技术编号:12265008
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于一种测量校验装置,具体涉及一种阶梯孔深度测量装置。背景技术目前,在批量检测过程中,阶梯孔深度通常采用卡尺测量,卡尺需频繁锁紧,取出读数,所用工时较长;并且当阶梯孔的阶梯面为斜面时,卡尺不易卡到斜面的最低处,难以保证检验结果的准确性。因此,目前阶梯孔的深度测量尤其是带斜面阶梯孔深度的测量还面临需要多次读数、不易测量斜面最低处、批量检测效率低下、检测质量难以避免人为误差等诸多问题。发明内容本发明为解决现有技术存在的问题而提出,其目的是提供一种阶梯孔深度测量装置。本发明的技术方案是:一种阶梯...
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