，该处理是将对第1频谱的分量(频率fx)进行平方所得的第1分量强度(相当于功率)、与对第2频谱的分量(频率fx)进行平方所得的第2分量强度(相当于功率)相加。并且，通过对光源部10所输出的连续光的频率进行调节，能够使成为被测定光纤F的长度方向上的测定对象的位置移动。因此，通过对连续光的频率进行扫频，能够对被测定光纤F的长度方向上的特性、例如形变分布等进行测定。

根据以上说明的第1实施方式的光纤特性测定装置1，根据从光源部10输出的1种连续光而获得与p偏振波相关的第1频谱的分量、以及与s偏振波相关的第2频谱的分量，并且，一边改变频率fx一边进行下述处理而生成合成频谱、并基于该合成频谱而对被测定光纤的特性进行测定，该处理是将对第1频谱的分量(频率fx)进行平方所得的第1分量强度(相当于功率)、与对第2频谱的分量(频率fx)进行平方所得的第2分量强度(相当于功率)相加。因此，能够在较短的测定时间内获得不依赖于偏振状态的测定结果。另外，局部振荡部172由第1分析部171-1和第2分析部171-2共用，因此能够减小硬件的规模，另外，能够使第1分析部171-1与第2分析部171-2之间的频率误差消失。

(第2实施方式)

下面，对本发明的第2实施方式进行说明。第2实施方式的光纤特性测定装置与第1实施方式相比，运算部170的结构不同。因此，在对第2实施方式的说明中，关于与上述第1实施方式相同的部分，将其说明省略或简化。

图4是表示本发明的第2实施方式的光纤特性测定装置所具备的运算部的概略结构的框图。

为了观测被测定光纤F内的某特定的1个位置的特性，必须形成为在被测定光纤F内仅存在一个相关峰这种状态。为此，需要使光源部10所输出的连续光的调制频率下降，使相关峰的间隔大于被测定光纤的长度而扩大测定范围。然而，扩大测定范围会导致空间分辨率的下降。为了防止空间分辨率的下降而需要增大连续光的调制振幅，但该调制振幅的大小存在限度，因此在被测定光纤具有某种程度的长度的情况下，特性的测定由于较高的空间分辨率而变得困难。因此，在现有技术的测定装置中，将电气开关(时间获取单元)与对被测定光纤的特性进行测定的频谱分析仪连接，利用该电气开关对将测定数据输出至频谱分析仪的定时(timing)进行控制。

与此相对，在本发明的第2实施方式的光纤特性测定装置中，将对第1分析部171-1以及第2分析部171-2的执行和停止进行控制的控制部175设置于运算部170，从而即使在被测定光纤F具有某种程度的长度的情况下也能够进行特性的测定。

控制部175对第1分析部171-1以及第2分析部171-2的执行和停止进行控制。在被测定光纤F内存在多个相关峰的情况下，控制部175对第1分析部171-1以及第2分析部171-2的执行和停止进行控制，以使得第1分析部171-1以及第2分析部171-2生成仅与多个相关峰中的、基于在成为被测定光纤F的测定对象的位置所产生的布里渊散射的相关峰相关的频谱。

根据以上说明的第2实施方式的光纤特性测定装置，通过设置控制部175而无需现有技术中的电气开关(时间获取单元)，能够降低成本、改善插入损失。

(第3实施方式)

下面，对本发明的第3实施方式进行说明。第3实施方式的光纤特性测定装置与第1实施方式相比，运算部170的结构不同。因此，在对第3实施方式的说明中，关于与上述第1实施方式相同的部分，将其说明省略或简化。

图5是表示本发明的第3实施方式的光纤特性测定装置所具备的运算部的概略结构的框图。取代第1实施方式中的第1分析部171-1、第2分析部171-2以及合成部173，第3实施方式中的运算部170具备第1调整部176-1、第2调整部176-2、第1变换部177-1以及第2变换部177-2。

第1调整部176-1利用从局部振荡部172输入的规定的频率信号而使第1差拍分量的频带下降至预先规定的频带。第2调整部176-2利用从局部振荡部172输入的规定的频率信号而使第2差拍分量的频带降低至预先规定的频带。后方散射光以及参照光为超过10GHz的高频，因此在第1变换部177-1以及第2变换部177-2中进行变换处理之前，需要向容易处理的频率进行频率变换。第1调整部176-1以及第2调整部176-2例如使用电动混频器。

第1变换部177-1将从第1调整部176-1输入的第1差拍分量变换为第1功率频谱。第2变换部177-2将从第2调整部176-2输入的第2差拍分量变换为第2功率频谱。第1变换部177-1以及第2变换部177-2例如进行快速傅里叶变换(FFT:Fast Fourier Transform)。测定部174利用从第1变换部177-1输入的第1功率频谱、以及从第2变换部177-2输入的第2功率频谱，对被测定光纤F的长度方向上的特性、例如形变分布等进行测定。

根据以上说明的第3实施方式的光纤特性测定装置，利用第1调整部176-1、第2调整部176-2、第1变换部177-1以及第2变换部177-2，能够在较短的测定时间内获得不依赖于后方散射光以及参照光的偏振状态的测定结果(被测定光纤F的长度方向上的特性数据)。

(第4实施方式)

下面，对本发明的第4实施方式进行说明。第4实施方式的光纤特性测定装置与第1实施方式相比，在光分支部20与导光部30之间设置有第3调整部190这一点以及运算部170的结构不同。因此，在对第4实施方式的说明中，关于与上述第1实施方式相同的部分，将其说明省略或简化。

图6是表示本发明的第4实施方式的光纤特性测定装置的概略结构的框图。图7是表示本发明的第4实施方式的光纤特性测定装置所具备的运算部的概略结构的框图。

第3调整部190将从光分支部20输入的泵浦光的频率提高或者降低为预先规定的频率。第3调整部190例如使用移频器。另外，第3调整部190可以设置于光分支部20与第2光分离部80之间以提高或者降低参照光的频率。

第4实施方式的光纤特性测定装置的运算部例如具备第1变换部177-1、第2变换部177-2以及测定部174。第1变换部177-1将通过使频率变换后的泵浦光入射至被测定光纤F而获得的后方散射光以及参照光的与p偏振波相关的第1差拍分量变换为第1功率频谱。第2变换部177-2将通过使频率变换后的泵浦光入射至被测定光纤F而获得的后方散射光以及参照光的与s偏振波相关的第2差拍分量变换为第2功率频谱。第1变换部177-1以及第2变换部177-2例如进行快速傅里叶变换。测定部174利用从第1变换部177-1输入的第1功率频谱、以及从第2变换部177-2输入的第2功率频谱，对被测定光纤F的长度方向上的特性、例如形变分布等进行测定。

根据以上说明的第4实施方式的光纤特性测定装置，利用第3调整部190、第1变换部177-1以及第2变换部177-2，能够在较短的测定时间内获得不依赖于后方散射光以及参照光的偏振状态的测定结果(被测定光纤F的长度方向上的特性数据)。

以上参照附图对本发明的优选实施方式进行了说明，但本发明当然不限定于上述实施方式。上述实施方式中示出的各结构部件的各种形状、组合等是一个例子，在不脱离本发明的主旨的范围内能够基于设计要求等而实现各种变更。例如，将光延迟部70作为处于光分支部20与第2光分离部80之间的部件而进行了说明，但光延迟部70也能够置于光分支部20与导光部30之间。